马尔文帕纳科新一代 X'Pert³ MRD XL 高分辨X射线衍射仪其可靠性的增强及性能的改进提高了分析能力，提供一体化解决方案来满足不同需求和应用：
- 半导体和单晶晶圆：倒易空间探索、摇摆曲线分析
- 多晶固体和薄膜：织构分析、反射测量
- 超薄薄膜、纳米材料和非晶层：掠入射物相鉴定、面内衍射
- 非常温条件下的测量：随温度和时间变化的峰高
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