简介 

X 射线荧光 (XRF) 光谱测定是一种无损式分析技术,可用于获取不同类型材料的元素信息。 它已在许多行业和应用领域中得到广泛运用,包括:水泥生产、玻璃生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、石油和石化、聚合物及相关行业、法医、制药、保健产品、环保、食品和化妆品。 光谱仪系统通常分为两大类:波长色散式系统 (WDXRF) 和能量色散式系统 (EDXRF)。 两者之间的区别在于检测系统。 ​

什么是 EDXRF?其工作原理是什么?

在所有光谱仪的基本概念中,都包含一个辐射源、一个样品和一个检测系统。 在 EDXRF 光谱仪中,X 射线光管用作直接照射样品的光源,并且使用能量色散式探测器来测量样品发出的荧光。 此探测器可以测量样品直接发出的特征辐射的不同能量。 该探测器可以将样品发出的辐射与样品中存在的不同元素所发出的辐射分离开来。 这种分离就称为分散。 ​  ​

EDXRF 光谱测定的优势​

  • 小巧紧凑的仪器设计
  • 几乎不需要维护
  • 无需使用水、压缩空气或气体
  • 耗电量低
  • 更高的系统分辨率
  • 可同时执行元素分析

Epsilon 1

Epsilon 1

体积小巧、功能强大的便携式 XRF 分析仪

更多细节
测量 元素分析, 污染物检测与分析, 元素量化
元素范围 Na-Am
分辨率 (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
样品处理量 Up to - 80per 8h day
技术类型 X 射线荧光 (XRF), 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

直接洞悉您的生产过程

更多细节
测量 元素分析
元素范围 Na-Am
分辨率 (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
样品处理量 on-line
技术类型 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)

Epsilon 4

Epsilon 4

快速、准确的原位元素分析

更多细节
测量 薄膜测量, 元素分析, 污染物检测与分析, 元素量化
元素范围 C-Am
分辨率 (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
样品处理量 Up to - 160per 8h day
技术类型 X 射线荧光 (XRF), 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)

Epsilon 1

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体积小巧、功能强大的便携式 XRF 分析仪

Epsilon Xflow

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Epsilon 4

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更多细节 更多细节 更多细节
测量 元素分析, 污染物检测与分析, 元素量化 元素分析 薄膜测量, 元素分析, 污染物检测与分析, 元素量化
元素范围 Na-Am Na-Am C-Am
分辨率 (Mg-Ka) 135eV 135eV 135eV
LLD 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
样品处理量 Up to - 80per 8h day on-line Up to - 160per 8h day
技术类型 X 射线荧光 (XRF), 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF) 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF) X 射线荧光 (XRF), 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)