X 射线分析

在许多生产或研发环境中，X 射线可用于表征材料和样品。 X 射线波长范围（从 0.01 到 10nm）使其特别适合用于在原子水平上分析结构和元素。 可通过以下几种主要技术使用 X 射线来帮助表征样品： 

XRD 分析 

例如，可以使用 X 射线衍射 (XRD) 和 X 射线散射来分析样品的晶体结构（X 射线晶体学）或鉴定和量化样品中的结晶相（X 射线粉末衍射 / XRPD）。 XRD 设备还可以通过工具和附件进行扩展，从而可视化对象的内部结构，或使用 X 射线散射来确定纳米颗粒的大小分布。    

XRF 分析 

X 射线荧光 (XRF) 是一种广泛使用的非破坏性快速技术，只需极低限度的样品制备即可确定材料的元素成分。 XRF 分析仪可用于多种应用，从对进口货物进行有毒元素筛选，到在高通量、生产关键环境下的精确分析。 马尔文帕纳科拥有一系列 XRF 分析仪，能够帮您应对各类挑战

XRD 与 XRF 的对比 - 哪个最适合我？

XRD 和 XRF 都使用 X 射线源和 X 射线探测器，它们是具有多种相似性的互补技术，但这两种技术提供的信息却截然不同。 

XRD 提供有关样品中存在的结晶相的信息，并且可以区分化合物 - 例如不同的氧化态 (Fe₂O₃/Fe₃O₄) 或不同的多晶型（赤铁矿与磁赤铁矿，两者都是氧化铁 Fe₂O₃）。 

XRF 提供有关样品化学（元素）组成的信息，即存在哪些元素（Fe、O）以及含量。 XRF 的主要优点之一是它可以检测低至 100 ppb（十亿分之一）的化学元素的含量。 与替代技术相比，XRF 样品制备也非常快速、简单和安全。 

马尔文帕纳科的 X 射线分析解决方案

马尔文帕纳科是一家X 射线分析设备提供商，拥有数十年的丰富经验。 我们提供范围广泛的解决方案，从易于使用的台式系统到适用于 XRF 和 XRD 的全功率、综合落地式系统。 这些技术是互补的，在许多生产控制环境中，会使用两种类型的设备，以确保最佳质量保证。