马尔文帕纳科全新 Zetasizer Advance – 适用于每个应用的 DLS – 迎接全新 Zetasizer 系列产品!. 了解更多

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颗粒粒度

分析从亚纳米到毫米的颗粒粒度分布范围。

目前为止,颗粒粒度是颗粒样品重要的物理特性。 粒度分布测量通常用于在多个行业,粒度常常是许多产品制造过程中的关键参数。

测量颗粒粒度并了解其对产品与工艺的影响是许多制造业成功的关键。 马尔文帕纳科为各种类型的颗粒粒度分析及表征提供专业仪器,量程范围自亚纳米至毫米级。

使用下表可帮助选择可满足您需求的技术和颗粒粒度仪器:

颗粒粒度范围*
0.1nm
1nm
10nm
100nm
1µm
10µm
100µm
1mm
10mm

小角 X 射线散射 1nm 至 100nm

 
 
 
 
 
 
 

动态光散射<1nm 至 >1µm

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

空间滤波测速仪<50µm 至 6mm

 
 
 
 
 
 

自动成像<1µm 至 >3mm

 
 
 
 

*所有颗粒粒度都取决于样品