ASD FieldSpec 4 Hi-Res NG 光谱辐射仪

下一代高光谱传感器

  • 6 nm 增强型短波红外分辨率
  • 现场便携式设备中最小的可用光谱采样间隔
  • 覆盖整个 350-2500 nm 光谱范围

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概述

FieldSpec 4 Hi Res NG 光谱辐射仪具有最高的灵敏度,是户外和遥感应用的理想选择。

分辨率更高的高光谱传感器为遥感分类应用带来更高的精度,在图像中生成的每个像素提供的信息比以往任何时候都多。 为了帮助充分发挥这些新一代传感器的全部潜力,地面仪器的测量需要达到或超过传感器的光谱分辨率。 如果没有这种匹配的分辨率,则要在后处理期间插补数据,重要的光谱信息可能会被消除和丢失。

ASD FieldSpec 4 光谱辐射仪的增强光谱分辨率设计用于满足新一代高光谱成像系统的要求,如 AVRIS-NG 和 HySpex ODIN-1024。 除了光谱分辨率外,ASD FieldSpec 4 还集成了渐变折射率 InGaAs 光电二极管 SWIR 检测器,可在野外便携式设备中提供很小的可用光谱采样间隔,在 350 至 2,500 nm 的完整光谱范围内具有 1,875 个测量波长,确保甚至可以检测到细微的光谱特征。

特征

  • 最适合:需要最大灵敏度的用户,非常适合户外和遥感应用。

  • 卓越的信噪比: 灵敏度是 TerraSpec 和 LabSpec 的两倍,使其成为在阳光等有限自然光源下工作的最佳选择。

  • 永久光纤电缆: 工厂安装以消除连接点处的信号损失,确保最佳性能。

  • 遥感的理想选择: 用于对飞越传感器进行地面验证、匹配卫星数据,并确保在不同环境条件下进行准确的光谱测量。

  • 建议在阳光下使用: 对于在自然光下可靠地收集数据至关重要。

后色散 技术问题

预分散系统: 依靠内部光源,在光到达样品之前将其分散。

后分散系统: 反射后分散光线,从而可以利用太阳等外部光源。

ASD 仪器中使用的后色散系统技术提供了卓越的分析能力:

  • 测量来自外部光源的反射能量。
  • 适应不同的光照条件,无需依赖内部光线。
  • 为光谱辐射测定提供可靠的校准。

关键应用

遥感
  • 光谱遥感: 采集可见光、近红外和短波红外图像,以对表面材料、生物和化学过程进行检测、鉴定和定量,适用于多种环境和军事应用中的研究和分析。
  • 遥感和地质: 几十年来,ASD 的光谱辐射仪一直用于远程地质解读。
  • 大气遥感研究: 对直射、漫射和总光谱太阳辐照度以及天空和云辐射度的观察对于许多气候和生态系统能量平衡研究中的大气研究至关重要。
  • 航空遥感测量: 采集过大或无法进行地面测量的区域的光谱。
地面实况调查

实验室质量的原位现场测量具有等值照度和查看几何,以便准确关联卫星和飞机传感器数据。

野外光谱学

野外光谱学 — 研究野外环境中的物体光谱特征与其生物物理属性之间的相互关系。

植物生理学

ASD 系统用于确定植物生理状态,包括病情状况、与氮素吸收和水分平衡相关的营养状况。

伪装表征和检测

伪装或隐藏物体的检测需要能提供物体和背景材料之间对比的测量。

校准
  • 传感器校准: 成像传感器的精确辐射度校准对许多遥感应用至关重要。
  • 光谱辐射和辐射度校准: 光谱辐射是对每种波长下的绝对光辐射的测量,适用于多种设置,包括测量灯、LED 显示屏或其他光源的光谱能量输出,以确定到达森林地被物或其他场所的阳光通量。
监督分类

可以使用图像导出的或野外测量的光谱特征来执行监督分类。

景观生态学和生态学研究

能够在野外准确执行植被和土壤的反射率及辐射度测量对于了解植物群落内的光能利用和分区至关重要。

生物质分析

从大豆和其他作物的油含量表征到生物燃料处理中关键参数水平的定量和最终产品的质量分析,近红外 (NIR) 光谱是理想的测量工具。

这个 矿产勘探 流程

  1. 使用传感器进行航空测量: 专用传感器扫描大面积区域以寻找矿藏。
  2. 使用 FieldSpec 进行地面确认: 验证并完善航空测量图像。
  3. 定向钻探: 使用已确认的数据来确定精确的钻井位置。
  4. 材料分析: XRF 可识别金属,而 NIR 可精确定位特定的矿物成分。

The ASD FieldSpec 4 full spectral range makes it ideal for field campaigns needed to ground-truth orbital measurements, which typically extend to the longer wavelengths.

Dr. Ulyana Horodyskyj — CEO of Science in the Wild

参数指标

光谱性能 350-2500 nm
分辨率
3 nm @ 700 nm
6 nm  @ 1400/2100 nm
光谱带宽
1.4 nm @ 350-1000 nm
1.1 nm @ 1001-2500 nm
测量时间 100 毫秒
光源 VNIR 0.02%、SWIR 1 和 2 0.01%
Wavelength reproducibility 0.1 nm
波长准确性 0.5 nm
Maximum radiance VNIR 2X Solar, SWIR 10X Solar
通道 2151
检测器
VNIR 检测器 (350-1000 nm):512 元素硅阵列
SWIR 1 检测器 (1001-1800 nm):渐变折射率 InGaAs 光电二极管,双级 TE 冷却
SWIR 2 检测器 (1801-2500 nm):渐变折射率 InGaAs 光电二极管,双级 TE 冷却
Input 1.5 m 光纤(25° 视场)。 提供可选的视场更窄的光纤。
Noise Equivalent Radiance (NEdL)
VNIR  1.0 X10-9  W/cm2/nm/sr @700 nm
SWIR 1  8.0 X10-9  W/cm2/nm/sr @ 1400 nm
SWIR 2  8.0 X10-9  W/cm2/nm/sr @ 2100 nm
重量 5.44 kg (12 lbs)
校准类型
波长、绝对反射率、辐射度*、辐照度*。 所有校准均为 NIST 可溯源校准。 (*辐射度校准为可选)
计算机 Windows® 10 64-bit laptop(仪器控制器)
Warranty
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无论您身在何处,都具有最高的灵敏度。

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