产品

马尔文帕纳科的实验室和工艺解决方案

产品系列

  1. Aeris
  2. ASD 系列
  3. Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪
  4. Claisse 系列熔融制样前处理设备及耗材
  5. CNA 系列
  6. WAVEsystem
  7. Crystal orientation range
  8. Empyrean 锐影系列
  9. Epsilon 系列
  10. Insitec 在线粒度仪系列仪器
  11. Mastersizer激光粒度仪系列
  12. MicroCal ITC
  13. MicroCal DSC
  14. Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列
  15. 纳米颗粒跟踪分析仪NanoSight系列
  16. 凝胶渗透色谱仪OMNISEC系统
  17. Parsum在线粒度仪系列
  18. Spraytec 喷雾粒度仪
  19. X'Pert³ 系列X射线衍射仪
  20. Zetasizer 纳米粒度电位仪系列
  21. Zetium 系列X射线荧光光谱仪
  22. 2830 ZT 晶圆分析仪

产品种类

  1. 自动化解决方案​
  2. 校准标样​
  3. CNA系列中子活化在线物料分析系统
  4. 耗材
  5. Elemental analyzers
  6. Fuel analyzers
  7. 便携手持式光谱仪
  8. 图像分析仪
  9. 微量热仪
  10. 微流控芯片
  11. 近红外光谱仪 (NIR)
  12. 光学生物传感器
  13. 颗粒粒度分析仪
  14. XRF 和 ICP 的样品制备
  15. 适用于 XRF 和 XRD 应用的软件
  16. 光谱仪
  17. Sulfur Analyzers
  18. Thermal Analyzers
  19. X 射线元件
  20. X 射线衍射仪 (XRD)
  21. X 射线荧光光谱仪 (XRF)
  22. X 射线计量
  23. X 射线散射平台
  24. X 射线光管

工艺科技

  1. Borate fusion
  2. Grating-coupled interferometry (GCI)
  3. Image analysis
  4. Light scattering
  5. Liquid chromatography
  6. Microcalorimetry
  7. Microfluidics
  8. Spatial Filter Velocimetry
  9. Spectroscopy
  10. X 射线分析

测量类型

  1. Association Constant
  2. Dissociation constant
  3. High-Throughput Screening (HTS)
  4. Zeta 电位
  5. 三维结构/CT成像
  6. 倒易空间分析
  7. 元素分析
  8. 元素量化
  9. 分子尺寸
  10. 分子结构
  11. 分子量
  12. 化学鉴定
  13. 地面实况
  14. 外延分析​
  15. 无标记相互作用分析
  16. 晶体结构测定
  17. 残余应力分析
  18. 水分含量
  19. 污染物检测和分析
  20. 物相定性分析
  21. 物相定量分析
  22. 界面粗糙度​
  23. 粘度
  24. 织构分析​
  25. 结合亲和力
  26. 结合动力学
  27. 荧光检测
  28. 薄膜测量​
  29. 蛋白质团聚
  30. 蛋白质迁移率
  31. 蛋白质高阶结构
  32. 遥感
  33. 颗粒形状
  34. 颗粒浓度
  35. 颗粒粒度

行业标准

  1. 21 CFR Part 11
  2. ASTM
  3. ICH
  4. IP
  5. ISO
  6. USP

我们的产品

  1. ASD 产品
  2. Claisse 产品
  3. Creoptix
  4. Malvern Instruments 产品
  5. MicroCal 产品
  6. NanoSight
  7. PANalytical 产品