Zetium
卓越的元素分析
X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求最严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和创新功能居于市场领先地位，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。
凭借我们多年的丰富经验以及利用具有广泛分析功能的 X 射线产品组合取得的成功，Zetium 推动材料分析的发展迈出了革命性的一步。 该平台包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF、EDXRF 和 XRD 的集成。 这种独特的功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有独一无二的分析能力、速度和任务灵活性。
Zetium 配备了我们最新版本的 SuperQ 软件（包括 Virtual Analyst），可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块，例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。
针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版：水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。 顶级版配置可在任何行业内满足最严苛的要求。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案；从连接样品制备装置的简单接口，到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。
基本创新
连续开发、不断改进的客户体验
将 SumXcore 技术（WDXRF、EDXRF 与 XRD 的集成）所带来的符合科学原理的优势驱动型创新融合到 Zetium 平台中，带来顶级的灵活性、高性能和多功能性，并且不断推动在 XRF 领域取得革命性的发展。
基本情报
基本支持
基本技术
Zetium 是成就令人瞩目的 WDXRF 光谱仪（包括 Axios、MagiX 和 PW2400）中的新一代产品。 传承下来的成熟技术经过优化和发展，为 Zetium 平台打下了坚实的基础。
增强的分析性能
- 从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度
- 一系列 X 射线光管阳极材料（铑、铬、钼和金）可确保发挥特定应用性能
- 用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器
- 用于扩大的重元素动态范围（线性高达 3.5 Mcps）的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析
- 可使用 THETA 核依次执行游离氧化钙和 XRF 分析
出色的用户体验
- Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件
- 整套应用程序设置模块和软件解决方案
- 使用 Omnian 执行行业领先的无标 XRF 分析，对未知材料进行分析，或者在没有标准的情况下进行分析
- 多元素微小区域分析
- 可编程的面罩，适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm
最大化样品处理量
- SumXcore 技术 - 利用 ED core（能谱核）将测量时间缩短多达 50%
- 从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度
- Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量
- 连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间
- 高容量进样器台（最多 209 位）可满足高处理量应用需求
- 进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入
可靠性
- 除尘设备可尽量减少污染，并能够最大化仪器的正常运行时间
- 用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层
- 样品类型识别（固体和液体）
- 条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入
仪器的拥有成本低
- 节省空间的紧凑型设计
- 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中，或对液体分析实现低氦气消耗
- 便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和最短的停机时间
- 专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重
- 可节省成本的成套解决方案
用于特定行业的定制解决方案
Zetium 顶级版
它提供了 Zetium 系列中的最高级配置，可在任何应用中提供无与伦比的分析性能。Zetium 水泥版
它提供了元素和游离氧化钙分析，可实现出色的工艺控制。Zetium 金属版
它使用相应的应用解决方案进行预配置，以满足金属行业的特定分析需求。Zetium 石化版
它经过预校准，可满足石化行业的监管机构要求。Zetium 聚合物版
其设计可针对生产过程中的样品提供可靠的元素分析，从而支持实现产品一致性。Zetium 矿物版
Zetium 矿物版的设计适合在从矿石到尾矿的采矿流程所有阶段中进行材料分析。标准（参考材料）
ADPOL
通过 XRF 对功能性聚合物添加剂进行准确的元素分析WROXI
准确且宽范围的矿物氧化物分析NiFeCO
特别适用于分析高温钢和超合金LAS
使用马尔文帕纳科的 XRF 光谱仪进行低合金钢分析RoHS
对 RoHS 所限制材料进行准确的元素分析TOXEL
XRF 对聚合物和塑料中的有毒元素进行的准确分析熔片硼酸片
轻松完成校准！CRM
Claisse 随时准备满足您的需求！Cu-base-FP
对 Cu 金属的准确元素分析CEMOXI
XRF 实现的准确的水泥氧化物分析助熔剂和化学品
模具和坩埚
软件
Super Q
SuperQ 软件操作简单，它允许管理员和日常操作员访问 Zetium 和 CubiX 光谱仪。
Omnian
当不存在专用方法或认证标准时，Omnian 软件可帮助用户实现尽可能好的分析。
增强的数据安全性
保护您的数据并满足监管机构要求。Oil-Trace
Oil-Trace 是一套软件包，其中包含了一套允许用户使用 WDXRF 和 EDXRF 对液体执行准确和可靠的元素分析的标准。Pro-Trace
Pro-Trace 适合用于计算痕量元素分析中的净强度以及在总基体未知时进行准确的基体校正。
Stratos
该软件为涂层、表层和多层结构的分析提供了一种快速、简单且无损的方法。系统增强软件包
- 以任务为导向的性能增强
- 高样品处理量 – 提升进样器容量，并将仪器进样时间减至最短
- 针对有粉尘的样品和液体溢漏提供保护
- 利用条形码阅读器实现无差错的样品进样
- 可变样品类型处理，包括微小区域分析
SumXcore
带 Virtual Analyst 的 SuperQ 6
- 发挥 Zetium 平台的强大功能
- 以任务为导向的流程让工作变得简单而直观
- 先进的基体校正优化确保提高从金属到聚合物的数据准确性
- Virtual Analyst – 充分利用数十年的专家技术知识。
利用映射的微小区域分析
- 特别适用于材料研究和生产流程故障排除
- 分析时间更短
- 紧密耦合光路确保高灵敏度
- 使用 ED core（能谱核）在每个区域执行快速、同步的多元素分析
- 500 µm 区域大小 (FWHM)，100 µm 步长
- 定量、定性和无标 Omnian 分析
- 简单的样品制备