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商标列表最后更新日期：2025 年 3 月 20 日
| 商标 | 状态 |
|---|---|
| 1DER | ® |
| AERIS | ® |
| AERIS PANALYTICAL | ™
|
| ASD | ™
|
| (ASD Inc) 徽标 | ® |
| AMASS | ® |
| AMPLIFY ANALYTICS | ® |
| AMPLIFY ANALYTICS（+ 徽标） | ® |
| Archimedes 系统 | ® |
| AXIOS | ® |
| CHI-BLUE | ® |
| CLAISSE | ® |
| Claisse（+ 徽标） | ® |
| CREOPTIX | ® |
| CUBIX | ® |
| CubiX3 | ® |
| dCore | ™ |
| EAGON | ® |
| Eagon 2 | ™
|
| EasySAXS | ® |
| EMPYREAN | ® |
| EPSILON | ® |
| EPSILON Xflow | ® |
| ExpertSAXS | ® |
| FIELDSPEC | ® |
| FIPA | ™ |
| FLUOR’X | ® |
| FORJ | ™
|
| GaliPIX3D | ® |
| Gemini | ™ |
| goLab | ™ |
| HandHeld 2 | ™ |
| HighScore | ® |
| Hydrosight | ™ |
| iCore | ™ |
| Indico Pro | ™ |
| INSITEC | ® |
| （Insitec 徽标） | ® |
| （Insitec Measurement Systems 徽标） | ® |
| ISYS | ® |
| LabSizer | ™ |
| LABSPEC | ® |
| LeNeo | ® |
| LeDoser | ™ |
| LeDoser-12 | ™ |
| M3 PALS | ™ |
| M4 | ™ |
| 多角度动态光散射 (MADLS) | ® |
| MALVERN | ® |
| （三角状山形徽标 + Malvern Instruments 字样） | ® |
| 马尔文（Malvern 的中文名称） | ® |
| MALVERN INSTRUMENTS | ® |
| 马尔文仪器（Malvern Instruments 的中文名称） | ™
|
| Malvern Link | ™ |
| （Malvern Plus Hills 徽标） | ® |
| MALVERN PANALYTICAL | ® |
| 马尔文帕纳科（ALVERN PANALYTICAL 的中文名称） | ® |
| マルバーン·パナリティカル（MALVERN PANALYTICAL 的片假名名称） | ® |
| 말번 파날리티칼（MALVERN PANALYTICAL 的韩文名称） | ® |
| MALVERN PANALYTICAL（+ X 徽标） | ® |
| MASTERSIZER | ® |
| Mastersizer 2000 | ™ |
| MC（风格化） | ™
|
| MDRS | ® |
| MICROCAL | ® |
| MORPHOLOGI | ® |
| （三角状山形徽标） | ® |
| NanoSight 纳米颗粒跟踪分析仪 | ® |
| NIBS. | ™ |
| Oil-Trace | ® |
| Omnian | ® |
| OmniSEC | ® |
| OmniTrust | ® |
| PANALYTICAL | ® |
| 帕纳科（PANALYTICAL 的中文名称） | ® |
| パナリティカル（PANALYTICAL 的片假名名称） | ® |
| PANalytical AERIS | ® |
| PANalytical + 徽标 | ® |
| PANTOS | ™
|
| PEAQ-ITC | ® |
| PIXcel | ® |
| PIXcel1D | ® |
| PIXcel3D | ® |
| PIXIRAD | ® |
| QUALITYSPEC | ® |
| REVONTIUM
| ® |
| SMART RETURN
| ™ |
| Spraytec 喷雾粒度仪 | ™ |
| SST | ® |
| SST-mAX | ® |
| SUPER SHARP TUBE | ® |
| Stratos | ® |
| SuperQ | ® |
| SyNIRgi | ™ |
| TERRASPEC | ® |
| TheOx | ® |
| Ultrasizer | ™ |
| VENUS MINILAB | ™
|
| ViewSpec | ™ |
| Viscogel | ™ |
| VISCOTEK | ® |
| Viscotek SEC-MALS | ™ |
| WAVEchip | ® |
| WAVEcore | ® |
| waveRAPID
| ® |
| WE'RE BIG ON SMALL | ®
|
| （X 徽标） | ® |
| X’CELERATOR | ® |
| X'Pert3 | ® |
| ZETASIZER | ® |
| ZETIUM X 射线荧光光谱仪 | ® |
| ZS Helix | ™ |
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专利列表最后更新日期：2025 年 3 月 20 日
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| GB2494735B | 通过光散射测量粒度分布的仪器 | Mastersizer 3000、Mastersizer 3000E、Mastersizer 3000+ 系列 |
| CN104067105B (ZL201280042740.0)
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B2 | 通过光散射测量粒度分布的仪器和方法 | Mastersizer 3000、Mastersizer 3000+ Ultra |
| US10837889B2
GB2494734B | 通过光散射测量粒度分布的仪器和方法 | Mastersizer 3000、Mastersizer 3000E、Mastersizer 3000+ 系列 |
| WO2024023498A2
EP4312015A1 | 颗粒表征 | Mastersizer 3000+：Pro 和 Ultra |
| WO2024023497A1 | 数据质量 | Mastersizer 3000+：Pro 和 Ultra |
| WO2024180386A1 | 颗粒表征 | Mastersizer 3000+：Ultra |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| EP2467701B1 (CH+LI, GB, FR, DE602010067652.8)
CN102575984B (ZL201080036806.6) US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US11237106B2 | 基于动态光散射的微流变性，以改良的单散射模式检测复杂流体 | Zetasizer Advance 系列、Nano ZSP、Helix |
| CN103608671B (ZL201280027695.1)
CN105891304B (ZL201610324224.7) EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP6023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US11079420B2 | 表面电荷测量 | Zeta Plate Cell Accessory |
| US8702942B2
CN103339500B (ZL201180060863.2) EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1) JP6006231B2 JP6453285B2 US10648945B2 US11988631B2 | 利用扩散屏障的激光多普勒电泳法 | Zetasizer Advance 系列、Nano ZS、Nano S、Nano ZS90、S90、Nano ZSP |
| EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2 | 粒子的双模表征 | Zetasizer Helix |
| US10197485B2
US10520412B2 US10845287B2 US11435275B2 EP3353527B1 (GB, FR, DE602016077138.1) JP6936229B2 CN108291861B (ZL201680068213.5) JP7361079B EP4215900A1 | 颗粒表征 | Zetasizer Advance 系列纳米粒度电位仪 |
| US10119910B2 | 粒子表征仪器 | Zetasizer Advance：Ultra 和 Pro |
| US8675197B2
JP6059872B2 EP2404157B1 (GB, FR, DE602010066495.3) | 颗粒表征 | Zetasizer Advance 附件 |
| EP3521806B1 (AT, FR, GB, DE602018077164.6)
US11441991B2 CN111684261B (ZL201980011816.5) JP7320518B2 | 多角动态光散射 | Zetasizer Advance：Ultra |
| 设计：
DM/100202 (EM: D100202-0001, D100202-0002; GB: 81002020001000, 81002020002000; JP: JP1614066S; US: D878227S) CN304816039S (ZL201730635419.9) | 颗粒表征设备 | Zetasizer Advance 系列纳米粒度电位仪 |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US7871194B2
EP1869429B1 (GB, FR, DE602006060213.8) | 稀释系统和方法 | Insitec（部分产品） |
| EP2640499B1 (GB) | 在线分散器和粉末混合方法 | Insitec 干法 |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2 US8564774B2 | 光谱方式研究异质性 | Morphologi G3-ID、Morphologi 4-ID |
| GB2522735B
JP6560849B2 | 粉末分散方法和仪器 | Morphologi G3-ID、Morphologi G3、Morphologi 4、Morphologi 4-ID |
| EP3510526B1 (GB, FR, DE60217072468.8)
US11068740B2 CN109716355B (ZL201780054158.9) JP7234106B2 | 颗粒边界识别 | Morphologi 4，Morphologi 4-ID |
| US8004662B2
US8842266B2 | 药物混合物的评估 | Morphologi 4-ID |
| 设计：
DM/100537 (EM: D100 537-0001, D100 537-0002; GB: 81005370001000, 81005370002000; JP: JP1622788S, JP1623345S; US: D862261S1） CN304677453S (ZL201730616458.4) | 测量仪器 [计时仪器除外] | Morphologi 4，Morphologi 4-ID |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US11113362B2
JP6917897B2 EP3274864A1 CN107430593B (ZL201680017577.0) | 多组分模型参数化 | Viscosizer TD |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| CN104704343B (ZL201380044016.6)
EP2864760B1 (GB, FR, DE602013085354.1) US10509976B2 | 非匀质流体样品的表征 | Hydro Sight |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364B (ZL201480063550.6) | 仪器校准的改进 | NanoSight NS300、NanoSight Pro |
| WO2023148528A1
EP4476523A1 CN118984933A JP2025505204A | 颗粒分析 | NanoSight Pro |
| WO2024094987A1 | 用于颗粒表征的仪器和方法 | NanoSight Pro |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| CN101855541B (ZL200880114826.3)
EP2208057B1 (CH+LI, GB, FR, DE602008065108.8) JP05542678B2 US8449175B2 US8827549B2 | 等温滴定微量热计装置和使用方法 | MicroCal ITC 系列 |
| CN102232184B (ZL200980149081.9)
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009065333.4) | 自动等温滴定微量热计装置与使用方法 | MicroCal ITC 系列 |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8635045B2
CN103221808B (ZL201180057401.5) EP2646811B1 (GB, FR, DE 602011071793.6) IN336472 JP5925798B2 | 量热数据峰值自动查找方法 | MicroCal DSC 系列 |
| 设计：
DM/097302 (EM: D097 302; GB: 80973020001000; JP: JP1619772S, JP1643496S; US: D826739S1） CN304227374S (ZL201730043139.9) | 差示扫描微量热计 | PEAQ-DSC 系列 |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US9759644B2
US10551291B2 | 平衡毛细管桥式粘度计 | OMNISEC |
| US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4) JP5916734B2 CN103168223B (ZL201180046166.1) IN341558 | 模块化毛细管桥式粘度计 | OMNISEC |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8164747B2
CA2667650C EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6) | 用于光学和光谱测量的仪器、系统和方法 | QualitySpec 7000 |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 用于扫描单色器和二极管阵列光谱仪的装置、系统和方法 | TerraSpec Halo |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 用于扫描单色器和二极管阵列光谱仪的装置、系统和方法 | QualitySpec Trek |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) AU2010202662B2 | 熔片熔炉 | Zetium
Axios FAST Epsilon5 |
| JP4950523B2
| 修正偏差的仪器和方法
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT（晶圆分析仪）* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7949092B2
| 执行 X 射线分析的设备和方法
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT（晶圆分析仪）* Epsilon5* SEMYOS |
| US9658352B2
CN104833557B (ZL201510120748.X) JP656263B2 JP6804594B2 | 制备标样的方法 | Zetium
Axios FAST |
| EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | 通过压制方法制备样品片 | Zetium
Axios FAST |
| US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4) | 使用熔剂和铂坩埚制备用于 XRF 的样品 | Zetium
Axios FAST |
| US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4) | 定量 X 射线分析 - 基体厚度校正 | Zetium*
Axios FAST |
| US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9) | 定量 X 射线分析 - 多光路仪器 | Zetium*
Axios FAST |
| US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | 定量 X 射线分析 - 比率校正 | Zetium*
Axios FAST |
| US9239305B2 | 样品杯 | Zetium*
Axios FAST* Epsilon5 |
| US7720192B2
JP5574575B2 CN101311708B (ZL200810127759.0) | X 射线荧光设备 | Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT（晶圆分析仪）* Epsilon5* SEMYOS* |
| US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1) | 带有金属线阴极的 X 射线源 | Zetium
Axios FAST 2830 ZT（晶圆分析仪） Epsilon5 SEMYOS |
| US9911569B2
JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 射线管阳极装置
| Zetium
Axios FAST 2830 ZT（晶圆分析仪） Epsilon5 SEMYOS |
| US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587B1 (GB, FR, NL, DE602017061400.9) US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267B (ZL201711251653.7) | 用于 X 射线测量的锥形准直器 | Zetium* |
| *· 产品中的可选件/非标配件 | ||
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B (ZL201010223406.8) EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) | 熔片熔炉 | Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪 Epsilon 4 空气质量版 |
| JP4950523B2
| 修正偏差的仪器和方法
| Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪* Epsilon 4 空气质量版* |
| US7949092B2
| 执行 X 射线分析的设备和方法
| Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪* Epsilon 4 空气质量版* |
| US9658352B2
CN104833557B (ZL201510120748.X) JP6562635B2 JP6804594B2 | 制备标样的方法 | Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪 Epsilon 4 空气质量版 |
| EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | 通过压制方法制备样品片 | Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪 Epsilon 4 空气质量版 |
| US10107551B2
JP6559486B2 CN105258987B (ZL201510504763.4) EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) | 使用熔剂和铂坩埚制备用于 XRF 的样品 | Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪 Epsilon 4 空气质量版 |
| US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B (ZL201610119027.1) EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4) | 定量 X 射线分析 - 基体厚度校正 | Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪* Epsilon 4 空气质量版* |
| US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B (ZL201610121520.7) EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9) | 定量 X 射线分析 - 多光路仪器 | Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪* Epsilon 4 空气质量版* |
| US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B (ZL201610121518.X) EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | 定量 X 射线分析 - 比率校正 | Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪* Epsilon 4 空气质量版* |
| US9239305B2 | 样品杯 | Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪* Epsilon 4 空气质量版* |
| US9547094B2
CN104849295B (ZL201510155965.2) EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2 | X 射线分析设备
| Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪 Epsilon 4 空气质量版 |
| US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B (ZL200880018575.9) EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1) | 带有金属线阴极的 X 射线源 | Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪* Epsilon 4 空气质量版* |
| US9911569B2
JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 射线管阳极装置
| Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪* Epsilon 4 空气质量版* |
| US11183355B2
EP3675148A1 JP7601502B2 CN111383876B (ZL201911390180.8) | X 射线光管 | Revontium |
| EP24169034.6（尚未发布）
| 迭代计算的互补背景拟合 | Revontium |
| EP24169094.0（尚未发布）
| 样品处理仪器 | Revontium |
| * 产品中的可选件/非标配件 | ||
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| JP4950523B2
| 修正偏差的仪器和方法 | Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ 系列 |
| US9506880B2
CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2 | 衍射成像 | Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³ 系列# |
| US7858945B2
JP5254066B2 CN101521246B (ZL200910129197.8) EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3) | 成像探测器 | Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³ 系列# |
| EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2) | 成像探测器 | Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³ 系列# |
| US9110003B2
CN103383363B (ZL201310069293.4) EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2 | 微衍射
| Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD (XL)# CubiX³ 系列# |
| US9640292B2
CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2 | X 射线装置
| Empyrean
X'Pert³ Powder CubiX³ 系列 |
| US7756248B2
JP5145263B2 CN101545873B (ZL200910134609.7) EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1) | 包装应用中的 X 射线检测
| Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) |
| US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1) | X 射线衍射和计算机层析成像 | Empyrean
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 系列* |
| US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | 用于 X 射线散射的 X 射线衍射装置
| X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)* |
| US7477724B2
| X 射线仪器 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 系列 |
| US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | X 射线遮线器装置 | Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ 系列 |
| US9911569B2
JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 射线管阳极装置
| Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 系列* |
| EP3553508A2
US11035805B2 JP7398875B2 CN110389142B (ZL201910295269.X) | X 射线分析设备和方法 | Empyrean* |
| US10359376B2
EP3273229B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017069169.0) JP6701133B2 CN107643308B (ZL201710593858.7) | 用于 X 射线分析的样品杯 | Empyrean* |
| US10782252B2
CN110376231A EP3553506A2 JP7258633B2 | 通过混合控制光束发散度进行 X 射线分析的仪器和方法 | Empyrean*
|
| US10753890B2
EP3372994B1 (AT, CZ, GB, FR, NL, PL, DE602018003874.4) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2 | 高分辨率 X 射线衍射方法和仪器 | Empyrean* |
| EP3553509B1 (AT, GB, FR, NL, DE602019017362.8)
JP7208851B2 US10900912B2 CN110389143B (ZL201910300453.9) | X 射线分析设备 | Empyrean* |
| US10352881B2
EP3343209B1 (GB, FR, NL, DE602017032595.3) CN108240998B (ZL201711404282.1) JP6839645B2 | 计算机断层影像 | Empyrean* |
| US9753160B2
CN104285164B (ZL201380025271.6) EP2850458B1 (GB, FR, NL, DE602013040524.7, IT502018000029139) JP6277351B2 | 数字 X 射线传感器 | Empyrean
X'Pert³ CubiX³ 系列 |
| EP3719484B1 (AT, CZ, FR, GB, NL, PL, DE602019046393.6, IT502024000012301)
US12007343B1 CN113661389B (ZL202080027081.8) JP7503076B2 | X射线射束整形装置和方法 | Empyrean* |
| EP4111184A1
US20230296538A1 CN116368379A JP2023538446A | 用于 X射线衍射分析仪器的 X射线探测器 | Empyrean*（配备 1Der 探测器） |
| EP4094073A1
US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A | X 射线衍射中的电荷共享识别 | Empyrean*（配备 1Der 探测器） |
| * 产品中的可选件/非标配件
# 需通过专门申请获得 | ||
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| JP4950523B2
| 修正偏差的仪器和方法 | Aeris
|
| US9506880B2
CN104251870B (ZL201410299083.9) EP2818851B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2 | 衍射成像 | Aeris*
|
| EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2) | 成像探测器 | Aeris*
|
| US9640292B2
JP6564572B2 CN104777179B (ZL201410833194.3) EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) | X 射线装置 | Aeris |
| US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B (ZL201110072597.7) EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1) | X 射线衍射和计算机层析成像 | Aeris*
|
| US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B (ZL200810095161.8) EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | 用于 X 射线散射的 X 射线衍射装置
| Aeris*
|
| US7477724B2
| X 射线仪器 | Aeris*
|
| US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B (ZL201210007967.3) EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | X 射线遮线器装置 | Aeris
|
| US9911569B2
JP7154731B2 CN105810541B (ZL201610016276.8) EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 射线管阳极装置
| Aeris*
|
| US10753890B2
EP3372994B1 (AT, CZ, DE602018003874.4, GB, FR, NL, PL) CN108572184B (ZL201810190461.8) JP6709814B2 | 高分辨率 X 射线衍射方法和仪器
| Aeris*
|
| EP4094073A1
US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A | X 射线衍射中的电荷共享识别
| Aeris*（配备 1Der 探测器） |
* 产品中的可选件/非标配件 | ||
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| WO2024164079A1 | 熔融系统以及使用该系统进行样品熔融的方法 | FORJ |
| WO2024164080A1 | 熔融系统以及使用该系统进行样品熔融的方法 | FORJ |
| WO2024164081A1 | 熔融系统以及使用该系统进行样品熔融的方法 | FORJ |
| WO2024164082A1 | 熔融系统以及使用该系统进行样品熔融的方法 | FORJ |
| WO2024164086A1 | 熔融系统以及使用该系统进行样品熔融的方法 | FORJ* |
| WO2024164083A1 | 用于熔融装置的片剂输送系统 | FORJ* |
| 设计：
US 29/873,668（尚未发布） CA 224,605；235,581；235,582；235,583；235,584；235,585；235,586；235,587（均已注册） DM/232583: EM, GB（均已注册）；BR（尚未发布） AU202316700 AU202410300 CN308681450S (ZL202330644590.1) ZA: A2023/01083、A2023/01084、A2023/01085、A2023/01086 | 样品杯 | FORJ 坩埚和/或模具盒 |
| * 产品中的可选件/非标配件 | ||
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| EP3824469B1 (CH+LI, GB, FR, SE, DE602019066157.6) | 用于计算反应网络动力学参数的方法 | WAVEdelta、WAVEcontrol |
| CN113811771B (ZL202080036463.7)
EP3969910B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2022532479A US20220162697A1 | 用于测定分析物和配体之间反应动力学参数的方法 | WAVEdelta、WAVEcontrol |
| CN115667930A
EP4172625B2 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2023531046A US20230273202A1 | 一种测定反应动力学参数的方法 | WAVEdelta、WAVEcontrol |
| EP3448564B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE602017039989.2)
CN108883414B (ZL201780021418.2) JP6846434B2 US11135581B2 | 分子回收方法及组件 | WAVEdelta |
| EP2137514B1 (CH+LI, FR, GB, SE, DE502008016144.9)
US8325347B2 | 集成式光学传感器 | WAVE、WAVEdelta 和 WAVEchip |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| 10,487,954 B2
10,514,332 | 自动化探测器校准与定制气体混合 | BreakThrough Analyzer（BTA）、AutoChem III |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| 10,487,954
11,105,825 B2 | 用于样品反应器的 KwikConnect 的密封机制 | AutoChem III |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| 11,874,155 B2
美国和境外专利申请中 | 用于校准气体比重瓶和气体吸附分析仪的系统和方法 | AccuPyc III |
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| 美国和境外专利申请中 | - - | AccuPore |