矿业解决方案
提高从勘探到矿物加工的回收率和工艺效率
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近红外光谱法(NIR)是一种高度灵活的分析形式，可运用于广泛的研究和工业过程应用
便携式及手持式光谱仪可以定量或定性测定几乎任何元素，而无需将样品带到实验室
可轻松实现准确 XRF 分析所需的样品制备
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广泛应用的纳米颗粒、胶体、生物分子粒度和颗粒电荷测量系统
颗粒粒度智能测量方法
快速、准确的原位和在线元素分析
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一种用于研究所有类型材料的无损技术
动态光散射可用于蛋白质、纳米颗粒、聚合物和胶状分散体的粒度表征
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X射线荧光光谱学和 XRF 应用
分享知识有助于推动科学发展。我们提供一系列符合您需求的网络研讨会、讲座和培训课程，助您在和专家沟通交流的过程中，获得解决重大挑战的新思路，不断提高技术能力。
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I’m thrilled to announce that OmniTrust software, our data integrity and 21 CFR Part 11 compliance-ready solution, is now available for NanoSight Pro. Designed for pharmaceutical laboratories operating in regulated environments, OmniTrust extends the power of NSXplorer – the intuitive software platform behind NanoSight Pro – with features that support data integrity, user management, and […]
X-ray fluorescence (XRF) analysis is a key component of wafer metrology, a critical process for ensuring the performance and reliability of semiconductor devices. As the challenges faced by the semiconductor industry evolve, XRF wafer metrology must keep up. Here, we will explore the latest innovations in XRF wafer metrology, focusing on how the industry is […]
