X 射线荧光 (XRF) 光谱测定是一种无损式分析技术，可用于获取不同类型材料的元素信息。 它已在许多行业和应用领域中得到广泛运用，包括：水泥生产、玻璃生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、石油和石化、聚合物及相关行业、制药、保健产品和环保。 光谱仪系统通常分为两大类：波长色散式系统 (WDXRF) 和能量色散式系统 (EDXRF)。 两者之间的区别在于检测系统。
在所有光谱仪的基本概念中，都包含一个辐射源、一个样品和一个检测系统。 在 WDXRF 光谱仪中，X 射线光管用作直接照射样品的光源，并且使用波长色散式检测系统来测量样品发出的荧光。 分光晶体根据波长（而不是能量）来分离 X 射线，可用于识别每种不同元素发出的特征辐射。 此类分析可以通过逐一（依次）测量不同波长的 X 射线强度来完成，或者在固定位置同时测量所有不同波长的 X 射线强度。
