无论生产地点在哪里，您的客户都会要求聚合物性能优越的一致性。 Epsilon 4 是一款能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF) 台式光谱仪，用于提供了优越的重复性和准确性元素分析，可满足您的客户的一致性要求。
易于使用的测量程序，有限的公用设施要求和独特的校准解决方案，可在生产线附近和多个生产现场进行可再现的分析。 Epsilon 4 可提供长达数月的可靠结果，同时无需重新校准， 轻松保证产品质量。
原材料检验：来料的质量控制和ROHS符合性，如回收聚合物，添加剂，纤维。
过程控制：对钛、硅、钙、磷等元素进行快速和微量分析，以提高产品的一致性
最终质量控制：Epsilon 4可用于最终检测，以确保质量和成分，不同形状和厚度的产品在大样本模式下进行分析。
台式 XRF 的优势: Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。
低运行成本: Epsilon 4 不需要使用昂贵的酸、气体和通风柜，如在 ICP 和 AAS 中。 唯一要求是电源供电，在某些情况下使用氦气提升样品中轻元素的灵敏度。 同样，XRF 光谱仪中的各种成分不会暴露在摩擦或高温下，因此可以存留很多年。
非破坏性分析: 使用 Epsilon 4 进行测量是直接在疏松粉末或最终产品上进行的，几乎不需要进行样品制备。 由于 XRF 是一项无损技术，因此也可根据需要随后采用其他分析技术测量样品。
迅速、敏感: 硅漂移检测器技术可产生明显更高的射线强度，从而实现快速测量。 独特的检测模块可以处理超过 1,500,000 cps 的线性计数率（50% 的死时间，非线性度<1%），和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV（@300 kcps），可更好地对邻近谱线进行分离。强有力的探测性能使得 Epsilon 4 能谱仪超越了传统台式仪器，实现了更快的测试响应和更低的检出限。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。
Epsilon 4 直接为聚合物、塑料和油漆生产商带来不菲价值。 通过对整个生产过程以及生产相邻过程进行快速直接的分析，实现可追溯性。
验证所用原材料的质量，并分析最终产品中是否存在添加剂、催化剂残留物和有毒元素。 马尔文帕纳科提供校准解决方案 ADPOL、TOXEL 和 RoHS，支持其用户确保消费者安全、提供始终如一的高端产品质量和性能。
获取正确的校准样品是进行 XRF 分析的关键。
对于塑料和聚合物行业，我们开发了独特的校准解决方案，用于准确分析添加剂和催化剂残留物 (ADPOL)、有毒元素 (TOXEL)，依据 ASTM F2617 和 IEC 62321-3-1 确保符合 RoHS 标准 (RoHS)。
Epsilon 4 光谱仪可以处理类型广泛的样品，重量从几毫克到更大的块状样品不等。可以测量下列类型的样品：
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| 样品容量 | 具备 10 个位置的可移动样品交换器 |
|---|---|
| 样品尺寸 | 光谱仪最多可容纳直径 52 mm 的样品（疏松粉末、液体、浆料和固体） |
| Features | 包含自旋器，以提高液体、浆料和粉末结果的准确性 |
| Features | 稳定性高的金属陶瓷侧窗
50 微米薄铍窗，对轻元素高度敏感（Na、Mg、Al、Si） |
|---|---|
| Tube setting | Ag 阳极 X 射线光管，获得 P、S 和 Cl 分析的高性能 |
| 检测器类型 | 高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，通常为 135 eV @ Mn-Kα |
|---|---|
| Features | 最大值(M) 计数率 1,500,000 c/s（在 50% 的死时间下）
薄入探测器射窗，高灵敏度 |
| 软件 |
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|---|
Epsilon 软件是配合 PANalytical Epsilon 1 和 Epsilon 4 台式 EDXRF 系统系列使用的 XRF 分析软件平台。该软件提供了设置和运行 Epsilon 台式系统所需的全部功能。软件内置的丰富智能大大简化了分析程序的安装过程，使用户能够受益于半个世纪以来积累的应用专业知识。即使操作员经验有所欠缺，但只需对其稍加指导，他们便可以轻松执行日常 XRF 分析这样的例行任务。提供了许多功能，增强了软件的可用性。
当不存在专用方法或同类型标准样品时，Omnian 可帮助用户实现尽可能好的分析。 作为引领潮流的无标分析软件包，Omnian 融合了先进的软件和超越技术限制的设置样品。 Omnian 可用于 Epsilon 1、Epsilon 4 和 Zetium 光谱仪，无论是什么样品类型或基体，均可提供快速可靠的分析结果。
Stratos 软件模块采用的独特算法可通过执行的测量来实现多层膜材料的化学成分和厚度测定。该软件为涂层、表层和多层结构的分析提供了一种快速、简单且无损的方法。Virtual Analyst 针对复杂的堆栈，在测量程序设置期间提供了丰富的信息。
Stratos 可用于 Epsilon 4 EDXRF 和 Zetium XRF 光谱仪，无论是什么样品类型或基体，均可提供快速可靠的分析结果。
Enhanced Data Security (EDS) 模块是一个软件选件，可以增强 Zetium XRF 光谱仪（通过使用 SuperQ 软件）和 Epsilon XRF 光谱仪用户对结果的信心。EDS 提供了高级用户管理、操作日志、数据保护和应用程序状态分配等功能，可以帮助您强化审计轨迹、尽量降低出错风险，并确保 XRF 仪器如常工作。
FingerPrint 软件模块与 Epsilon 4 EDXRF 系统相结合，非常适合在分析速度很重要但实际成分不相关时的情况下执行材料测试。FingerPrinting 通常只需进行极少样品制备，甚至无需进行样品制备，并且没有破坏性。
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为确保您的仪器保持好的状态并发挥高性能，马尔文帕纳科提供了广泛的服务。 我们的专业知识和支持服务可确保您的仪器发挥高性能。
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