想利用我们的分析解决方案增进您对物理学与应用物理学的了解吗？ 我们提供了大量有用的文章，介绍了与我们的物理学研究解决方案高度相关的应用例子，无论您是学生、研究人员还是教授，均可从中获益。
该领域所研究的材料和所使用的分析设备通常与化学与应用化学以及材料科学与工程领域的应用重叠，因此请查看这些页面以了解更多有用信息！ 有关方法缩写的解释，请参见此页面的底部。
物理学中还研究和发明了仪器和分析方法。 这里我们只介绍与浓缩物质物理学研究相关的应用。 我们的仪器和研究科学家在科学期刊上发表了著作。 如果您在查找与我们仪器所依据的物理学技术（例如 X 射线散射、X 射线荧光、激光衍射或动态光散射）有关的研究级质量资料时需要帮助，请联系我们。
物理学与应用物理学
应用物理学研究包括：
- 纳米颗粒和纳米技术
- 胶体科学
- 光学材料
- 生物物理学
- 材料物理学
- 凝聚态物理学
- 超导体
- 半导体
- 光电
- 电磁材料
我们汇总了一些文章，举例说明了我们的分析方法可以在哪些领域提供物理学研究解决方案。 敬请查看，了解更多信息！
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物理学与应用物理学 |
方法 |
样品 |
应用说明标题（链接） |
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陶瓷粉末、玻璃熔片 - 颗粒粒度 |
LD |
陶瓷粉末、玻璃熔片 |
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玻璃 - 元素分析 |
XRF |
苏打玻璃/显微镜载玻片 |
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磁性合金 - 晶体结构与温度 |
XRD |
MnBi |
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磁性纳米晶体 - 粒度/簇大小 |
DLS |
Fe3O4 胶体纳米晶簇 (CNC)、Fe3O4@SiO2 胶体的烷醇溶液 |
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纳米颗粒 - 晶相和粒度 |
XRD/SAXS/PDF |
TiO2 纳米粉末、TiO2 锐钛矿和金红石 |
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磷光体 - 颗粒粒度和形状 |
成像技术 |
聚合物中的磷光体颗粒 |
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量子点 - 粒度、分子量和 Zeta 电位 |
DLS/ELS |
量子点、CdSe 晶核与用羧基或聚乙二醇 (PEG) 功能化的 ZnS 壳 |
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量子点 - 表面体积比 |
XRD |
胶体 CdS 量子点 |
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单晶 - 取向 |
XRD |
钨酸镉（单晶） |
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玻璃上的薄膜 - 厚度和粗糙度 |
XRD |
硼硅酸盐 (BK7) 玻璃上的离子镀 (IP) 和反应蒸发 (RE) TiO2 |
缩写解释
我们的产品和技术在产品页面上有相关说明。您可以在下面快速参考我们的仪器测量的特性，以及测量名称及其缩写。点击每种方法以了解更多信息！
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缩写 |
方法名称 |
仪器 |
测量特性 |
|---|---|---|---|
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DLS |
Zetasizer |
分子尺寸、流体力学半径 RH、颗粒粒度、粒度分布、稳定性、浓度、团聚 |
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ELS |
Zetasizer |
Zeta 电位、粒子电荷、悬液稳定性、蛋白质迁移率 |
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ITC |
MicroCal ITC |
结合亲和力、溶液中分子反应的热力学 |
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DSC |
Microcal DSC |
大分子的变性（展开）、大分子的稳定性 |
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GCI |
Creoptix WAVEsystem |
实时结合动力学和结合亲和力，无需对流体进行标记 |
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IMG |
Morphologi 4
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颗粒成像、自动形状和粒度测量
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MDRS |
Morphologi 4-ID |
颗粒成像、自动形状和粒度测量、化学鉴定和污染物检测 |
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LD |
Mastersizer Spraytec 喷雾粒度仪 Insitec Parsum |
颗粒粒度、粒度分布 |
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NTA |
NanoSight |
颗粒粒度、粒度分布和浓度 |
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SEC 或 GPC |
多检测器OMNISEC系统 |
分子尺寸、分子量、低聚态、聚合物或蛋白质粒度和分子结构 |
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SPE |
Le Neo LeDoser Eagon 2 The OxAdvanced M4 rFusion |
用于 XRF 的熔融片样品制备、用于 ICP 的过氧化物溶液制备、用于制备熔融片的助熔剂称重 |
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UV/Vis/NIR/ SWIR |
LabSpec FieldSpec TerraSpec QualitySpec |
材料鉴定和分析、水分、矿物、碳含量。航空和卫星光谱技术的地面实况。 |
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PFTNA |
CNA |
在线元素分析 |
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XRD-C |
Aeris Empyrean |
分子晶体结构精修、 晶相定性分析和定量分析、结晶与非晶比、晶粒粒度分析 |
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XRD-M |
Empyrean X’Pert3 MRD(XL) |
残余应力、织构 |
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XRD-CT |
Empyrean |
固体、孔隙度和密度的 3D 成像 |
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SAXS |
Empyrean |
纳米颗粒、粒度、形状和结构 |
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GISAXS |
Empyrean |
纳米结构薄膜和表面 |
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HR-XRD |
Empyrean X’Pert3 MRD(XL) |
薄膜和外延多层、组成、应变、厚度、质量 |
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XRR |
Empyrean X’Pert3 MRD(XL) |
薄膜和表面、膜厚度、表面和界面粗糙度 |
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XRF |
Epsilon Zetium Axios FAST 2830 ZT |
元素组成、元素浓度、痕量元素、污染物检测 |