语言
Deutsch
English
Español
Français
Português
한국어
日本語
简体中文
繁體中文
关于我们
工作机会
博客
联系我们
搜索
产品
解决方案
网络研讨会及活动
资源
支持 及 下载
登录
注册
产品
马尔文帕纳科的实验室和工艺解决方案
产品系列
产品种类
工艺科技
测量类型
行业标准
我们的产品
产品系列
Aeris
ASD 系列
Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪
Claisse 系列熔融制样前处理设备及耗材
CNA 系列
WAVEsystem
Crystal orientation range
Empyrean 锐影系列
Epsilon 系列
Insitec 在线粒度仪系列仪器
Mastersizer 系列激光粒度分析仪
MicroCal ITC
MicroCal DSC
Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列
纳米颗粒跟踪分析仪NanoSight系列
凝胶渗透色谱仪OMNISEC系统
Spraytec 喷雾粒度仪
X'Pert³ 系列X射线衍射仪
Zetasizer 纳米粒度电位仪系列
Zetium 系列X射线荧光光谱仪
2830 ZT 晶圆分析仪
产品种类
Automation Solutions
Calibration standards
CNA Cross belt analyzers
Consumables
Elemental analyzers
Fuel analyzers
便携手持式光谱仪
Image analyzers
Microcalorimeters
Microfluidic chips
Near Infra Red Spectrometers (NIR)
Optical biosensors
颗粒粒度分析仪
Sample preparation equipment for XRF and ICP
Software
光谱仪
Sulfur Analyzers
热分析仪
X-ray components
X 射线衍射仪 (XRD)
X-ray fluorescence spectrometers
X 射线计量
X 射线散射平台
X-ray tubes
工艺科技
Borate fusion
Grating-coupled interferometry (GCI)
Image analysis
Light scattering
Liquid chromatography
Microcalorimetry
Microfluidics
Spectroscopy
X-ray analysis
测量类型
3D structure / Imaging
Association constant
Binding affinity
Binding kinetics
Chemical identification
Contaminant detection and analysis
Crystal structure determination
Dissociation constant
Elemental Analysis
Elemental quanitification
Extracellular vesicles
Fluorescence detection
Ground truthing
High throughput screening
Higher order structure
Zeta 电位
倒易空间分析
分子尺寸
分子结构
分子量
外延分析
无标记相互作用分析
残余应力分析
水分含量
物相定性分析
物相定量分析
界面粗糙度
粘度
织构分析
薄膜测量
蛋白质团聚
蛋白质迁移率
遥感
颗粒形状
颗粒浓度
颗粒粒度
行业标准
21 CFR Part 11
ASTM D4294
ISO 20847
ASTM
ICH
IP
ISO
USP
我们的产品
ASD 产品
Claisse 产品
Creoptix
Malvern Instruments 产品
MicroCal 产品
NanoSight
PANalytical 产品