在材料研究中,科学家有许多与材料样品的结晶组成有关的分析问题。 X射线衍射 (XRD) 是唯一可揭示结构信息的实验室技术,例如化学成分、晶体结构、微晶尺寸、应变、优选取向和层厚度。 因此,材料研究人员使用 XRD 分析从粉末和固体到薄膜和纳米材料的各种材料。

科学和工业

许多研究人员在工业和科学实验室中都依靠 X 射线衍射作为开发新材料或提高生产效率的工具。 X 射线衍射的创新密切关注新材料的研究,例如半导体技术或药物研究。 工业研究的目标是不断提高生产过程的速度和效率。 采矿和建筑材料生产场所的全自动 X 射线衍射分析为生产控制提供了更具成本效益的解决方案。

分析问题的解决方案

X 射线衍射分析满足了材料科学家的大量分析需求。 对于粉末,可定性地和定量地鉴定化学物相。 高分辨率 X 射线衍射揭示了半导体薄膜中的层参数,例如成份、厚度、粗糙度和密度。 小角 X 射线散射和对分布函数 (PDF) 分析有助于分析纳米材料的结构特性。 在各种固体物体和工程部件中可以确定应力和优选取向。

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Malvern Panalytical 邀请您进一步了解衍射仪可以提供支持以解决分析问题的各种应用。

Aeris 系列台式X射线衍射仪

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X 射线管阳极材料 Cu /Co (option)
技术类型 X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean 锐影系列多功能X射线衍射仪​

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技术类型 X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD)

Aeris 系列台式X射线衍射仪

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X'Pert3 MRD

X'Pert3 MRD (XL)

Aeris 系列台式X射线衍射仪 Empyrean 锐影系列多功能X射线衍射仪​ X'Pert3 MRD X'Pert3 MRD (XL)

Benchtop X-ray diffractometer

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新一代的高分辨X射线衍射仪

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技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
测量类型
颗粒形状
颗粒粒度
Crystal structure determination
物相鉴定
Phase quantification
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
薄膜测量
Residual stress