特点
全面的纹理计算
Texture 使用 WIMV 方法对 ODF 进行计算。从具有正方、六方、三角、正交、四方或单斜晶体对称性的多晶材料获取的极图测量可用作输入。在极图测量中，计算内使用的样品对称性为正交或三斜。在执行 ODF 计算之前，可以根据背景强度和散焦像差对极图进行校正。极图和反极图都可以通过 ODF 结果进行重建。
图形显示
特殊图形窗口 Views 用于观察和分析纹理相关数据，包括极图、校正曲线和 ODF。
极图可以采用于四种不同的图形样式来显示：1D、Wulff 或 Schmidt 投影中的 2D、2.5D（圆柱形）和 3D（球形）视图。
ODF 可以采用 2D 或 3D（等值面）样式显示，带有符合 Bunge 或 Roe 表示法的轴。
用于背景和散焦的校正曲线以 1D 样式显示为倾角的一个函数。
数据处理
Texture 支持 Malvern Panalytical 的 XRDML 数据格式。计算的数据可以导出为 rw1 和 cor 格式，也可以复制到剪贴板以传输至其他软件包，例如 Microsoft Excel。
技术指标
测量系统
以下系统可用于收集和存储纹理数据：
- 带有 Data Collector 4.0 及更高版本的 Empyrean
- 带有 X’Pert Data Collector 1.3 或 2.0 及更高版本的 X’Pert PRO
- 带有 Data Collector 4.3 及更高版本的 X’Pert3
建议的系统配置
专为在 Windows 8.1（64 位）和 Windows 10（64 位）Current Branch for Business 操作系统上运行而设计。
符合所需的 Windows 操作系统（最低）硬件要求的 PC 配置足够使用。
| 当前版本 | 1.3 |
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