Crystal orientation 晶向定位系列

晶圆和铸锭快速准确的晶向定位

从全自动的在线分析到晶圆材料的快速质量检查，我们的晶向定位解决方案在设计时考虑了晶棒、铸锭、切片和晶圆的全部应用场景。此系列产品利用XRD分析技术在晶圆生产的全部流程中提供简单、快速、高精度的晶体定向测量，大大提高产品良率。

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支持的产品

DDCOM

小巧多工高速型自动晶向定位

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
DDCOM

XRD-OEM

晶棒、铸锭和切片的全自动在线晶向定位

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
XRD-OEM

Wafer XRD 200

快速、精确且功能齐全：我们为晶圆成品端控制提供的解决方案

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
Wafer XRD 200

Wafer XRD 300

您的可集成晶圆定向解决方案

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
Wafer XRD 300

SDCOM

台式超高速多功能晶体定向仪

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
SDCOM

Omega/Theta XRD

用于高速晶向定位的全自动垂直三轴X射线衍射仪

测量
Crystal structure determination
技术类型
X-ray Diffraction (XRD)
Omega/Theta XRD