了解 Aeris XRD 如何改变采矿、金属等领域的材料分析. 了解更多
了解更多Aeris 矿产版是马尔文帕纳科为采矿行业所有用户打造的 X 射线衍射仪。它的主要特点是使用简单且投资回报率高。它占地面积小且无需压缩空气或冷却水，对基础设施的要求很低。与落地式 X 射线衍射系统相比，Aeris 的功耗要低得多。其自带的触屏电脑上具有非常直观的用户界面，可以直接显示您需要的所有结果。
专为采矿应用配置
XRD 为湿法冶金模型提供准确的矿物监测和输入信息，确保获得较为经济的加工条件。
Aeris 矿产版是您在生产过程中的每个阶段（从原材料到最终产品）的得力助手。
快速分析可显著缩短反馈循环，并能及早干预以实现工艺优化。 对于每个样品，Aeris 的典型测量时间都少于 10 分钟。
分析设备的正常运行时间是确保可靠过程控制的关键。 从始至终，Aeris 的设计目标是确保实现更长的正常运行时间。
直观的X射线衍射仪
借助内置触摸屏，只需轻点几下即可为您显示结果：
| 样品加载 | 外部样品装载 |
|---|---|
| Sample holders | 各种全尺寸样品杯可满足所有要求 |
| 样品更换 | 可选择手动装载台、6 位进样器或 67 位大容量进样器
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| 自动化 | 与自动化集成兼容 |
| 波长 | 铜或钴 |
|---|---|
| Tube setting | 在30 kV 或 40 kV 设置下，可从 300 W 至 600 W 的范围内选择 |
| Tube housing | 专利设计，采用抗腐蚀智能入射光路技术 (CRISP)。
CRISP 技术可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。专利号 US 8437451 B2。
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| Base configuration | 垂直测角仪，耦合和解耦 θ-θ，样品始终保持水平 |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano，透射，掠入射 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ≤142°（带扫描探测器和全有效长度） |
| Angle positioning | 直接光学定位 (DOPS3)，在使用期限内始终精准定位 |
| Scan Speed | 最大 2.17°/s |
| 分辨率 | 六硼化镧 (LaB6) 材料中 < 0.04°2θ（带 0.01 rad 索拉狭缝） |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 选择旋转台 |
|---|---|
| Non-ambient | 加热台选件（BTS-500、BTS-150） |
| Exchange of stages | 无需校正的 PreFIX 样品台更换 |
| Special stages | 根据要求（手动、MPSS、原位） |
| 检测器 | 在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 探测器之间进行选择 |
| 尺寸： | 690 x 770 x 786 毫米 |
|---|---|
| Dust protection | 带外部样品装载系统的密闭系统 |
| External cooling water supply | 不需要 |
| Compressed air supply | 不需要 |
| 电源 | 100 – 240 V，单相 |
| 计算机 | 内部仪器 PC |
| 操作 | 直观的用户界面，配备 10.4 英寸触摸屏 |
| 界面 | LAN, USB, HDMI |
一维检测的终极多功能性和数据清晰度
Medipix 技术作为专用条带检测器
适用于物相鉴定等应用的全谱图方法
面向晶体学分析等应用的理想工具
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