使用 X 射线荧光和 X 射线衍射仪的 X 射线分析技术
在许多生产或研发环境中,X 射线可用于表征材料和样品。 X 射线波长范围(从 0.01 到 10nm)使其特别适合用于在原子水平上分析结构和元素。 可通过以下几种主要技术使用 X 射线来帮助表征样品:
例如,可以使用 X 射线衍射 (XRD) 和 X 射线散射来分析样品的晶体结构(X 射线晶体学)或鉴定和量化样品中的结晶相(X 射线粉末衍射 / XRPD)。 XRD 设备还可以通过工具和附件进行扩展,从而可视化对象的内部结构,或使用 X 射线散射来确定纳米颗粒的大小分布。
X 射线荧光 (XRF) 是一种广泛使用的非破坏性快速技术,只需极低限度的样品制备即可确定材料的元素成分。 XRF 分析仪可用于多种应用,从对进口货物进行有毒元素筛选,到在高通量、生产关键环境下的精确分析。 马尔文帕纳科拥有一系列 XRF 分析仪,能够帮您应对各类挑战
XRD 和 XRF 都使用 X 射线源和 X 射线探测器,它们是具有多种相似性的互补技术,但这两种技术提供的信息却截然不同。
XRD 提供有关样品中存在的结晶相的信息,并且可以区分化合物 - 例如不同的氧化态 (Fe2O3/Fe3O4) 或不同的多晶型(赤铁矿与磁赤铁矿,两者都是氧化铁 Fe2O3)。
XRF 提供有关样品化学(元素)组成的信息,即存在哪些元素(Fe、O)以及含量。 XRF 的主要优点之一是它可以检测低至 100 ppb(十亿分之一)的化学元素的含量。 与替代技术相比,XRF 样品制备也非常快速、简单和安全。
马尔文帕纳科是一家X 射线分析设备提供商,拥有数十年的丰富经验。 我们提供范围广泛的解决方案,从易于使用的台式系统到适用于 XRF 和 XRD 的全功率、综合落地式系统。 这些技术是互补的,在许多生产控制环境中,会使用两种类型的设备,以确保最佳质量保证。
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技术类型 | ||||||
X 射线衍射 (XRD) | ||||||
X 射线荧光 (XRF) | ||||||
波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF) | ||||||
能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF) |