基本创新

连续开发、不断改进的客户体验

将 SumXcore 技术(WDXRF、EDXRF 与 XRD 的集成)所带来的符合科学原理的优势驱动型创新融合到 Zetium 平台中,带来顶级的灵活性、高性能和多功能性,并且不断推动在 XRF 领域取得革命性的发展。

基本创新

基本情报

先进的分析硬件需要先进的分析软件和专业知识
我们知名的 SuperQ 软件实现了重大进步,带来了全新的技术组合和分析功能。 以 Virtual Analyst 为例,它优化了用户在设置和操作系统方面的体验。
基本情报

基本支持

无论在何处,都能获得信息透明且可靠的支持
 
从服务到专业知识,从培训到实验室分析,可为用户提供全方位支持。 通过遍布全球的资深工程师网络,加上行业规模最大的应用科学家群体,马尔文帕纳科随时准备好帮助您满足分析需求。 
基本支持

基本技术

60 年的经验和传承 - 完美的起点
Zetium 是成就令人瞩目的 WDXRF 光谱仪(包括 Axios、MagiX 和 PW2400)中的新一代产品。 传承下来的成熟技术经过优化和发展,为 Zetium 平台打下了坚实的基础。
基本技术

增强的分析性能

  • 从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度
  • 一系列 X 射线光管阳极材料(铑、铬、钼和金)可确保发挥特定应用性能
  • 用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器
  • 用于扩大的重元素动态范围(线性高达 3.5 Mcps)的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析
  • 可使用 THETA 核依次执行游离氧化钙和 XRF 分析

出色的用户体验

  • Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件
  • 整套应用程序设置模块和软件解决方案
  • 使用 Omnian 执行行业领先的无标 XRF 分析,对未知材料进行分析,或者在没有标准的情况下进行分析
  • 多元素微小区域分析
  • 可编程的面罩,适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm

最大化样品处理量

  • SumXcore 技术 - 利用 ED core(能谱核)将测量时间缩短多达 50%
  • 从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度
  • Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量
  • 连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间
  • 高容量进样器台(最多 209 位)可满足高处理量应用需求
  • 进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入

可靠性

  • 除尘设备可尽量减少污染,并能够最大化仪器的正常运行时间
  • 用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层
  • 样品类型识别(固体和液体)
  • 条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入

 仪器的拥有成本低

  • 节省空间的紧凑型设计 
  • 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中,或对液体分析实现低氦气消耗
  • 便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和最短的停机时间
  • 专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重
  • 可节省成本的成套解决方案

用于特定行业的定制解决方案

Zetium XRF 光谱仪行业版附带了专用的专业模板以及适合特定行业的硬件和软件配置。 这些行业版本的设计能够实现快速试运行和校准,它们配备了专有的、高质量的且可追踪的应用设置模块,其中包含了设置标准和样品制备说明。 还包含了用于传统行业应用并符合国际规范的定制应用模块。 采用了此方法的行业包括水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。 顶级版配置可在任何行业内满足最严苛的要求。

系统增强软件包

Zetium 平台的模块化设计允许对配置进行自定义以满足最严苛的要求。
 
  •     以任务为导向的性能增强
  •     高样品处理量 – 提升进样器容量,并将仪器进样时间减至最短
  •     针对有粉尘的样品和液体溢漏提供保护
  •     利用条形码阅读器实现无差错的样品进样
  •     可变样品类型处理,包括微小区域分析
系统增强软件包

SumXcore

ED core(能谱核)
Zetium 平台包含了 SumXcore 技术,它是 WDXRF、EDXRF 和 XRD 的集成。 这种独特的功能组合使其拥有独一无二的分析能力、速度和任务灵活性。
 
结合 WD/ED XRF 的优点
通过同步 SumXcore 测量实现最高的任务灵活性,并且提高性能
可将测量时间大幅缩短多达 50%,或者提高精度
高分辨率 SDD 探测器以及可变信号衰减确保实现最佳性能灵活性
从钠到镅的元素分析,涵盖从 ppm 到 100% 的浓度范围
跟踪有可能影响工艺元素分析的预期外元素,并且不会延长测量时间
利用每次测量的两个独立结果来增强您的 QA/QC 程序,并提高对质量的信心
SumXcore

带 Virtual Analyst 的 SuperQ 6

Virtual Analyst 可从许多来源(例如标准成分、实际测量值和用户数据目标)收集信息,以用于计算系统响应、对其进行设置并完善方法。
 
  • 发挥 Zetium 平台的强大功能
  • 以任务为导向的流程让工作变得简单而直观
  • 先进的基体校正优化确保提高从金属到聚合物的数据准确性 
  • Virtual Analyst – 充分利用数十年的专家技术知识。
带 Virtual Analyst 的 SuperQ 6

利用映射的微小区域分析

利用元素分布映射进行微小区域分析是一种理想的工具,适用于材料研究和生产流程故障排除。 不再受研究设施的限制,您现在可以在任何需要的地方使用此方法。
 
  • 特别适用于材料研究和生产流程故障排除
  • 分析时间更短
  • 紧密耦合光路确保高灵敏度
  • 使用 ED core(能谱核)在每个区域执行快速、同步的多元素分析
  • 500 µm 区域大小 (FWHM),100 µm 步长
  • 定量、定性和无标 Omnian 分析
  • 简单的样品制备
利用映射的微小区域分析