SDCOM 能够测量直径在 2 毫米到 300 毫米之间的任何单晶体，采用方位扫描方法，只需旋转一次测量，不到几秒钟，即可精确测定单晶的完整晶格取向。
SDCOM 适用于研究和生产质量控制，功能多样且易于使用，可轻松适应各种晶圆和硅锭流程步骤。同时由于无需水冷却，因此运行成本极低。
需要更多信息？
索取报价、更多信息或下载手册，请点击下方对应选项
April 2025 English
版本号: 1
请联系支持人员获取最新软件版本。
