特点
痕量元素分析
精确的净强度是优质痕量元素分析的基础。此外，精确的基体校正也至关重要，特别是在未提供所有主要元素数据的情况下。Pro-Trace 提供的特定功能适合用于计算痕量元素分析中的净强度，以及在总基体未知时进行准确的基体校正。
智能元素选择器可通过周期表访问，是一种简便易用的功能，可以确保用户测量一系列元素子集的正确元素组合。通道、仪器参数和背景偏移是分析程序中的输入。
Pro-Trace 使用共享背景位置来缩短测量时间。
净强度计算
XRF 执行的痕量元素分析需要特别留意以下测定：低于分析峰值的背景强度、谱线重叠校正（包括相互干扰的情况）以及 X 射线管阳极中的杂质所造成的谱线干扰。在分析主要和次要成分时，同样需要留意这些问题。
但是，当峰背比为 50:1（主要或次要元素的典型情况）时，相比 3:1 或 2:1 甚至更低的值（常见于痕量元素测定），这些问题对背景强度精确估算的影响就要小得多了。
Pro-Trace 的目的是获取分析峰值的最精确净强度，可能受限于背景和谱线重叠的大部分校正。
总基体未知情况下的精确基体校正
如果未提供主要元素数据，则无法使用带有影响系数的 FP 模型或传统模型。随后，必须使用传统模型将分析恢复为“比率通道”。但是无法将此方法用于分析波长，因为管道康普顿峰值波长与分析波长之间存在主要/次要元素吸收限。唯一有效的选项是使用 Pro-Trace (MAC) 基体模型，其中包含用于“交叉”主要元素吸收限的选项。
设置样品以减轻对参考材料的要求
Pro-Trace 的一项关键功能是使用特别制备的空白样品和校准设置样品。这些设置样品针对 200 多种国际标准参考材料进行了校准，可使内部没有大规模标准库的实验室大大节省成本。
Pro-Trace 设置样品在 Malvern Panalytical 的诺丁汉工厂生产，并且 Pro-Trace 方法已通过 UKAS 认证，符合 ISO17025 标准。
规格
轻松的例行操作
在经验更为丰富的 XRF 用户对 Pro-Trace 进行设置后，常规操作员不必对 Pro-Trace 进行操作也能显著提高精度。各种成熟的精度增强功能均在幕后发挥效力。
针对 MAC（质量吸收系数）计算、背景校正、谱线重叠校正、管道杂质校正以及 Feather 和 Willis 背景校正计算的设置，设计了特殊的对话框。智能元素选择器可通过周期表访问，是一种简便易用的功能，可以确保用户测量一系列元素子集的正确元素组合。
Pro-Trace 软件包适用于 Zetium 光谱仪，可对地理和环境方面的材料进行痕量元素分析。