Aeris Guía de usuario
版本号: 8
了解 Aeris XRD 如何改变采矿、金属等领域的材料分析. 了解更多
了解更多Aeris 矿产版是马尔文帕纳科为采矿行业所有用户打造的 X 射线衍射仪。它的主要特点是使用简单且投资回报率高。它占地面积小且无需压缩空气或冷却水,对基础设施的要求很低。与落地式 X 射线衍射系统相比,Aeris 的功耗要低得多。其自带的触屏电脑上具有非常直观的用户界面,可以直接显示您需要的所有结果。
专为采矿应用配置
XRD 为湿法冶金模型提供准确的矿物监测和输入信息,确保获得较为经济的加工条件。
Aeris 矿产版是您在生产过程中的每个阶段(从原材料到最终产品)的得力助手。
快速分析可显著缩短反馈循环,并能及早干预以实现工艺优化。 对于每个样品,Aeris 的典型测量时间都少于 10 分钟。
分析设备的正常运行时间是确保可靠过程控制的关键。 从始至终,Aeris 的设计目标是确保实现更长的正常运行时间。
直观的X射线衍射仪
借助内置触摸屏,只需轻点几下即可为您显示结果:
| 样品加载 | 外部样品装载 |
|---|---|
| Sample holders | 各种全尺寸样品杯可满足所有要求 |
| 样品更换 | 可选择手动装载台、6 位进样器或 67 位大容量进样器
|
| 自动化 | 与自动化集成兼容 |
| 波长 | 铜或钴 |
|---|---|
| Tube setting | 在30 kV 或 40 kV 设置下,可从 300 W 至 600 W 的范围内选择 |
| Tube housing | 专利设计,采用抗腐蚀智能入射光路技术 (CRISP)。
CRISP 技术可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。专利号 US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直测角仪,耦合和解耦 θ-θ,样品始终保持水平 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano,透射,掠入射 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ≤142°(带扫描探测器和全有效长度) |
| Angle positioning | 直接光学定位 (DOPS3),在使用期限内始终精准定位 |
| Scan Speed | 最大 2.17°/s |
| 分辨率 | 六硼化镧 (LaB6) 材料中 < 0.04°2θ(带 0.01 rad 索拉狭缝) |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 选择旋转台 |
|---|---|
| Non-ambient | 加热台选件(BTS-500、BTS-150) |
| Exchange of stages | 无需校正的 PreFIX 样品台更换 |
| Special stages | 根据要求(手动、MPSS、原位) |
| 检测器 | 在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 探测器之间进行选择 |
| 尺寸: | 690 x 770 x 786 毫米 |
|---|---|
| Dust protection | 带外部样品装载系统的密闭系统 |
| External cooling water supply | 不需要 |
| Compressed air supply | 不需要 |
| 电源 | 100 – 240 V,单相 |
| 计算机 | 内部仪器 PC |
| 操作 | 直观的用户界面,配备 10.4 英寸触摸屏 |
| 界面 | LAN, USB, HDMI |
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 6
版本号: 7
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 2
版本号: 4
版本号: 3
版本号: 2
版本号: 4
版本号: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
为确保您的仪器保持最佳状态并发挥最高性能,Malvern Panalytical 提供了广泛的服务。我们的专业知识和支持服务可确保您的仪器发挥最佳功能。
终身服务
帮助您提升工艺价值
Aeris 矿产版是马尔文帕纳科为采矿行业所有用户打造的 X 射线衍射仪。它的主要特点是使用简单且投资回报率高。它占地面积小且无需压缩空气或冷却水,对基础设施的要求很低。与落地式 X 射线衍射系统相比,Aeris 的功耗要低得多。其自带的触屏电脑上具有非常直观的用户界面,可以直接显示您需要的所有结果。
专为采矿应用配置
XRD 为湿法冶金模型提供准确的矿物监测和输入信息,确保获得较为经济的加工条件。
Aeris 矿产版是您在生产过程中的每个阶段(从原材料到最终产品)的得力助手。
快速分析可显著缩短反馈循环,并能及早干预以实现工艺优化。 对于每个样品,Aeris 的典型测量时间都少于 10 分钟。
分析设备的正常运行时间是确保可靠过程控制的关键。 从始至终,Aeris 的设计目标是确保实现更长的正常运行时间。
直观的X射线衍射仪
借助内置触摸屏,只需轻点几下即可为您显示结果:
| 样品加载 | 外部样品装载 |
|---|---|
| Sample holders | 各种全尺寸样品杯可满足所有要求 |
| 样品更换 | 可选择手动装载台、6 位进样器或 67 位大容量进样器
|
| 自动化 | 与自动化集成兼容 |
| 波长 | 铜或钴 |
|---|---|
| Tube setting | 在30 kV 或 40 kV 设置下,可从 300 W 至 600 W 的范围内选择 |
| Tube housing | 专利设计,采用抗腐蚀智能入射光路技术 (CRISP)。
CRISP 技术可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。专利号 US 8437451 B2。
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| Base configuration | 垂直测角仪,耦合和解耦 θ-θ,样品始终保持水平 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano,透射,掠入射 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ≤142°(带扫描探测器和全有效长度) |
| Angle positioning | 直接光学定位 (DOPS3),在使用期限内始终精准定位 |
| Scan Speed | 最大 2.17°/s |
| 分辨率 | 六硼化镧 (LaB6) 材料中 < 0.04°2θ(带 0.01 rad 索拉狭缝) |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 选择旋转台 |
|---|---|
| Non-ambient | 加热台选件(BTS-500、BTS-150) |
| Exchange of stages | 无需校正的 PreFIX 样品台更换 |
| Special stages | 根据要求(手动、MPSS、原位) |
| 检测器 | 在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 探测器之间进行选择 |
| 尺寸: | 690 x 770 x 786 毫米 |
|---|---|
| Dust protection | 带外部样品装载系统的密闭系统 |
| External cooling water supply | 不需要 |
| Compressed air supply | 不需要 |
| 电源 | 100 – 240 V,单相 |
| 计算机 | 内部仪器 PC |
| 操作 | 直观的用户界面,配备 10.4 英寸触摸屏 |
| 界面 | LAN, USB, HDMI |
版本号: 8
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版本号: 8
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版本号: 4
版本号: 3
版本号: 2
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