已衍生的计数率 – 这是什么？

在动态光散射（DLS）中，我们通常主要关心的是强度波动的水平——但在分析之前，我们需要看到良好的信号。信号强度即散射强度，以每秒光子数来测量，或者如在Zetasizer中那样，使用每秒千计数（kcps）来表示。到达探测器的每秒光子数平均值也称为平均计数率、实际计数率或仅为散射强度。

什么是平均计数率？

如果Zetasizer的探测器在100秒内收集到1,000,000个光子，那么在那次测量中，平均计数率是1,000,000光子/100秒 = 10,000光子/秒 = 10 kcps。这个数值代表在那个特定仪器下，特定样品及特定光学设置的实验中平均散射强度。在实际样品中，平均计数率可能更高，通常为200 – 500 kpcs。Zetasizer具有非常大的动态范围，这意味着它可以检测到非常低浓度以及非常高浓度样品的散射。系统内部使用的一种技巧是通过衰减器阻挡一部分信号，因此即使对敏感的光子探测器而言光线过多，也可以通过使用衰减器来测量其中的一部分。

什么是衍生计数率？

如果在测量过程中使用了仅允许0.3%光线通过的衰减器，那么测得的平均计数率将仅为没有衰减器时获得信号的0.3%。在Zetasizer中可以使用一系列不同的衰减器，在自动模式下，系统会选择一个衰减水平以达到最佳200-500kcps范围的平均计数率。在Zetasizer microV和APS中，还有更多可用的微调，因为激光强度也可以独立调节。我们如何比较在不同衰减水平下测量的两个不同样品的信号强度？我们可以使用在100%激光功率和零衰减下将获得的理论计数率。这被称为衍生计数率（DCR），它可以作为比较不同样品信号强度的有用指标：更高的衍生计数率通常表示更高的浓度、更大的颗粒或更高的浓度和更大的颗粒。右侧的表格列出了不同的衰减器位置及其各自的衰减或透射水平。还有一个较旧的FAQ-什么是衍生计数率? 要在您的软件中显示衍生计数率，请查看“如何显示自定义参数”中提到的FAQ。

示例1：如果样品的平均计数率为200 kcps，而Zetasizer使用了0.3%衰减的衰减器，那么衍生计数率将为100 kcps / 0.3% = 100 kcps / 0.003 = 33,333 kcps。

示例2：如果样品的平均计数率为150kcps，而Zetasizer microV使用了0.1%的衰减器和10%的激光功率，那么衍生计数率将为150 kcps / 0.1% / 10% = 150 kcps / 0.001 / 0.1 = 1,500,000 kcps。

这如何与SLS相关？

理论上，在理想样品中，衍生计数率可用于静态光散射（SLS），其中随样品浓度变化的散射可得分子量和二级维里系数（A2或B22）。在实际实验中，静态光散射通常通过固定所有衰减参数来避免衰减系数的任何不确定性。此外，由于在SLS中我们常常关注样品中的最小散射体，通常通过短时间的多次实验（~20毫秒，然后剔除异常值后取平均）来平均强度，而不是DLS中使用的较长相关时间（~10秒，其中一切都贡献）。

如何显示衍生计数率？

选择一个工作区，例如大小工作区，然后编辑它 – 记录视图参数 – 测量 – 大小 – 衍生计数率，并用右箭头将其移动到工作空间。然后每个大小记录的衍生计数率将显示在大小工作空间中。

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