光谱学

近红外光谱是一种非常灵活的光谱分析形式，同时也是一种经济高效的解决方案，用于测定材料以优化工艺流程。

ASD 系列可见光和近红外光谱仪和光谱辐射仪是用于材料鉴定和分析以及光能测量的理想解决方案。ASD 的全系列便携式解决方案涵盖以下光谱技术： 

• 可见光和近红外光谱
  
• SWIR（短波红外线）光谱
• 可见光和近红外光谱辐射

形态定向拉曼光谱或 MDRS 结合了颗粒物自动成像技术与拉曼光谱。它可对多成分样品中的各种成分进行快速且自动的化学和形态表征。

Morphologi 4-ID 在单个一体化平台上快速进行特定成分颗粒的自动化表征。 

X 射线荧光光谱用于识别样品中的元素，它通过 X 射线激发样品，然后测量样品发出的荧光 X 射线。通过测定荧光 X 射线的能量或波长来识别元素，并根据荧光 X 射线的强度来计算浓度。

有两种 x 射线光谱技术：能量色散光谱和波长色散光谱。Malvern Panalytical 提供多种 X 射线荧光光谱解决方案，用于提供样品的定性和定量信息。

PFTNA 使用光谱技术来解析元素浓度。这项技术正越来越多地用于各种行业，以实现高速的在线过程控制。

CNA 系列交叉带分析仪可提供极具代表性的元素分析，从而实现安全、可靠的实时在线过程控制。