马尔文帕纳科 XRD 软件套件

我们的 XRD 软件包旨在从您的材料中提取出所有信息。 我们提供针对研究目的或过程控制而定制的数据采集软件,以及为我们仪器提供针对多种潜在 XRD 应用的分析模块。

用于多用途衍射仪的数据采集软件

凭借这些软件模块,可以让您的多用途 Empyrean、X’Pert³ Powder 或 X’Pert³ MRD 释放出全部潜能。

Data Collector 是 Empyrean、X’Pert³ MRD (XL) 和 X’Pert³ Powder 的中央数据采集软件工具箱。 XRD2DScan 可以轻松地将二维数据集转换为一维迹线,以进行进一步分析。

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Data Collector

Data Collector 是用于粉末、薄膜、纳米材料和固体对象测量的控制板。

XRD2DScan

XRD2DScan 可实现二维衍射数据可视化,并将其转换为各种一维扫描。

用于粉末衍射过程控制应用的软件

控制用于粉末衍射测量的 CubiX³ 或 X’Pert Powder,提取基于校准线的定量分析结果。

Industry 适用于具有按钮界面及广泛的 LIMS 和自动化功能的工业环境。 可选的 Walk-up Interface 可以充分支持多用户环境。 Quantify 是搭载了 10 个预编程定量分析模块的简化版本。

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Industry

我们的 Industry 软件专为工业环境中的大容量常规 X 射线衍射分析而设计。

Quantify

Quantify 是一款执行基础数据采集和基于校准线的定量物相分析的独立软件

粉末衍射软件模块

我们的 HighScore 系列粉末衍射软件旨在从您的疏松和压制粉末及其他多晶样品中提取所有物相信息。

详细了解搜索-匹配软件 HighScore,该软件可为 CanDI-X 等各种搜索-匹配数据库提供广泛的支持。 HighScore Plus 选件在所有 HighScore 功能的基础上,提供了用于晶体学、无限聚类和 Rietveld 分析的其他常规程序。 RoboRiet 为工业环境提供“仅执行”级别的 Rietveld 定量分析和全谱拟合。

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HighScore

作为我们的粉末衍射软件,HighScore 也可用于对多晶涂层进行物相鉴定和深度剖析。

适用于 HighScore 的 Plus 选件 

在 HighScore 的基础上,我们的 Plus 选件在同一用户界面中增添了晶体学、无限聚类、Rietveld/结构拟合等功能。

搜索-匹配参考数据库

我们支持广泛的搜索-匹配数据库,允许物相鉴定达到更高性能。

RoboRiet

RoboRiet 专门为工业环境实施“仅执行”级别的 Rietveld 方法和全谱拟合。

XRD 薄膜分析

凭借我们的薄膜软件模块,您可以获取关于层的厚度、成分、择优取向、外延质量和残余应力的详细信息。

多功能 AMASS(高级材料分析和模拟软件)套件可以轻松、快速地量化这些基本的薄层参数。 

对于多晶层和叠层,可以使用我们的 HighScore 软件确定物相组成及其随深度的变化,并使用 Stress Plus 软件确定残余应力。

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AMASS

我们的 AMASS 软件套件提供了表征分层结构所需的全部功能,可以快速轻松地确定关键的薄膜参数。

Stress Plus

在 Stress 软件包中使用 Stress Plus模块,可以确定多晶膜中的残余应力。

纳米材料的尺寸和形状分析

用于纳米颗粒和纳米结构分析的 EasySAXS 数据分析软件。 它可提供纳米级结构和尺寸、纳米粒子形状及表面积方面的信息。该软件还支持分析超小角度 X 射线散射 (USAXS) 数据。

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高级 SAXS 数据分析软件

EasySAXS 是一套易用的软件包,用于 X 射线小角散射 (SAXS) 数据。

固体对象分析

我们的 Texture 和 Stress 软件模块可以揭示您的加工组件(比如轧制过的和压制过的金属)中存在的择优取向和残留应力。

Stress 因其广泛而直观的功能而受到称赞。 可选模块 Stress Plus 在 Stress 套件的基础上增添了薄膜残余应力分析功能。
Texture 提供广泛的功能来分析极图、取向分布函数 (ODF) 和反极图。

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Stress

直观的 Stress 套件使用 sin2Ψ 方法计算样品中的残余应力。

Stress Plus

使用 Stress Plus 选件,您可以将 Stress 软件的功能扩展到多晶和薄膜分析。

Texture

Texture 软件包可让您分析、计算和可视化微晶取向。