物相定性分析

相鉴定是 X 射线粉末衍射（XRD 或 XRPD）的重要应用。 XRPD 不仅适用于粉末样品，还适用于多晶固体，悬浮液和薄膜。 

无机粉末样品通常以经典的 Bragg-Brentano 反射几何进行测量。 

另一方面，透射几何通常优先用于有机材料（例如药物和聚合物）、液晶材料和悬浮液。

对于薄膜，掠入射设置是非常合适的。

• 地质样品中矿物质的鉴定：物相鉴定有助于理解样品的形成机制，这可以提供有关矿石或燃料存在的宝贵信息。
• 矿石和岩石的等级控制：用于矿床勘探。
• 检测多晶型以区分在某种材料的不同相中具有相同化学成分的物质，对于制药工业来说是一项重要任务。
• 质量控制：测定纯相中杂质的存在。 使用现代的 X 射线光学器件和探测器，可以检测到低至 0.1 wt.％ 的杂质
• 检测在非常温环境条件下的相变，例如可变温度或湿度
• 取证：物相鉴定可以成为确定犯罪现场所发现痕迹的起源的决定性因素。
• 锅炉和发电厂的腐蚀：发现的物相可提供有关导致问题的条件和反应的宝贵信息。 分析间接地提供了如何防止腐蚀或将腐蚀降尽可能降低的提示。
• 纳米材料：例如，纳米二氧化钛的金红石相是紫外阻隔应用（例如防晒剂）所需要的，而光催化活性需要锐钛矿相。
• 聚合物和塑料：通过 WAXS（广角 X 射线散射）可鉴定结晶相和多晶型物以及填料材料。
• 液晶：鉴定热致型和溶致型液晶相（中间相）。 例如，通过低角度衍射执行表面活性剂系统中的测量。

马尔文帕纳科 的 Empyrean X 射线衍射系统及其垂直测角仪平台非常适合粉末、薄膜、固体和悬浮液中的物相鉴定。 这些多用途仪器主要用于研究环境。 同时还支持在孔板上进行高通量多晶型筛选。 

Aeris 台式衍射仪具有直观的用户界面、一流的数据质量和高样品通量，是工业和研究环境中粉末和固体样品常规物相分析的理想工具。

HighScore (Plus) 是一个功能强大的软件包，可以进行峰值搜索和简单的物相鉴定，即使在复杂的物相混合也同样适用。 HighScore (Plus) 允许跨多个参考数据库同时搜索，并提供多个自动化和报告选项。 同时还支持对具有相似相组成的分组样品进行群集分析。