在许多应用中，了解元素浓度是控制材料性质或确保遵守健康和安全法规的关键因素。 因此，仅探测到元素的存在通常是不够的，还必须量化元素的浓度。 所需的准确度取决于应用。
X 射线荧光和脉冲快热中子活化分析是非破坏性的、稳定的、易于使用的分析技术，用于测定各种材料在各种应用中的元素组成。 为了量化这些技术中的元素浓度，将测量的强度与来自认证参考材料或已知浓度的内部标准液的强度进行比较。 这些标准液应尽可能接近样品材料，以获得准确的结果。 测量的强度也受到样品的物理性质的影响，因此通常需要应用由用户软件处理的各种校正。
在许多行业中，无需专用标准液就能快速筛选未知成分的样品材料。 在这种情况下，诸如 Omnian 的无标样分析软件可用于测定总体元素组成并提供元素浓度的半定量值。
Zetium 系列X射线荧光光谱仪卓越的元素分析 |
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| 更多细节 | |
| 测量 | 薄膜测量, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 元素范围 | Be-U |
| 分辨率 (Mg-Ka) | 35eV |
| LLD | 0.1 ppm - 100% |
| 样品处理量 | 160per 8h day - 240per 8h day |
| 技术类型 | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪极高的样品处理量 |
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| 更多细节 | |
| 测量 | 薄膜测量, Elemental analysis, Elemental quantification |
| 元素范围 | Be-U |
| 分辨率 (Mg-Ka) | 35eV |
| LLD | 0.1 ppm - 100% |
| 样品处理量 | 240per 8h day - 480per 8h day |
| 技术类型 | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) |
CNA 系列中子活化在线物料分析系统Online elemental analyzers for effective control of many industrial processes |
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| 更多细节 | |
| 测量 | 化学鉴定, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 精确度 | 1% (不凝结) |
| 技术类型 | 脉冲快热中子活化分析 |
Epsilon 1占地面积小，功能强大 |
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| 更多细节 | |
| 测量 | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 元素范围 | Na-Am |
| 分辨率 (Mg-Ka) | 135eV |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| 样品处理量 | 40per 8h day - 80per 8h day |
| 技术类型 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon Xflow直接洞悉您的生产过程 |
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| 更多细节 | |
| 测量 | Elemental analysis |
| 元素范围 | Na-Am |
| 分辨率 (Mg-Ka) | 135eV |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| 样品处理量 | on-line |
| 技术类型 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
2830 ZT 圆晶分析仪先进的半导体薄膜计量解决方案 |
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| 更多细节 | |
| 测量 | 化学鉴定, 薄膜测量, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 元素范围 | Be-U |
| 分辨率 (Mg-Ka) | 35eV |
| 样品处理量 | up to 25 wafers per hour |
| LLD | 0.1 ppm - 100% |
| 技术类型 | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) |
Epsilon 4快速、准确的原位元素分析 |
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| 更多细节 | |
| 测量 | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 元素范围 | C-Am |
| 分辨率 (Mg-Ka) | 135eV |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| 样品处理量 | 80per 8h day - 160per 8h day |
| 技术类型 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Zetium 系列X射线荧光光谱仪卓越的元素分析 |
Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪极高的样品处理量 |
CNA 系列中子活化在线物料分析系统Online elemental analyzers for effective control of many industrial processes |
Epsilon 1占地面积小，功能强大 |
Epsilon Xflow直接洞悉您的生产过程 |
2830 ZT 圆晶分析仪先进的半导体薄膜计量解决方案 |
Epsilon 4快速、准确的原位元素分析 |
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| 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | |
| 测量 | 薄膜测量, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | 薄膜测量, Elemental analysis, Elemental quantification | 化学鉴定, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis | 化学鉴定, 薄膜测量, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| 元素范围 | Be-U | Be-U | Na-Am | Na-Am | Be-U | C-Am | |
| 分辨率 (Mg-Ka) | 35eV | 35eV | 135eV | 135eV | 35eV | 135eV | |
| LLD | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | |
| 样品处理量 | 160per 8h day - 240per 8h day | 240per 8h day - 480per 8h day | 40per 8h day - 80per 8h day | on-line | up to 25 wafers per hour | 80per 8h day - 160per 8h day | |
| 精确度 | 1% (不凝结) | ||||||
| 技术类型 | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | 脉冲快热中子活化分析 | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Zetium 系列X射线荧光光谱仪 |
Epsilon 系列台式能量色散型X射线荧光光谱仪 |
Axios FAST 多道同时式波长色散型X射线荧光光谱仪 |
2830 ZT 圆晶分析仪 |
CNA 系列中子活化在线物料分析系统 |
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卓越的元素分析 |
极高的样品处理量 |
先进的半导体薄膜计量解决方案 |
Online elemental analyzers for effective control of many industrial processes |
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| 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | |
| 测量类型 | |||||
| 薄膜测量 | |||||
| Contaminant detection and analysis | |||||
| 化学鉴定 | |||||
| 技术类型 | |||||
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |||||
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||||
| 脉冲快热中子活化分析 | |||||
| 元素范围 | Be-U | Na-Am, C-Am | Be-U | Be-U | |
| LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | |
| 分辨率 (Mg-Ka) | 35eV | 145eV | 35eV | 35eV | |
| 样品处理量 | 160per 8h day - 240per 8h day | 240per 8h day - 480per 8h day | up to 25 wafers per hour | ||
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