概述
从X射线粉末衍射至高分辨率薄膜研究
PIXcel1D 探测器适用于各类一维检测应用，适配 Cu, Co, Fe, Mn, Cr等中低能辐射波长，可实现以下检测功能:
- 物相鉴定与高通量筛选
- 物相混合物无标样定量分析
- 晶体结构精修
- 搭配原位样品台完成非常规环境条件下的物相转变测试
- 金属及合金的残余应力、织构分析与物相鉴定
- 大晶胞晶体的粉末衍射
- 薄膜材料研究
技术参数
| 类型 | 配备Medipix3的PIXcel1D 探测器 |
|---|---|
| 窗口尺寸 | 14 mm x 14 mm |
| Cu K效率 | >95% |
| 99%线性范围 | 0 – 6.5 x 109 计数/秒 – 整体
0 - 25 x 106 计数/秒 - 通道 |
| Cu K周围的能量分辨率 | 18% |
| 最大计数率 | 最大计数率为30 x 109 计数/秒 – 整体
120 x 106 计数/秒 - 通道 |
| 最大背景 | <0.5计数/秒 - 整体 |
| 有效长度 | 14 mm |
| 最小步长 | 测角仪半径为240 mm时为0.0016º 2θθ |
| 支持的波长 | Cu, Co, Fe, Mn, Cr |
| 失效通道数 | 0 |