SDCOM

SDCOM 能够测量尺寸小至 1 mm 的晶体，采用方位扫描方法，只需测量一次，不到几秒钟，即可精确测定单晶的完整晶面取向。SDCOM 适用于研究和生产质量控制，功能多样且易于使用，可轻松适应各种晶圆和晶棒流程步骤，无需水冷却。