SediGraph 是 Micromeritics 的一项技术，至今仍被全球众多实验室用于粒径分析。无论是在严酷的生产环境中，还是在受控的实验室环境中，SediGraph 都能凭借出众的可靠性持续提供准确的结果。
采用沉降法测量粒度分布。通过X射线吸收直接测量颗粒质量。
通过测量颗粒在重力作用下，穿过具有已知性质的液体时的沉降速率（如斯托克斯定律所述），SediGraph 可以确定粒径范围为 0.1 到 300 µm 的颗粒的等效球径。
新一代 SediGraph III Plus 将这种久经考验的技术与新技术相结合，可提供可重现且高度准确的粒度信息，在几分钟内完成大多数分析。
颗粒的粒度范围以及各粒度类别的质量分布对陶瓷粉末的烧结能力、成形属性以及成品的孔径分布有着显著影响。颗粒尺寸分布信息有助于确定固化及粘接工艺，控制孔隙结构，确保足够的坯体强度，并生产出具有所需强度、质地、外观及密度的最终产品。
通过测量产品密度来监测和控制 API 和赋形剂的成分。通过密度测量来检测产品的多晶型、水合物及非晶形态之间的差异，以及纯度差异。
颗粒大小会影响土壤的持水能力、排水速率以及养分保持能力颗粒大小与沉积物的搬运能力直接相关。
化妆品的外观、应用和包装受到基础粉料（如滑石粉）和用于着色的颜料的颗粒粒度分布的影响。
粒度可影响颜色的着色力。随着着色力的提升，产生所需颜色强度所需的色素量也会下降。粒度会影响涂料的遮盖力。粒度分布还会影响光泽度、纹理、色彩饱和度和亮度。
粒度会影响金属在结构敏感型催化反应中的催化活性。
水泥的粒度会影响混凝土和水泥成品的固化时间和强度特性。
物料的反应性取决于暴露表面积，还取决于粒度分布。
无论材料是用于研磨浆料、干式喷砂作业，还是固结磨具生产，磨料颗粒与粉末的颗粒粒度分布是否均衡得当，都是一项基础性考量要素。均匀的颗粒粒度能确保喷砂设备中磨料流速精确可控，这一特性对磨料回收利用时的介质管理具有决定性意义。
| 粒子大小 | 0.1 到 300 µm 等效球径 |
|---|---|
| 防潮材质 | 不锈钢、Teflon® 浸渍阳极氧化铝、镀镍铝、尼龙、聚丙烯、聚苯乙烯、Tygon® 和 Pharmed® 管材、钨碳化物、Ertalyte®、Viton®、丁腈橡胶和环氧树脂 |
| 样品尺寸 | 50 mL 分散样品-不需要精确浓度 |
| Suspending liquids | 任何与样品池材料兼容且对X射线吸收率不高的液体（常用液体包括水、乙二醇、矿物油、SediSperse® 分散剂及醇类） |
| 电源 | 85 至 264 VAC、47/63 Hz、450 VA |
| 温度（可控） | 操作温度范围为室温 +10°C 到 40°C；存储或运输温度范围为 -10°C 到 55°C。 |
| 湿度 | 20 至 80%（无冷凝） |
| 尺寸： | 高度：52 cm (20.5 in.)
宽度：50.5 cm (20 in.)
深度：58 cm (23 in.)
重量：43 kg (95 lbs) |
Micromeritics SediGraph 根据直接质量浓度检测来确定颗粒粒度分布和统计数据，例如 D10、D50 和 D90。只需轻触按钮，即可获得基本和高级报告。可将 SediGraph III Plus 与选配的 MasterTech 自动进样器配合使用，以持续监测生产过程，并将数据推送到网络或云端以进行远程访问。
完整的颗粒追踪系统确保所有引入的样品均被计入，包括粒径小于 0.1 µm 的颗粒
该系统具有合并数据的能力，可以将采用其他粒度测量方法得出的数据与之结合，从而将报告数据的范围拓展到 125,000 μm（125 mm），非常适合地质应用
对沉降室进行自下而上的扫描，可准确清点快速沉降的颗粒，同时最大限度地缩短解决细颗粒分离问题所需的时间
全自动操作可以加快样本处理速度、减少操作员干预，同时还能降低人为错误的可能性
温度控制分析确保在整个分析过程中液体的属性保持恒定，您可以确信获得准确且可再现的结果
统计过程控制 (SPC) 报告可跟踪您的过程的性能，使您能够对波动做出即时响应
Micromeritics SediGraph III Plus 配备了一个多功能，易于使用的用户界面，可提供基于 Windows 的程序应具备的所有便利功能。这些功能包括点击式菜单、带有实验室徽标图案的可定制报告、可编辑图形、剪切粘贴图形和表格、数据导出功能等。
自定义协议可帮助规划、启动和控制分析，并确保后续分析均以相同的方式执行，无论操作员的技能水平如何。您可以收集、整理、归档和精简原始数据，存储标准化的样品信息和分析条件，方便在以后的应用中使用。完成的报告可以生成到屏幕、纸张上，或者以各种格式传输到存储设备。
SediGraph III Plus 可自动提供粒径为 300 µm 到 0.1 µm 的颗粒的详细分析数据。通过整合其他粒度分析仪（测量范围 125,000 至 300 µm）与SediGraph 的测试数据，可生成覆盖 125,000 至 0.1 µm 全粒径区间的有效分析报告。
除了表格数据外，还提供多类图形分析图，包括：
可以叠加图表，以比较不同样品的结果，或比较同一样品的不同图表类型。此举让您能够将分析结果与标准品进行比较。缩放图表功能支持您更细致地审视图形数据。在表格和图表的x轴选项中新增了一列，用于显示以 Phi 单位表示的尺寸，其中 Ф = -log2（粒度，单位为 mm）。此外，表格中还提供了沉降速度 (cm/s) 的列选择。可以按颗粒粒度或沉降速度对图表的 x 轴进行缩放。
