X 射线分析

使用 X 射线荧光和 X 射线衍射仪的 X 射线分析技术

在许多生产或研发环境中,X 射线可用于表征材料和样品。X 射线波长范围(从 0.01 到 10nm)使其特别适合用于在原子水平上分析结构和元素。 

可通过以下几种主要技术使用 X 射线来帮助表征样品。

XRD 分析

例如,可以使用 X 射线衍射 (XRD) 和 X 射线散射来分析样品的晶体结构(X 射线晶体学)或鉴定和量化样品中的结晶相(X 射线粉末衍射/XRPD)。 

X 射线衍射 还可以通过工具和附件进行扩展,从而可视化对象的内部结构,或使用 X 射线散射来确定纳米颗粒的大小分布。    

XRF 分析

X 射线荧光  (XRF) 是一种广泛使用的非破坏性快速技术,只需极低限度的样品制备即可确定材料的元素成分。 

XRF 分析仪可用于多种应用,从对进口货物进行有毒元素筛选,到在高通量、生产关键环境下的精确分析。 

Malvern Panalytical 拥有一系列 XRF 分析仪,能够帮您应对各类挑战。

XRD 与 XRF 对比:哪个最适合我?

XRD 和 XRF 都使用 X 射线源和 X 射线探测器,它们是具有多种相似性的互补技术,但这两种技术提供的信息却截然不同。 

XRD 提供有关样品中存在的结晶相的信息,并且可以区分化合物 - 例如不同的氧化态 (Fe2O3/Fe3O4) 或不同的多晶型(赤铁矿与磁赤铁矿,两者都是氧化铁 Fe2O3)。 

XRF 提供有关样品化学(元素)组成的信息,即存在哪些元素(Fe、O)以及含量。XRF 的主要优点之一是它可以检测低至 100 ppb(十亿分之一)的化学元素的含量。与替代技术相比,XRF 样品制备也非常快速、简单和安全。 

Malvern Panalytical 的 X 射线分析解决方案

Malvern Panalytical 是一家全球领先的 X 射线分析设备提供商,拥有数十年的丰富经验。 

我们提供范围广泛的解决方案,从易于使用的台式系统到适用于 XRF 和 XRD 的全功率、综合落地式系统。 

这些技术是互补的,在许多生产控制环境中,会使用两种类型的设备,以确保最佳质量保证。 

Aeris

Aeris

紧凑型X射线衍射仪

Empyrean

Empyrean

智能X射线衍射仪

Zetium 系列X射线荧光光谱仪

Zetium 系列X射线荧光光谱仪

元素分析

Epsilon 系列

Epsilon 系列

快速、准确的原位和在线元素分析

Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪

Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪

高样品处理量

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

直接洞悉您的生产过程

技术类型
X 射线衍射 (XRD)
X 射线荧光 (XRF)
波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)