特点
减轻对分层参考材料的需求
Stratos 软件具有一项出色的优势，就是能让使用便利的批量 XRF 标样或参考样品（其成分和层结构不同于未知材料）进行校准的仪器获得精准的结果。此过程可以解决在获取昂贵且经认证的薄膜标样时出现的常见问题，如果有此类标样可用，则会匹配在半导体晶片和镀层金属的分析当中遇到的生产样品。如果还能使用 Omnian 选件，则可以将 Omnian 的标样和校准直接用于 Stratos。
Virtual Analyst 让方法开发更轻松。
Stratos 软件模块包括 Virtual Analyst，可在高级方法开发当中担当顾问角色。Virtual Analyst 基于样品结构的定义，可对样品的荧光反应进行仿真并为您提供最佳的分析设置，从而消除了设置这些复杂应用通常所需要的、耗时的试错实验。
用于复杂堆栈的高级算法荧光模型
Stratos 使用基本参数来计算每种成分的理论 X 射线强度以及样品的康普顿散射强度。随后，它们将关联到通过参考标样测量的强度，以便获取可成为计算基础的基本仪器系数。为了对未知样品进行表征，将为存在的一个或多个分层输入估算的成分。将会采用重复的精修过程，直至与测量的值严密匹配。
规格
Stratos 有助于在喷涂和包装行业内实现精确的厚度和成分测定。主要优点包括最大程度地利用多层功能、尽可能降低校准成本、实现充分的灵活性，同时在 Virtual Analyst 的助力下采用直观的配方式设置，外加带有自动报告功能的按钮式分析，使其使用变得非常方便。分析不需要操作员干预即可执行，并且可传输至 LIMS，或者通过使用 UAI 传输至工厂的主机系统。结果以元素百分比或质量厚度的形式显示。