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Claisse 随时准备满足您的需求！
Claisse 以极具竞争力的价格为其客户提供来自世界各地的优质“认证参比材料”(CRM) 和“参比材料”(RM)。 无论您有何需求，Claisse 都会尽力为您提供所需的全方位服务，帮助您得到完美的 XRF、AA 和 ICP 光谱分析解决方案。
概述
您是否需要对电子设备、玩具、珠宝、岩石或最终成品中的微小物体或细小夹杂物进行元素分析？
专注微小区域分析的 Epsilon 1 是一款紧凑型 X 射线荧光光谱仪，可分析大小为 0.8 x 1.2 mm 的测量区域，是实现灵活与精准分析的理想分析解决方案。
Epsilon 1 采用独立式设计且占地面积小，因此可以放在样品位置附近，从而使该仪器成为在生产设施、勘探点和柜台处进行元素分析，甚至是在犯罪现场就刑侦调查进行元素分析的理想解决方案。
该光谱仪的性能符合不同行业市场领域内的不同指令和法规所要求的标准测试法，如面向电子设备的 RoHS-3 指令和针对众多消费类用品的 CPSIA 法规。
特点
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非破坏性分析
几乎不需要进行样品制备，即可直接在样品上执行测量。 由于 XRF 是一项无损技术，如果需要，样品也可以随后用其他分析技术进行测量。 -
微小区域分析
采用准直 X 射线射束，可以轻松对样品中的微小物体或细小夹杂物进行分析。 测量区域大小通常为 0.8 x 1.2 mm。 -
样品定位
在彩色相机和图片中瞄准线的帮助下，用户可以在仪器的分析区域手动定位样品。 -
分析报告
每次分析后，分析区域的照片会存储在内置计算机中。 单击即可生成带有照片的分析报告。
可靠且灵活的定量分析
为各种应用提供可靠检测结果，如 RoHS-3、WEEE、ELV、玩具、珠宝、岩石和最终产品检测。 这些得益于Omnian，Omnian 是马尔文帕纳科用于 XRF 仪器的无标分析软件包。
作为即用型的解决方案，Omnian 用来分析周期表中从钠到镅的各种元素成分。
借助专门校准，遵循 ASTM F2617 (RoHS) 等国际测试方法，或依据 ASTM F963（玩具）和 IEC 62123（电子设备）所描述的规格进行筛选。
ASTM F2617-15 符合 RoHS-3 指令
XRF 是对有毒金属和化合物进行筛选与定量分析的完善解决方案。
电子产品中的有毒金属含量受全球指令限制，如 RoHS-3、WEEE、ELV、电子信息产品污染控制管理办法（相当于中国的 RoHS 指令）及其他类似指令。 所有这些指令的范围会略有不同，但共同点是都对镉、铅、汞、六价铬和几种溴化苯基阻燃剂进行了限制。
ASTM F2617-15 是一种公认的测试方法，可以对受限元素和化合物的浓度进行定量分析。马尔文帕纳科的数据表表明 Epsilon 1 功能符合 ASTM F2617-15 要求，甚至是分析大小为 0.8 x 1.2 mm 的测量区域。
主要应用
用于小点分析的 Epsilon 1 在世界各地有着广泛的应用，包括：
- RoHS-3 (ASTM F2617-15)
- 玩具 (ASTM F963-16)
- 珠宝
- 非均质岩石
- 聚合物夹杂物
- 产品检查
- 刑侦学
