元素分析

用于分析材料元素成分的技术

元素分析

材料的元素分析通常是产品质量和安全性的关键参数。例如,保证送入水泥窑中的原材料的元素成分正确对于设备平稳运转和效率最大化至关重要。 

同样重要的是,必须仔细监测是否存在硫、钠、钾和汞等潜在有害元素,因为它们可能会干扰流程或危害环境。 

最合适的元素分析技术取决于材料、材料位置和行业特定标准。

元素分析技术

有许多元素分析技术,它们有助于我们了解物质的元素组成。它能对材料的化学成分提出宝贵见解,帮助研究人员和各行业做出明智的决策。无论是分析药品的纯度、识别食品中的污染物,还是表征地质样品。

X 射线荧光 (XRF)

X 射线荧光 (XRF) 是一种无损技术,依靠将样品暴露在 X 射线下,从而发出特征 X 射线。 

它广泛用于各种应用领域的元素分析,包括合金鉴定、矿物勘探和制造过程中的质量控制。

脉冲快热中子活化分析 (PFTNA)

脉冲快热中子活化 (PFTNA) 是一种利用脉冲快热中子激活材料的专业技术。 

它在分析各种样品中的痕量元素和同位素方面具有独特的优势,包括地质、环境和核材料等。

激光诱导击穿光谱技术 (LIBS)

激光诱导击穿光谱 (LIBS) 是一种快速、微损的分析技术,通过将高能量激光脉冲聚焦到样品表面,从而分析材料的元素组成。此过程会产生微等离子体,并发射出能够表征所含元素特征的光谱。 

手持式 LIBS 因其速度快、便携性强以及能够分析锂、铍和硼等轻元素(这些元素通常是其他技术难以检测的)而备受青睐。其多功能性使其成为冶金、电池制造、采矿和环境监测等领域现场应用的理想工具。

SciAps Z 系列

可对超低元素浓度进行精密分析
SciAps Z 系列

电感耦合等离子体 (ICP)

ICP 是一种高温等离子源,可激发样品中的原子和离子,从而对元素进行精准量化。 

它是一种通用技术,可用于环境分析、地球化学和各种基质中痕量元素的测定。

原子吸收光谱 (AAS)

AAS 可测量样品中自由原子对光的吸收。它对于量化生物和环境样品中的痕量金属特别有用,因此在分析化学中不可或缺。

中子活化分析 (NAA)

NAA 是用中子轰击样品,诱发核反应。这是一种可用于鉴定和量化各种材料中痕量元素的灵敏方法,从考古文物到法医样本等。

Malvern Panalytical 提供哪些元素分析解决方案?

Malvern Panalytical 拥有一系列元素分析仪,提供各种元素分析技术可选。如果需要在完成精准分析的同时尽量减少样品制备工作,可以考虑使用 X 射线荧光 (XRF) 这一极具吸引力的技术。该技术已成为许多行业中元素成分分析的“黄金标准”。 

在分析固体、粉末、浆料、滤光片和润滑油时,XRF 特别适用。如需对在传送带上输送的材料进行线上分析,脉冲快热中子活化 (PFTNA) 分析是一项极具价值的技术。实时元素分析允许对正向和反向输送进行控制,这一点在许多流程中都至关重要。

我们提供全面的元素解决方案,可满足各种不同的应用需求,确保获得准确可靠的结果。探索我们以下元素分析仪器系列。

我们的产品如何比较

  • Zetium 系列X射线荧光光谱仪

    高端落地式 WDXRF 光谱仪

    Zetium 系列X射线荧光光谱仪

    测量类型

    • 薄膜测量
    • 污染物检测与分析
    • 化学鉴定

    技术类型

    • X 射线荧光 (XRF)
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • 脉冲快热中子活化分析

    元素范围

    • Be-Am

    LLD

    • 0.1 ppm - 100%

    分辨率 (Mg-Ka)

    通量

    • Up to - 240每8小时(一个工作日)
  • Epsilon 系列

    台式及在线 EDXRF 光谱仪

    Epsilon 系列

    测量类型

    • 薄膜测量
    • 污染物检测与分析
    • 化学鉴定

    技术类型

    • X 射线荧光 (XRF)
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • 脉冲快热中子活化分析

    元素范围

    • F-Am

    LLD

    • 1 ppm - 100%

    分辨率 (Mg-Ka)

    通量

    • 最高 - 160每8小时(一个工作日)
  • Axios FAST

    高通量同步 WDXRF 光谱仪

    Axios FAST

    测量类型

    • 薄膜测量
    • 污染物检测与分析
    • 化学鉴定

    技术类型

    • X 射线荧光 (XRF)
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • 脉冲快热中子活化分析

    元素范围

    • B-Am

    LLD

    • 0.1 ppm - 100%

    分辨率 (Mg-Ka)

    通量

    • Up to 480
  • 2830 ZT

    半导体薄膜计量解决方案

    2830 ZT

    测量类型

    • 薄膜测量
    • 污染物检测与分析
    • 化学鉴定

    技术类型

    • X 射线荧光 (XRF)
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • 脉冲快热中子活化分析

    元素范围

    • B-Am

    LLD

    • 0.1 ppm - 100%

    分辨率 (Mg-Ka)

    通量

    • 每小时最高25片晶圆
  • CNA 系列

    在线交叉带元素分析仪

    CNA 系列

    测量类型

    • 薄膜测量
    • 污染物检测与分析
    • 化学鉴定

    技术类型

    • X 射线荧光 (XRF)
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • 脉冲快热中子活化分析

    元素范围

    LLD

    分辨率 (Mg-Ka)

    通量

  • SciAps Z 系列

    可对超低元素浓度进行精密分析

    SciAps Z 系列

    测量类型

    • 薄膜测量
    • 污染物检测与分析
    • 化学鉴定

    技术类型

    • X 射线荧光 (XRF)
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • 脉冲快热中子活化分析

    元素范围

    LLD

    分辨率 (Mg-Ka)

    通量