在材料研究中，科学家有许多与材料样品的结晶组成有关的分析问题。 X射线衍射 (XRD) 是可揭示结构信息的实验室技术，例如化学成分、晶体结构、微晶尺寸、应变、优选取向和层厚度。 因此，材料研究人员使用 XRD 分析从粉末和固体到薄膜和纳米材料的各种材料。
许多研究人员在工业和科学实验室中都依靠 X 射线衍射作为开发新材料或提高生产效率的工具。 X 射线衍射的创新密切关注新材料的研究，例如半导体技术或药物研究。 工业研究的目标是不断提高生产过程的速度和效率。 采矿和建筑材料生产场所的全自动 X 射线衍射分析为生产控制提供了更具成本效益的解决方案。
X 射线衍射分析满足了材料科学家的大量分析需求。 对于粉末，可定性地和定量地鉴定化学物相。 高分辨率 X 射线衍射揭示了半导体薄膜中的层参数，例如成份、厚度、粗糙度和密度。 小角 X 射线散射和对分布函数 (PDF) 分析有助于分析纳米材料的结构特性。 在各种固体物体和工程部件中可以确定应力和优选取向。
马尔文帕纳科邀请您进一步了解衍射仪可以提供支持以解决分析问题的各种应用。
Aeris推动下一代 XRD 研究 |
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| 更多细节 | |
| 测量 | 晶体结构测定, 物相鉴定, 物相定量 |
| X 射线管阳极材料 | Cu /Co (option) |
| 技术类型 | X 射线衍射 (XRD) |
Empyrean 锐影系列多功能X射线衍射仪The multipurpose solution for your analytical needs |
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| 测量 | 颗粒形状, 粒子大小, 晶体结构测定, 物相鉴定, 物相定量, 污染物检测和分析, 外延附生分析, 界面粗糙度, 3D 结构/成像 |
| 精确度 | 1% (不凝结) |
| 技术类型 | X 射线衍射 (XRD) |
Aeris推动下一代 XRD 研究 |
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| 测量 | 晶体结构测定, 物相鉴定, 物相定量 | 颗粒形状, 粒子大小, 晶体结构测定, 物相鉴定, 物相定量, 污染物检测和分析, 外延附生分析, 界面粗糙度, 3D 结构/成像 |
| X 射线管阳极材料 | Cu /Co (option) | |
| 精确度 | 1% (不凝结) | |
| 技术类型 | X 射线衍射 (XRD) | X 射线衍射 (XRD) |
Aeris |
Empyrean 锐影系列多功能X射线衍射仪 |
X'Pert³ MRD |
X'Pert³ MRD XL |
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Benchtop X-ray diffractometer |
The multipurpose solution for your analytical needs |
新一代高分辨X射线衍射仪 |
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| 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | |
| 技术类型 | ||||
| X 射线衍射 (XRD) | ||||
| 测量类型 | ||||
| 颗粒形状 | ||||
| 粒子大小 | ||||
| 晶体结构测定 | ||||
| 物相鉴定 | ||||
| 物相定量 | ||||
| 污染物检测和分析 | ||||
| 外延附生分析 | ||||
| 界面粗糙度 | ||||
| 3D 结构/成像 | ||||
| 薄膜测量 | ||||
| Residual stress | ||||
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