行业特定的见解从这里开始 - 了解 Aeris XRD 如何提供重要的结果. 了解更多
了解更多作为一款现代化的多功能*衍射仪，Aeris 采用模块化设计，使可选择升级以及添加变得轻而易举 – 能保证产品的可用性意味着对未来的放心。
*非常规环境、反射、透射、掠入射、2D 衍射。
使用 Aeris，并非每位用户都需要掌握 XRD 专业知识。
其直观的界面、预加载的测量程序和简单的样品放置使所有人都能获得可重现的出色结果。
Aeris 的精密样品杯和外部装载系统使所有用户每次都能轻松正确地装载样品 – 适用于从粉末到固体的各种类型样品。
凭借受控的用户访问和合规软件，Aeris 可用于所有受监管的工作流程（根据 21 CFR 第 11 部分规定）。
可轻松管理多个用户。
Aeris 凭借其经典的测角仪和机载计算机，搭配高性能组件和精密样品台，短短五分钟内即可提供准确结果。
Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!
Damian G. Research
| 样品加载 | 外部样品装载 |
|---|---|
| Sample holders | 各种全尺寸样品杯可满足所有要求 |
| 样品更换 | 具有 6 个位置的全尺寸进样器
|
| 自动化 | 与自动化集成兼容
|
| 波长 | 铜或钴
|
|---|---|
| Tube setting | 在30 kV 或 40 kV 设置下，可从 300 W 至 600 W 的范围内选择
|
| Tube housing | 专利设计，采用抗腐蚀智能入射光路技术 (CRISP)。
CRISP 技术可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。专利号 US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直测角仪，耦合和解耦 θ-θ，样品始终保持水平
|
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano，透射，掠入射
|
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ≤142°（带扫描探测器和全有效长度）
|
| Angle positioning | 直接光学定位 (DOPS3)，在使用期限内始终精准定位
|
| Scan Speed | 最大 2.17°/s
|
| 分辨率 | 六硼化镧 (LaB6) 材料中 < 0.04°2θ（带 0.01 rad 索拉狭缝）
|
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 选择旋转台
|
|---|---|
| Non-ambient | 加热台选件（BTS-500、BTS-150）
|
| Exchange of stages | 无需校正的 PreFIX 样品台更换
|
| Special stages | 根据要求（手动、MPSS、原位）
|
| 检测器 | 在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 探测器之间进行选择
|
| 尺寸： | 690 x 770 x 786 毫米 |
|---|---|
| Dust protection | 带外部样品装载系统的密闭系统
|
| External cooling water supply | 不需要
|
| Compressed air supply | 不需要
|
| 电源 | 100 – 240 V，单相
|
| 计算机 | 内部仪器 PC
|
| 操作 | 直观的用户界面，配备 10.4 英寸触摸屏
|
| 界面 | LAN, USB, HDMI |
一维检测的终极多功能性和数据清晰度
Medipix 技术作为专用条带检测器
第一款为您的衍射仪提供 0D-1D-2D 和 3D 数据的探测器
针对工业流程控制进行自动 Rietveld 精修
自动化和受监管环境中的 XRD 分析
面向晶体学分析等应用的理想工具
多晶涂层中的应力分析
实现一键测试的高通量XRD分析
Aeris 可轻松实现对研究和工业环境中的任何样品进行表征和分析。但有时，您的应用需要专业的解决方案，或者您需要台式 xrd 系统的替代方案，以便校准和随时投入使用。
为满足这一需求，我们还提供了可以直接使用的针对特定行业的 Aeris 定制版本。这些特定的行业版本配备可定制的专业知识包，并针对您的特定分析方法或样品材料进行预校准。您的 Aeris 将准备使用内置 Roboriet 软件进行自动测量和分析。随时准备就绪！
在下面查找您的版本：
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 6
版本号: 7
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 6
版本号: 6
版本号: 6
版本号: 2
版本号: 4
版本号: 4
版本号: 3
版本号: 2
版本号: 4
版本号: 2
版本号: 3
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
为确保您的仪器保持最佳状态并发挥最高性能，Malvern Panalytical 提供了广泛的服务。我们的专业知识和支持服务可确保您的仪器发挥最佳功能。
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作为一款现代化的多功能*衍射仪，Aeris 采用模块化设计，使可选择升级以及添加变得轻而易举 – 能保证产品的可用性意味着对未来的放心。
*非常规环境、反射、透射、掠入射、2D 衍射。
使用 Aeris，并非每位用户都需要掌握 XRD 专业知识。
其直观的界面、预加载的测量程序和简单的样品放置使所有人都能获得可重现的出色结果。
Aeris 的精密样品杯和外部装载系统使所有用户每次都能轻松正确地装载样品 – 适用于从粉末到固体的各种类型样品。
凭借受控的用户访问和合规软件，Aeris 可用于所有受监管的工作流程（根据 21 CFR 第 11 部分规定）。
可轻松管理多个用户。
Aeris 凭借其经典的测角仪和机载计算机，搭配高性能组件和精密样品台，短短五分钟内即可提供准确结果。
Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!
Damian G. Research
| 样品加载 | 外部样品装载 |
|---|---|
| Sample holders | 各种全尺寸样品杯可满足所有要求 |
| 样品更换 | 具有 6 个位置的全尺寸进样器
|
| 自动化 | 与自动化集成兼容
|
| 波长 | 铜或钴
|
|---|---|
| Tube setting | 在30 kV 或 40 kV 设置下，可从 300 W 至 600 W 的范围内选择
|
| Tube housing | 专利设计，采用抗腐蚀智能入射光路技术 (CRISP)。
CRISP 技术可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。专利号 US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直测角仪，耦合和解耦 θ-θ，样品始终保持水平
|
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano，透射，掠入射
|
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ≤142°（带扫描探测器和全有效长度）
|
| Angle positioning | 直接光学定位 (DOPS3)，在使用期限内始终精准定位
|
| Scan Speed | 最大 2.17°/s
|
| 分辨率 | 六硼化镧 (LaB6) 材料中 < 0.04°2θ（带 0.01 rad 索拉狭缝）
|
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 选择旋转台
|
|---|---|
| Non-ambient | 加热台选件（BTS-500、BTS-150）
|
| Exchange of stages | 无需校正的 PreFIX 样品台更换
|
| Special stages | 根据要求（手动、MPSS、原位）
|
| 检测器 | 在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 探测器之间进行选择
|
| 尺寸： | 690 x 770 x 786 毫米 |
|---|---|
| Dust protection | 带外部样品装载系统的密闭系统
|
| External cooling water supply | 不需要
|
| Compressed air supply | 不需要
|
| 电源 | 100 – 240 V，单相
|
| 计算机 | 内部仪器 PC
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| 操作 | 直观的用户界面，配备 10.4 英寸触摸屏
|
| 界面 | LAN, USB, HDMI |
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Medipix 技术作为专用条带检测器
第一款为您的衍射仪提供 0D-1D-2D 和 3D 数据的探测器
针对工业流程控制进行自动 Rietveld 精修
自动化和受监管环境中的 XRD 分析
面向晶体学分析等应用的理想工具
多晶涂层中的应力分析
实现一键测试的高通量XRD分析
Aeris 可轻松实现对研究和工业环境中的任何样品进行表征和分析。但有时，您的应用需要专业的解决方案，或者您需要台式 xrd 系统的替代方案，以便校准和随时投入使用。
为满足这一需求，我们还提供了可以直接使用的针对特定行业的 Aeris 定制版本。这些特定的行业版本配备可定制的专业知识包，并针对您的特定分析方法或样品材料进行预校准。您的 Aeris 将准备使用内置 Roboriet 软件进行自动测量和分析。随时准备就绪！
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版本号: 8
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版本号: 6
版本号: 7
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版本号: 6
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版本号: 2
版本号: 4
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版本号: 3
版本号: 2
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版本号: 2
版本号: 3
OmniTrust software update v1.7a
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More information can be found in the Release and Installation Notes.
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