Micromeritics SediGraph

X射线沉降法测定无机颗粒粒度分布

  • 颗粒直径从 0.1 到 300 µm
  • 大容量分散(50 mL)设计,适用于对异质材料进行代表性采样
  • 完整的颗粒物计量——包括超出直接测量范围的颗粒物
  • 可用的自动化功能:可以对多达 18 个样品进行无人值守测量
  • 符合 ISO 13317-3 标准、ASTM B761 标准以及先进陶瓷委员会 C28 的规定

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概览

在全球众多实验室中,Micromerietics SediGraph 持续被用于开展粒度分析。无论是在严酷的生产环境中,还是在受控的实验室环境中,SediGraph 都能凭借出众的可靠性持续提供准确的结果。 

采用沉降法测量粒度分布。通过X射线吸收直接测量颗粒质量。 

通过测量颗粒在重力作用下,穿过具有已知性质的液体时的沉降速率(如斯托克斯定律所述),SediGraph 可以确定粒径范围为 0.1 到 300 µm 的颗粒的等效球径。

新一代 SediGraph III Plus 将这种久经考验的技术与新技术相结合,可提供可重现且高度准确的粒度信息,在几分钟内完成大多数分析。

应用

颗粒的粒度范围以及各粒度类别的质量分布对陶瓷粉末的烧结能力、成形属性以及成品的孔径分布有着显著影响。颗粒尺寸分布信息有助于确定固化及粘接工艺,控制孔隙结构,确保足够的坯体强度,并生产出具有所需强度、质地、外观及密度的最终产品。

通过测量产品密度来监测和控制 API 和赋形剂的成分。通过密度测量来检测产品的多晶型、水合物及非晶形态之间的差异,以及纯度差异。

颗粒大小会影响土壤的持水能力、排水速率以及养分保持能力颗粒大小与沉积物的搬运能力直接相关。

化妆品的外观、应用和包装受到基础粉料(如滑石粉)和用于着色的颜料的颗粒粒度分布的影响。

粒度可影响颜色的着色力。随着着色力的提升,产生所需颜色强度所需的色素量也会下降。粒度会影响涂料的遮盖力。粒度分布还会影响光泽度、纹理、色彩饱和度和亮度。

粒度会影响金属在结构敏感型催化反应中的催化活性。

水泥的粒度会影响混凝土和水泥成品的固化时间和强度特性。

物料的反应性取决于暴露表面积,还取决于粒度分布。

无论材料是用于研磨浆料、干式喷砂作业,还是固结磨具生产,磨料颗粒与粉末的颗粒粒度分布是否均衡得当,都是一项基础性考量要素。均匀的颗粒粒度能确保喷砂设备中磨料流速精确可控,这一特性对磨料回收利用时的介质管理具有决定性意义。

技术指标

粒子大小
0.1 到 300 µm 等效球径
防潮材质
不锈钢、Teflon® 浸渍阳极氧化铝、镀镍铝、尼龙、聚丙烯、聚苯乙烯、Tygon® 和 Pharmed® 管材、钨碳化物、Ertalyte®、Viton®、丁腈橡胶和环氧树脂
样品尺寸
50 mL 分散样品-不需要精确浓度
Suspending liquids
任何与样品池材料兼容且对X射线吸收率不高的液体(常用液体包括水、乙二醇、矿物油、SediSperse® 分散剂及醇类)
电源
85 至 264 VAC、47/63 Hz、450 VA
温度(可控)
操作温度范围为室温 +10°C 到 40°C;存储或运输温度范围为 -10°C 到 55°C。
湿度
20 至 80%(无冷凝)
尺寸:
高度:52 cm (20.5 in.)
宽度:50.5 cm (20 in.)
深度:58 cm (23 in.)
重量:43 kg (95 lbs)

附件

样本管理

MasterTech 052 自动进样器

MasterTech 052 自动进样器可确保每次都以完全相同的方式制备和分析样品。 

MasterTech 052 自动进样器可与 SediGraph 粒度分布分析仪配合使用。

SediGraph 技术

Micromeritics SediGraph 根据直接质量浓度检测来确定颗粒粒度分布和统计数据,例如 D10、D50 和 D90。只需轻触按钮,即可获得基本和高级报告。可将 SediGraph III Plus 与选配的 MasterTech 自动进样器配合使用,以持续监测生产过程,并将数据推送到网络或云端以进行远程访问。

完整的颗粒追踪系统

完整的颗粒追踪系统确保所有引入的样品均被计入,包括粒径小于 0.1 µm 的颗粒

合并数据的能力

该系统具有合并数据的能力,可以将采用其他粒度测量方法得出的数据与之结合,从而将报告数据的范围拓展到 125,000 μm(125 mm),非常适合地质应用

扫描沉降室

对沉降室进行自下而上的扫描,可准确清点快速沉降的颗粒,同时最大限度地缩短解决细颗粒分离问题所需的时间

全自动操作

全自动操作可以加快样本处理速度、减少操作员干预,同时还能降低人为错误的可能性

温度控制分析

温度控制分析确保在整个分析过程中液体的属性保持恒定,您可以确信获得准确且可再现的结果

统计过程控制 (SPC) 报告

统计过程控制 (SPC) 报告可跟踪您的过程的性能,使您能够对波动做出即时响应

软件

Micromeritics SediGraph III Plus 配备了一个多功能,易于使用的用户界面,可提供基于 Windows 的程序应具备的所有便利功能。这些功能包括点击式菜单、带有实验室徽标图案的可定制报告、可编辑图形、剪切粘贴图形和表格、数据导出功能等。 

自定义协议可帮助规划、启动和控制分析,并确保后续分析均以相同的方式执行,无论操作员的技能水平如何。您可以收集、整理、归档和精简原始数据,存储标准化的样品信息和分析条件,方便在以后的应用中使用。完成的报告可以生成到屏幕、纸张上,或者以各种格式传输到存储设备。

SediGraph III Plus 可自动提供粒径为 300 µm 到 0.1 µm 的颗粒的详细分析数据。通过整合其他粒度分析仪(测量范围 125,000 至 300 µm)与SediGraph 的测试数据,可生成覆盖 125,000 至 0.1 µm 全粒径区间的有效分析报告。

除了表格数据外,还提供多类图形分析图,包括:

  • 累积质量、面积和数量分布
  • 沉降速度分布
  • 过程控制图
  • 对数概率
  • 基线校准/满量程校准参照
  • 频率分布
  • 参照差
  • 指标超限
  • 罗辛-拉姆勒分布
  • 回归分析

可以叠加图表,以比较不同样品的结果,或比较同一样品的不同图表类型。此举让您能够将分析结果与标准品进行比较。可以将图表重新缩放,以便您能够详细检查您的图形数据。在表格和图表的x轴选项中新增了一列,用于显示以 Phi 单位表示的尺寸,其中 Ф = -log2(粒度,单位为 mm)。此外,表格中还提供了沉降速度 (cm/s) 的列选择。可以按颗粒粒度或沉降速度对图表的 x 轴进行缩放。

用户手册

请联系支持人员获取最新的用户手册。

软件下载

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准确的结果。出众的可靠性。

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从恶劣的自然环境到实验室环境,将颗粒粒度分析技术提升到新的高度。

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