物理学与应用物理学

陶瓷粉末、玻璃熔片 - 颗粒粒度

LD

陶瓷粉末、玻璃熔片

使用激光衍射粒度分析法检测陶瓷粉末中的超大颗粒

玻璃 - 元素分析

XRF

苏打玻璃/显微镜载玻片

苏打玻璃中的主量、微量和痕量化合物分析

磁性合金 - 晶体结构与温度

XRD

MnBi

高分辨率晶体学：研究新型永磁体

磁性纳米晶体 - 粒度/簇大小

DLS

Fe3O4 胶体纳米晶簇 (CNC)、Fe3O4@SiO2 胶体的烷醇溶液

使用 Zetasizer Nano 表征磁调胶体光子晶体

纳米颗粒 - 晶相和粒度

XRD/SAXS/PDF

TiO2 纳米粉末、TiO2 锐钛矿和金红石

使用实验室 X 射线衍射仪进行多技术纳米颗粒表征

磷光体 - 颗粒粒度和形状

成像技术

聚合物中的磷光体颗粒

使用 Sysmex FPIA-3000 表征 LED 照明下的磷光体颗粒

量子点 - 粒度、分子量和 Zeta 电位

DLS/ELS

量子点、CdSe 晶核与用羧基或聚乙二醇 (PEG) 功能化的 ZnS 壳

使用 Zetasizer Nano 测量量子点

量子点 - 表面体积比

XRD

胶体 CdS 量子点

胶体量子点上的 SAXS

单晶 - 取向

XRD

钨酸镉（单晶）

单晶钨酸镉的取向

玻璃上的薄膜 - 厚度和粗糙度

XRD

硼硅酸盐 (BK7) 玻璃上的离子镀 (IP) 和反应蒸发 (RE) TiO2

对玻璃上的薄层进行表征

DLS

动态光散射

Zetasizer

分子尺寸、流体力学半径 R_H、颗粒粒度、粒度分布、稳定性、浓度、团聚

ELS

电泳光散射法

Zetasizer

Zeta 电位、粒子电荷、悬液稳定性、蛋白质迁移率

ITC

等温滴定量热法

MicroCal  ITC

结合亲和力、溶液中分子反应的热力学

DSC

差示扫描量热法

Microcal DSC

大分子的变性（展开）、大分子的稳定性

GCI

格栅耦合干涉测量

Creoptix WAVEsystem

实时结合动力学和结合亲和力，无需对流体进行标记

IMG

自动化的图像分析

Morphologi 4

颗粒成像、自动形状和粒度测量

MDRS

形态导向拉曼光谱

Morphologi 4-ID

颗粒成像、自动形状和粒度测量、化学鉴定和污染物检测

LD

激光衍射

Mastersizer

Spraytec 喷雾粒度仪

Insitec

Parsum

颗粒粒度、粒度分布

NTA

纳米颗粒跟踪分析技术

NanoSight

颗粒粒度、粒度分布和浓度

SEC 或 GPC

尺寸排阻色谱法/

凝胶渗透色谱法

多检测器OMNISEC系统

分子尺寸、分子量、低聚态、聚合物或蛋白质粒度和分子结构

SPE

通过熔融制备样品

Le Neo

LeDoser

Eagon 2

The OxAdvanced

M4

rFusion

用于 XRF 的熔融片样品制备、用于 ICP 的过氧化物溶液制备、用于制备熔融片的助熔剂称重

UV/Vis/NIR/ SWIR

紫外/可见/近红外/短波红外光谱

LabSpec

FieldSpec

TerraSpec

QualitySpec

材料鉴定和分析、水分、矿物、碳含量。航空和卫星光谱技术的地面实况。

PFTNA

脉冲快热中子活化

CNA

在线元素分析

XRD-C

X 射线衍射（晶体学）

Aeris

Empyrean

分子晶体结构精修、

晶相定性分析和定量分析、结晶与非晶比、晶粒粒度分析

XRD-M

X 射线衍射（微结构）

Empyrean

X’Pert³ MRD(XL)

残余应力、织构

XRD-CT

通过计算机断层扫描进行 X 射线吸收成像

Empyrean

固体、孔隙度和密度的 3D 成像

SAXS

小角 X 射线散射

Empyrean

纳米颗粒、粒度、形状和结构

GISAXS

掠入射小角度 X 射线散射

Empyrean

纳米结构薄膜和表面

HR-XRD

高分辨率 X 射线衍射

Empyrean

X’Pert³ MRD(XL)

薄膜和外延多层、组成、应变、厚度、质量

XRR

X 射线反射仪

Empyrean

X’Pert³ MRD(XL)

薄膜和表面、膜厚度、表面和界面粗糙度

XRF

X 射线荧光

Epsilon

Zetium

Axios FAST

2830 ZT

元素组成、元素浓度、痕量元素、污染物检测