Aeris

今后会推出紧凑型

敬请期待我们高度准确的快速 XRD 系统,会令您大吃一惊:Aeris。5 分钟内即可提供精确结果。此前只有大型落地式 xrd 系统才能实现如此快速的高质量数据采集。这款紧凑型 Aeris 外形小巧、功能强大,是同类产品中的首创。 

将一步样品装载与控制用户访问的功能相结合,还可让用户选择脱机设计数据采集程序,为所有用户(从初学者到专家)提供一款实用的多功能系统。   

无论您的应用处于多功能性和专业化之间的哪个层级,Aeris 都能为您提供支持。  

Om_logo.png   使用 OmniTrust:Malvern Panalytical 针对受监管环境的合规性解决方案

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特点与优势

能够满足未来需求

作为一款现代化的多功能*衍射仪,Aeris 采用模块化设计,使可选择升级以及添加变得轻而易举 – 能保证产品的可用性意味着对未来的放心。 

*非常规环境、反射、透射、掠入射、2D 衍射。

能够满足未来需求

即插即用,方便简单

使用 Aeris,并非每位用户都需要掌握 XRD 专业知识。其直观的界面、预加载的测量程序和简单的样品放置使所有人都能获得可重现的出色结果。

即插即用,方便简单

轻松、可重现的样品装载

Aeris 的精密样品杯和外部装载系统使所有用户每次都能轻松正确地装载样品 – 适用于从粉末到固体的各种类型样品。 

轻松、可重现的样品装载

兼容受监管环境

凭借受控的用户访问和合规软件,Aeris 可用于所有受监管的工作流程(根据 21 CFR 第 11 部分规定)。可轻松管理多个用户。

兼容受监管环境

快速准确

Aeris 凭借其经典的测角仪和机载计算机,搭配高性能组件和精密样品台,短短五分钟内即可提供准确结果。 

快速准确

今后会推出紧凑型

评价

物超所值,使用快捷方便,数据出色;实属佳品!

Damian G. 研究

规格

样品处理
样品装载 外部样品装载
样品杯 各种全尺寸样品杯可满足所有要求
样品更换 具有 6 个位置的全尺寸进样器
自动化 与自动化集成兼容
X 射线发生器
波长 铜或钴
射线管设置 在30 kV 或 40 kV 设置下,可从 300 W 至 600 W 的范围内选择
光管管套 专利设计,采用抗腐蚀智能入射光路技术 (CRISP)*。
*CRISP 技术可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。专利号 US 8437451 B2。
测角仪
配置 垂直测角仪,耦合和解耦 θ-θ,样品始终保持水平
几何 Bragg-Brentano,透射,掠入射
半径 145 mm
最大量程 2θ -4°< 2θ≤142°(带扫描探测器和全有效长度)
角度定位 直接光学定位 (DOPS3),在使用期限内始终精准定位
扫描速度 最大 2.17°/s
可达到的最高分辨率 六硼化镧 (LaB6) 材料中 < 0.04°2θ(带 0.01 rad 索拉狭缝)
2θ 线性度 < 0.04°2θ
最小可用步长 0.001 度
样品台
旋转台 选择旋转台
非常规环境 加热台选件(BTS-500、BTS-150)
样品台更换 无需校正的 PreFIX 样品台更换
特殊样品台 根据要求(手动、MPSS、原位)
探测器
探测器 在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 探测器之间进行选择
常规
尺寸(高 x 宽 x 深) 690 毫米 x 770 毫米 x 786 毫米/ 27 英寸 x 30 英寸 x 31 英寸
防尘 带外部样品装载系统的密闭系统
外部冷却水供应 不需要
压缩空气供应 不需要
电源 100 – 240 V,单相
计算机 内部仪器 PC
操作 直观的用户界面,配备 10.4 英寸触摸屏
界面 LAN、USB、HDMI

软件解决方案

Aeris 仪器和测量由其机载数据采集软件和预加载的测量程序运行。用户还可以编写自己的程序。 

对于物相定量、非晶体含量等,机载的 RoboRiet 软件可以执行自动分析,提供即时屏幕查看并传输到结果数据库。 

还可以通过 X'Pert Industry 自动进行测量和分析。Industry 提供了独特的脚本编写功能,可针对任何流程控制应用程序自定义数据收集和基于校准线的定量方法。LIMS 系统的结果报告也是完全可配置的。 

或者,您可以使用我们的软件包 HighScore PlusStress Plus 自行执行深入分析。 

在法规合规性和数据完整性方面,Omnitrust 可满足您在受监管环境中的用户管理和数据审计要求。

RoboRiet

对 Rietveld 方法及轮廓拟合的特殊“仅执行”实施,适用于 XRD 物相定量、非结晶定量等等。 

RoboRiet

Industry

该软件用于在工业环境中进行例行 X 射线衍射分析,涵盖了从无监管到完全监管、从手动控制到完全自动化的各类系统。

Industry

HighScore Plus

在识别样品中的所有物相后,无论是您是否使用 Rietveld 方法进行定量处理,还是进行轮廓拟合和谱图处理,这款一体化软件套件将继续为您的分析提供支持。

HighScore Plus

Stress Plus

Stress Plus 软件专用于对多晶涂层中的残余应力执行 X 射线衍射 (XRD) 分析。该软件使用单向和多向技术来执行 sin²ψ 残余应力分析。 

Stress Plus

专业版

Aeris 可轻松实现对研究和工业环境中的任何样品进行表征和分析。但有时,您的应用需要专业的解决方案,或者您需要台式 xrd 系统的替代方案,以便校准和随时投入使用。

为满足这一需求,我们还提供了可以直接使用的针对特定行业的 Aeris 定制版本。这些特定的行业版本配备可定制的专业知识包,并针对您的特定分析方法或样品材料进行预校准。您的 Aeris 将准备使用内置 Roboriet 软件进行自动测量和分析。随时准备就绪! 

在下面查找您的版本:

Aeris 研究版

提供多功能、准确的材料分析解决方案以满足您的所有需求。
Aeris 研究版

Aeris 水泥版

直接探测水泥及其中间体的矿物成分。
Aeris 水泥版

Aeris 矿产版

使采矿行业中的每个人都能对矿石进行各种分析。
Aeris 矿产版

Aeris 金属版

用于快速、可靠地分析烧结物、直接还原铁和残余奥氏体。
Aeris 金属版

Aeris 制药应用

适合应用于药品开发和生产的固体分析
Aeris 制药应用

支持

服务

提升投资回报的解决方案

为确保您的仪器保持最佳状态并发挥最高性能,Malvern Panalytical 提供了广泛的服务。我们的专业知识和支持服务可确保您的仪器发挥最佳功能。

支持

终身服务

  • 电话和远程支持
  • 预防性维护和检查
  • 灵活的客户服务协议
  • 性能认证
  • 硬件和软件升级
  • 本地和全球支持

专业知识

帮助您提升工艺价值 

  • 样品制备开发/优化
  • 分析方法 
  • XRD 一体化解决方案 
  • 通过 IQ/OQ/PQ 操作,质量保证(GLP、ISO17025)或循环/实验室间研究
  • 咨询服务

培训和教育

  • 在现场或我们的能力中心开展培训
  • 广泛的基础和高级课程,涵盖产品、应用和软件

The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic.

Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann