XRF 光谱仪可以配置专用软件选项,专门用于特定类型的 X 射线荧光分析。 通过结合应用模块(应用配置、校准和标样)或作为带有制样产品的套件,可以创建完整的分析解决方案。 所有的 Malvern Panalytical 产品均由我们的售后服务和客户服务机构提供支持。

在我们的知识中心,您可以找到有关我们的光谱仪可以提供的许多有趣的 XRF 应用的更多信息

Zetium 系列X射线荧光光谱仪

Zetium 系列X射线荧光光谱仪

卓越的元素分析

更多细节
测量 薄膜测量, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
元素范围 Be-U
分辨率 (Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
样品处理量 160per 8h day - 240per 8h day
技术类型 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 1

Epsilon 1

体积小巧、功能强大的便携式 XRF 分析仪

更多细节
测量 Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
元素范围 Na-Am
分辨率 (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
样品处理量 Up to - 80per 8h day
技术类型 X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 4

Epsilon 4

快速、准确的原位元素分析

更多细节
测量 薄膜测量, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
元素范围 C-Am
分辨率 (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
样品处理量 Up to - 160per 8h day
技术类型 X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

直接洞悉您的生产过程

更多细节
测量 Elemental analysis
元素范围 Na-Am
分辨率 (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
样品处理量 on-line
技术类型 Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

2830 ZT 圆晶分析仪

2830 ZT 圆晶分析仪

先进的半导体薄膜计量解决方案

更多细节
测量 化学鉴定, 薄膜测量, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
元素范围 Be-U
分辨率 (Mg-Ka) 35eV
样品处理量 up to 25 wafers per hour
LLD 0.1 ppm - 100%
技术类型 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪

Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪

超高的样品处理量

更多细节
测量 薄膜测量, Elemental analysis, Elemental quantification
元素范围 Be-U
分辨率 (Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
样品处理量 240per 8h day - 480per 8h day
技术类型 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Zetium 系列X射线荧光光谱仪

Zetium 系列X射线荧光光谱仪

卓越的元素分析

Epsilon 1

Epsilon 1

体积小巧、功能强大的便携式 XRF 分析仪

Epsilon 4

Epsilon 4

快速、准确的原位元素分析

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

直接洞悉您的生产过程

2830 ZT 圆晶分析仪

2830 ZT 圆晶分析仪

先进的半导体薄膜计量解决方案

Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪

Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪

超高的样品处理量

更多细节 更多细节 更多细节 更多细节 更多细节 更多细节
测量 薄膜测量, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification 薄膜测量, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Elemental analysis 化学鉴定, 薄膜测量, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification 薄膜测量, Elemental analysis, Elemental quantification
元素范围 Be-U Na-Am C-Am Na-Am Be-U Be-U
分辨率 (Mg-Ka) 35eV 135eV 135eV 135eV 35eV 35eV
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
样品处理量 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 80per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day
技术类型 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Zetium 系列X射线荧光光谱仪

Epsilon 1

Epsilon 4

Epsilon Xflow

2830 ZT 圆晶分析仪

Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪

Zetium 系列X射线荧光光谱仪 Epsilon 1 Epsilon 4 Epsilon Xflow 2830 ZT 圆晶分析仪 Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪

卓越的元素分析

体积小巧、功能强大的便携式 XRF 分析仪

快速、准确的原位元素分析

直接洞悉您的生产过程

先进的半导体薄膜计量解决方案

超高的样品处理量

更多细节 更多细节 更多细节 更多细节 更多细节 更多细节
测量类型
薄膜测量
Elemental analysis
Contaminant detection and analysis
Elemental quantification
化学鉴定
技术类型
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
元素范围 Be-U Na-Am C-Am Na-Am Be-U Be-U
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
分辨率 (Mg-Ka) 35eV 135eV 135eV 135eV 35eV 35eV
样品处理量 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 80per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day