X 射线分析

X 射线衍射 (XRD) 和 X射线散射来分析样品的晶体结构（X射线晶体学）或鉴定和量化样品中的结晶相（X射线粉末衍射/XRPD）。 

X射线衍射 还可以通过工具和附件进行扩展，以实现物体内部结构的可视化，或利用 X射线散射测定纳米颗粒的大小分布。    

X射线荧光 (XRF) 是一种广泛使用的非破坏性快速技术，用于测定材料的元素组成，且只需最少的样品制备。 

XRF 分析仪可用于多种应用，从对进口货物进行有毒元素筛选，到在高通量、生产关键环境下的精确分析。 

Malvern Panalytical 拥有一系列 XRF 分析仪，能够帮您应对各类挑战。

X射线吸收光谱法 (XAS) 是一种强大的元素特异性技术，用于研究材料中元素的局部化学环境、氧化态和原子配位。

通过测量X射线能量在元素吸收限附近变化时被吸收的情况，XAS 能够提供关于电子结构和短程有序的详细信息，即使是在非晶、无序或稀薄体系中也能实现此目标，而衍射技术在这些体系中可能受到限制。

XAS 涵盖X射线吸收近限结构 (XANES) 和扩展X射线吸收精细结构 (EXAFS) 等技术，因此在催化、能源存储、环境科学、矿业、先进材料与生命科学等领域的研究中极具价值。

Malvern Panalytical 提供的 XAS 解决方案，使研究人员能够更深入地了解材料化学与结构。

XRD、XRF 和 XAS 是互补技术，具有若干相似之处，它们都基于 X射线与物质的相互作用来获取材料信息。然而，每种技术所提供的信息却截然不同。

XRD 能够提供有关样品中存在的结晶相的信息，并且可以区分化合物 - 例如不同的氧化态 (Fe₂O₃/Fe₃O₄) 或不同的多晶型（赤铁矿与磁赤铁矿，两者都是氧化铁 Fe₂O₃）。

XRF 能够提供有关样品化学（元素）组成的信息，即存在哪些元素（Fe、O）以及含量。XRF 的主要优点之一在于其可以检测低至 100 ppb（十亿分之一）的化学元素的含量。与替代技术相比，XRF 样品制备也非常快速、简单和安全。

XAS 能够提供特定元素的局部原子环境与电子结构信息。能够测定氧化态、配位数、键距和化学形态，因此特别适用于研究催化剂、电池材料、地质样品以及复杂的功能材料。

这些技术相辅相成，能够全面揭示材料的组成、结构与化学性质。