应力分析

使用 X 射线衍射进行残余应力分析

Malvern Panalytical 的 Stress 软件专用于对残余应力执行 X 射线衍射 (XRD) 分析。值的计算依据是著名的 single-{hkl} sin²ψ 方法。用户可以配置默认值,并且可根据输入参数变化即时重新计算结果,使 Stress 特别适用于例程分析和研究应用。

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特点

最全面的典型 single-{hkl} sin²ψ 应力分析

该软件使用典型的单向和多向(完整应力张量)技术来执行 sin²ψ 残余应力分析。同时结合了 chi-应力和 omega-应力测量技术。

直观的用户界面,支持自动执行的分析

Stress 可以迅速计算所有中间结果和最终应力数据。因此,所有参数的影响都将直接反映在最终结果中,这让初学者和专业用户都能直接判断各种变化对结果产生的影响,例如峰值位置测定或校正应用。 

Stress 软件附带了丰富的在线帮助和《快速入门指南》。 

用户可以配置默认值,并且可根据输入参数变化即时重新计算结果,使 Stress 特别适用于例程分析和研究应用。通过使用 Data Collector 软件中附带的自动处理程序,可以根据预定义策略实现残余应力分析的完全自动化。

弹性常数数据库

一个专用 XEC 数据库包含 400 多个经验证的条目,并带有文献参考和内置 XEC 计算器作为支持。可以针对各向同性弹性常数、X 射线弹性常数和单晶弹性常数进行数据检索。

可靠的结果

Stress 软件包含各种例程,可用于处理硬件的微小位移和精度有限问题。微小位移根据无应力样品的测量进行分析,可用于在未知样品的分析中应用相应的校正。完整过程记录在该软件的帮助系统中。  

技术指标

测量系统 

以下系统可用于收集和存储应力数据:

  • 带有 Data Collector 4.0 及更高版本的 Empyrean
  • 带有 X’Pert Data Collector 1.3 或 2.0 及更高版本的 X’Pert PRO
  • 带有最新版本 Data Collector 4.3 及更高版本的 X’Pert³

建议的系统配置

专为在 Windows 8.1(64 位)和 Windows 10(64 位)Current Branch for Business 操作系统上运行而设计。

符合所需的 Windows 操作系统(最低)硬件要求的 PC 配置足够使用。

当前版本 3.0