Epsilon Xline 将我们先进的能量色散 XRF (EDXRF) 技术与在线功能相结合。这种先进的解决方案可在卷对卷 (R2R) 涂层工艺中实现实时材料监测和过程控制。直接分析可以持续优化材料成分和负载，有助于最大限度地减少不合格生产并最大限度地提高成本效率。
适应性强的 Epsilon Xline 可以在各种表面和元素中提供精确和准确的过程控制。
在线全面自动化。得益于 Epsilon Xline 的无缝集成功能，可享受 R2R 的连续生产，适用于各种薄膜和涂层应用。
简单且安全。与手持式或传统仪器不同，Epsilon Xline 完全安全且易于使用，并提供高度准确的分析数据。
毕生经验。Epsilon Xline 借鉴 Malvern Panalytical 在元素分析领域长达 70 多年的 宝贵经验，与我们的行业合作伙伴合作开发，旨在满足其当前的需求，同时也能共同展望行业的未来。
最大产量。通过实时监测和无中断实现具有成本竞争力的生产，为您提供所需的直接洞察力和控制力，助力您的运营发挥最大效益。
最佳材料效率。消除不一致，避免浪费贵重材料，并使用我们的行业标准解决方案确保产出高质量产品。
经过验证的专利精度。Epsilon Xline 由客户开发和测试，采用获得专利的高度校准技术，可确保稳定的分析，以获得准确的结果。
铂催化剂占燃料电池总成本的 20% 以上，因此通过均匀分散和一致的分层优化催化剂涂层至关重要。快速、准确的工艺监测是理想的解决方案！Epsilon Xline 使高效的操作控制变得简单，帮助您：
X 射线荧光 (XRF) 是一种无损元素分析技术，可在催化膜涂层过程中进行在线监测，无需采集样品，不会造成化学或物理变化。
由此实现的实时在线分析可以快速优化许多工艺参数和产品属性。
Epsilon Xline 和我们的一系列 Epsilon 仪器采用经过验证的强大技术，该技术由最新的激发和探测技术提供支持。
设计精良的光路、适合轻元素和重元素的广泛激发功能，加上高灵敏度 SDD 探测器系统，这一切造就了 Epsilon Xline 的强大性能。这些创新共同产生了高度可重复和准确的结果，并且维护需求低。
| 样品类型 | 涂覆生产线 |
|---|---|
| Coating types | 连续、通道、补丁 |
| Line speed continuous coating | 最大 30 米/分钟 |
| Line speed patch coating | 最大 11 米/分钟
|
| 类型 | 金属陶瓷，侧窗式
50 µm (Be) |
|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | 由软件控制，适用电压 4 - 50 kV，最高 3 mA，最大射线管功率 15 W |
| X-Ray filtering | 六个，可通过软件选择（Cu 300 µm、Cu 500 µm、Al 50 µm、Al 200 µm、Ti 7 µm、Ag 100 µm） |
| 类型 | 高分辨率硅漂移探测器 SDD10
窗口: 8 µm (Be) |
|---|---|
| 分辨率 | < 145 eV @ 5.9 keV/1000 cps
通常为 135 eV @ 5.9 keV/1000 cps
|
| Radiation levels | 距离外表面 10 cm 处时 < 1 µSv/h |
|---|
通过内置 OPC 连接将 Epsilon Xline 无缝集成到您的生产线中。随附的专用软件包使您可以轻松针对不同的材料和测量模式设置 Epsilon Xline。通过直接在仪器中输入命令或通过远程控制台输入命令，易于使用的界面将显示完整追踪数据的概览。
适用于 Epsilon 台式系统的 Analytical EDXRF 软件包
测定涂层和多层的成分和厚度
请联系支持人员获取最新的用户手册。
请联系支持人员获取最新软件版本。
为确保您的仪器保持好的状态并发挥高性能，马尔文帕纳科提供了广泛的服务。 我们的专业知识和支持服务可确保您的仪器发挥高性能。
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Epsilon Xline 将我们先进的能量色散 XRF (EDXRF) 技术与在线功能相结合。这种先进的解决方案可在卷对卷 (R2R) 涂层工艺中实现实时材料监测和过程控制。直接分析可以持续优化材料成分和负载，有助于最大限度地减少不合格生产并最大限度地提高成本效率。
适应性强的 Epsilon Xline 可以在各种表面和元素中提供精确和准确的过程控制。
在线全面自动化。得益于 Epsilon Xline 的无缝集成功能，可享受 R2R 的连续生产，适用于各种薄膜和涂层应用。
简单且安全。与手持式或传统仪器不同，Epsilon Xline 完全安全且易于使用，并提供高度准确的分析数据。
毕生经验。Epsilon Xline 借鉴 Malvern Panalytical 在元素分析领域长达 70 多年的 宝贵经验，与我们的行业合作伙伴合作开发，旨在满足其当前的需求，同时也能共同展望行业的未来。
最大产量。通过实时监测和无中断实现具有成本竞争力的生产，为您提供所需的直接洞察力和控制力，助力您的运营发挥最大效益。
最佳材料效率。消除不一致，避免浪费贵重材料，并使用我们的行业标准解决方案确保产出高质量产品。
经过验证的专利精度。Epsilon Xline 由客户开发和测试，采用获得专利的高度校准技术，可确保稳定的分析，以获得准确的结果。
铂催化剂占燃料电池总成本的 20% 以上，因此通过均匀分散和一致的分层优化催化剂涂层至关重要。快速、准确的工艺监测是理想的解决方案！Epsilon Xline 使高效的操作控制变得简单，帮助您：
X 射线荧光 (XRF) 是一种无损元素分析技术，可在催化膜涂层过程中进行在线监测，无需采集样品，不会造成化学或物理变化。
由此实现的实时在线分析可以快速优化许多工艺参数和产品属性。
Epsilon Xline 和我们的一系列 Epsilon 仪器采用经过验证的强大技术，该技术由最新的激发和探测技术提供支持。
设计精良的光路、适合轻元素和重元素的广泛激发功能，加上高灵敏度 SDD 探测器系统，这一切造就了 Epsilon Xline 的强大性能。这些创新共同产生了高度可重复和准确的结果，并且维护需求低。
| 样品类型 | 涂覆生产线 |
|---|---|
| Coating types | 连续、通道、补丁 |
| Line speed continuous coating | 最大 30 米/分钟 |
| Line speed patch coating | 最大 11 米/分钟
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| 类型 | 金属陶瓷，侧窗式
50 µm (Be) |
|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | 由软件控制，适用电压 4 - 50 kV，最高 3 mA，最大射线管功率 15 W |
| X-Ray filtering | 六个，可通过软件选择（Cu 300 µm、Cu 500 µm、Al 50 µm、Al 200 µm、Ti 7 µm、Ag 100 µm） |
| 类型 | 高分辨率硅漂移探测器 SDD10
窗口: 8 µm (Be) |
|---|---|
| 分辨率 | < 145 eV @ 5.9 keV/1000 cps
通常为 135 eV @ 5.9 keV/1000 cps
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| Radiation levels | 距离外表面 10 cm 处时 < 1 µSv/h |
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通过内置 OPC 连接将 Epsilon Xline 无缝集成到您的生产线中。随附的专用软件包使您可以轻松针对不同的材料和测量模式设置 Epsilon Xline。通过直接在仪器中输入命令或通过远程控制台输入命令，易于使用的界面将显示完整追踪数据的概览。
适用于 Epsilon 台式系统的 Analytical EDXRF 软件包
测定涂层和多层的成分和厚度
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