马尔文帕纳科 X 射线衍射仪用于获取高质量的衍射数据,它结合了易用性与快速切换到其他应用的灵活性。
Aeris
准备好对我们高精度、快速的 XRD 系统感到惊讶吧。不到五分钟即可得出精确结果。
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我们新设计的多核光学器件可以实现最广泛的测量,无需任何手动干预。
新一代 X'Pert³ 延续了我们材料研究衍射仪悠久而成功的历史。
我们的晶体取向解决方案在设计时考虑了晶锭、晶锭、圆盘和晶圆应用。
![]() AerisCompact X-ray diffractometer |
![]() Empyrean 锐影系列Multipurpose X-ray diffractometer |
![]() X'Pert³ 系列X射线衍射仪Thin Film Analysis XRD Systems |
![]() Crystal orientation 晶向定位系列Fast and accurate orientation of wafers and ingots |
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技术类型 | ||||
X 射线衍射 (XRD) | ||||
测量类型 | ||||
颗粒形状 | ||||
粒子大小 | ||||
晶体结构测定 | ||||
物相鉴定 | ||||
物相定量 | ||||
污染物检测与分析 | ||||
外延附生分析 | ||||
界面粗糙度 | ||||
3D 结构/成像 | ||||
薄膜测量 | ||||
残余应力 | ||||
Crystal orientation | ||||
Cleanroom ISO 4 | ||||
SECS/GEM |