Epsilon 软件
适用于 Epsilon 系统的 EDXRF 分析软件包。即使操作员经验有所欠缺,但只需对其稍加指导,他们便可以轻松执行日常 XRF 分析。
Online process control solutions for battery manufacturing and recycling. Find out more
Find out moreEpsilon Xline 将我们先进的能量色散 XRF (EDXRF) 技术与在线功能相结合。这种先进的解决方案可在卷对卷 (R2R) 涂层工艺中实现实时材料监测和过程控制。直接分析可以持续优化材料成分和负载,有助于最大限度地减少不合格生产并最大限度地提高成本效率。适应性强的 Epsilon Xline 可以在各种表面和元素中提供精确和准确的过程控制。
下载样本铂催化剂占燃料电池总成本的 20% 以上,因此通过均匀分散和一致的分层优化催化剂涂层至关重要。快速、准确的工艺监测是理想的解决方案!Epsilon Xline 使高效的操作控制变得简单,帮助您:
X 射线荧光 (XRF) 是一种无损元素分析技术,可在催化膜涂层过程中进行在线监测,无需采集样品,不会造成化学或物理变化。
由此实现的实时在线分析可以快速优化许多工艺参数和产品属性。
Epsilon Xline 和我们的一系列 Epsilon 仪器采用经过验证的强大技术,该技术由最新的激发和探测技术提供支持。设计精良的光路、适合轻元素和重元素的广泛激发功能,加上高灵敏度 SDD 探测器系统,这一切造就了 Epsilon Xline 的强大性能。这些创新共同产生了高度可重复和准确的结果,并且维护需求低。
样品处理 | |
---|---|
样品类型 | 涂覆生产线 |
涂层类型 | 连续、通道、补丁 |
线速连续涂覆 | 最大 30 米/分钟 |
线速修补涂层 | 最大 11 米/分钟 |
X 射线管 | |
类型 | 金属陶瓷,侧窗式 |
阳极材料 | Ag |
射线管设置 | 由软件控制,适用电压 4 - 50 kV,最高 3 mA,最大射线管功率 15 W |
光管滤光片 | 六个,可通过软件选择(Cu 300 µm、Cu 500 µm、Al 50 µm、Al 200 µm、Ti 7 µm、Ag 100 µm) |
窗口厚度 | 50 µm (Be) |
探测器 | |
类型 | 高分辨率硅漂移探测器 SDD10 |
窗口 | 8 µm (Be) |
分辨率 | < 145 eV @ 5.9 keV/1000 cps
通常为 135 eV @ 5.9 keV/1000 cps |
安全标准 | |
辐射 | 距离外表面 10 cm 处时 < 1 µSv/h |
通过内置 OPC 连接将 Epsilon Xline 无缝集成到您的生产线中。随附的专用软件包使您可以轻松针对不同的材料和测量模式设置 Epsilon Xline。通过直接在仪器中输入命令或通过远程控制台输入命令,易于使用的界面将显示完整追踪数据的概览。
适用于 Epsilon 系统的 EDXRF 分析软件包。即使操作员经验有所欠缺,但只需对其稍加指导,他们便可以轻松执行日常 XRF 分析。
测定涂层和多层的成分和厚度,从而能够同时测定多层膜材料的化学成分和厚度。
我们随时为您提供帮助。
在 Malvern Panalytical,您不仅投资于仪器,还投资于多年的高质量客户服务和终身设备支持。我们的服务工程师和全球客户支持网络始终待命,提供一系列专家建议和支持,因此无论何时需要,请随时联系我们!