污染物检测和分析

识别和理解工艺问题,确保产品质量和安全

污染物检测和分析

污染可能对产品质量和流程效率产生不利影响,同时可能严重危害公共健康或环境安全。 因此,健康与安全法规对电子产品和消费产品中的有害元素含量做出了限制。 

污染物或杂质粒子有多种来源,包括腐蚀或损坏的设备部件、催化剂、工艺流程的交叉污染、包装,甚至是生物来源。

我们的仪器

污染物检测、计算和识别(某些情况下)能够明确工艺问题,帮助确保产品安全和质量。 

马尔文帕纳科为污染物分析提供多种解决方案,帮助您理解和监控工艺流程和产品,这些解决方案在各个行业得到了广泛的应用,包括法医科学、水处理、增材制造、制药和生物制药产品、建筑材料食品与饮料、燃油和精细化工。

我们的产品如何比较

  • Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列

    自动成像颗粒表征技术

    Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列

    技术类型

    • 图像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • X 射线衍射 (XRD)
    • 脉冲快热中子活化分析
  • Zetium 系列X射线荧光光谱仪

    高端落地式 WDXRF 光谱仪

    Zetium 系列X射线荧光光谱仪

    技术类型

    • 图像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • X 射线衍射 (XRD)
    • 脉冲快热中子活化分析
  • Epsilon 系列

    台式及在线 EDXRF 光谱仪

    Epsilon 系列

    技术类型

    • 图像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • X 射线衍射 (XRD)
    • 脉冲快热中子活化分析
  • Empyrean 锐影系列

    多用途 X 射线衍射仪

    Empyrean 锐影系列

    技术类型

    • 图像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • X 射线衍射 (XRD)
    • 脉冲快热中子活化分析
  • 2830 ZT

    半导体薄膜计量解决方案

    2830 ZT

    技术类型

    • 图像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • X 射线衍射 (XRD)
    • 脉冲快热中子活化分析
  • CNA 系列

    在线交叉带元素分析仪

    CNA 系列

    技术类型

    • 图像分析
    • 波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
    • 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
    • X 射线衍射 (XRD)
    • 脉冲快热中子活化分析