在许多生产或研发环境中,X 射线可用于表征材料和样品。X 射线波长范围(从 0.01 到 10nm)使其特别适合用于在原子水平上分析结构和元素。
可通过以下几种主要技术使用 X 射线来帮助表征样品。
XRD 和 XRF 都使用 X 射线源和 X 射线探测器,它们是具有多种相似性的互补技术,但这两种技术提供的信息却截然不同。
XRD 提供有关样品中存在的结晶相的信息,并且可以区分化合物 - 例如不同的氧化态 (Fe2O3/Fe3O4) 或不同的多晶型(赤铁矿与磁赤铁矿,两者都是氧化铁 Fe2O3)。
XRF 提供有关样品化学(元素)组成的信息,即存在哪些元素(Fe、O)以及含量。XRF 的主要优点之一是它可以检测低至 100 ppb(十亿分之一)的化学元素的含量。与替代技术相比,XRF 样品制备也非常快速、简单和安全。
Malvern Panalytical 是一家全球领先的 X 射线分析设备提供商,拥有数十年的丰富经验。
我们提供范围广泛的解决方案,从易于使用的台式系统到适用于 XRF 和 XRD 的全功率、综合落地式系统。
这些技术是互补的,在许多生产控制环境中,会使用两种类型的设备,以确保最佳质量保证。
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技术类型 | ||||||
X 射线衍射 (XRD) | ||||||
X 射线荧光 (XRF) | ||||||
波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF) | ||||||
能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF) |