要最大程度实现日常实验室运行的分析方法价值,应从确保正确、完整地设置方法开始。 后续用于重复性方法维护的时间应尽可能少。

出于此原因,Malvern Panalytical 提供了包括全面方法实施在内的完整分析解决方案。 我们的专家将在您的工作流程中设置和集成我们的分析模块,并且向您的实验室人员提供使用方面的培训。 此外,还包括设置经过优化的方法验证和维护程序。

下面列出的解决方案可作为新仪器的一部分订购,也可部署在已安装的系统上。 他们将让您可从我们解决方案提供的全方位潜力中获益,从而最大程度实现投资价值。

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元素分析

各种材料的无标元素分析

一站式元素分析解决方案

在面临样品完全未知,或者在无法轻松获得或完全无法提供校准标准或参考材料的情况下,无标 XRF 分析是重要的解决方案。 Omnian 是高端而又易于使用的无标分析模块,涵盖从 F 到 U 的所有元素。 使用此模块可以获得各种样品类型的定量分析结果,如粉末压片、熔片、疏松粉末和液体。 重要应用包括“一次性”样品的元素分析、筛选和故障分析。

Omnian 专业计划

此专业计划提供适合 Malvern Panalytical WD XRF 和台式 EDXRF 系列系统的完整且随时可用的无标分析解决方案。 作为完整的验证和漂移监测工作流程,还包括各种材料类型的工艺参数设置。 对于 Zetium、Axios 或 MagiX 光谱仪,可以进行快速扫描设置,从而在 2 分钟内实现整个元素范围的定量分析。 Omnian 设置可针对特定材料类型优化,包括 TAG 设置样品。 此外,针对痕量和微量元素的增强定量分析,还可根据要求将基于峰值的测量包含在内。

包括:

  • 由 Omnian 设置样品、漂移监测样品和 Omnian SuperQ 软件许可组成的套件
  • Omnian 无标分析程序的设置,包括处理许多不同材料类型的工艺参数
  • 快速扫描设置(仅限 Zetium、Axios 或 MagiX 系统)
  • 分析验证和校准维护程序设置,包括说明如何使用分析质量指标
  • 有关样品高效制备的建议和指导
  • 用户培训和文档

可选

  • 使用 TAG 样品优化特定元素和材料的准确率
  • 将峰值测量用于微量元素和痕量的增强定量分析
  • 面向 WD XRF 系统,可实现 QA/QC 工作流程全自动化的统计过程控制 (SPC)*

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX 或 Epsilon 系列系统
  • 样品制备设备

联系专家

* Zetium 系统已附带 SPC

地质和有机材料:高精度痕量分析

使用 XRF 的高精度痕量分析的一站式解决方案

需要可靠的痕量元素数据才能满足各个行业领域日益增加的需求,如矿物勘探、土壤以及农业科学和地球化学研究。 控制环境污染的全球立法日益增多意味着许多行业都需要可靠的低元素浓度定量分析。

痕量元素分析是一项挑战。 仪器优化、建立稳健的测量程序和正确的数据处理是分析员需解决的几个问题。 相应校准标准的可用性和选择是另一项重要但通常被忽视的费用。

Pro-Trace 专业计划

Pro-Trace 解决方案由经验丰富的分析员开发,可用于痕量元素分析,在 XRF 市场领域独一无二且无与伦比。 Pro-Trace 概念可应用于解决与确定低元素浓度所相关特定挑战的高级算法。 此外,软件内嵌入的专家知识涵盖了“测量什么”和“如何测量”。

Pro-Trace 提供 40 种痕量元素的高精度定量分析,精度可达单位数或更低 ppm 水平。 Pro-Trace 解决方案包含一系列专门设计的校准设置样品和空样品。 这些设置样品参考了 200 多种国际标准参考材料,可使内部没有大规模标准库的实验室大大节省成本。

可以对以下材料进行分析:

  • 岩石和土壤
  • 水泥
  • 熟料
  • 飞尘
  • 石灰石
  • 煤炭业
  • 植被
  • 生化质

包括:

  • 由 Pro-Trace 校准样品以及 SuperQ 软件许可、漂移监测样品和 5 kg 粘合剂组成的套件
  • 针对优化分析程序和系统校准的设置,可实现高质量痕量分析
  • 针对方法验证和校准维护程序的设置
  • 有关粉末压片等样品的高效制备建议和指导
  • 用户培训和文档

可选

  • 面向 WD XRF 系统,可实现 QA/QC 工作流程全自动化的统计过程控制*
  • 将 Pro-Trace 解决方案集成到标准操作程序,包括一个或多个地点的文档和部署

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX
  • 用于压片的样品制备设备和材料

联系我们的专家

* Zetium 系统已附带 SPC


地质、矿物和相关氧化物材料


适用于对各种氧化物材料中的主量元素和微量元素进行准确元素分析的一站式解决方案

对于矿石、地质、陶瓷、砖块、水泥和玻璃等行业中的流程控制、探勘、开发和质量控制,准确且频繁的元素分析至关重要。 这将帮助优化流程以及保证产品质量和一致性。

X 射线荧光 (XRF) 光谱是对氧化物材料的元素构成进行量化的既定分析方法。 XRF 具有多种重要优势,例如直观的样品制备、准确且可重现的结果以及高度自动化的分析。 这些优势可将测量时间缩短到几分钟,并且不需要非常熟练的操作员。

WROXI 专业计划

要实现准确分析,认证标准至关重要。 WROXI 解决方案包含一系列根据高纯度化学品制定的标准,可实现非常准确且可追溯的结果。 WROXI 解决方案集适合各种氧化物材料,包括:硅酸盐、碳酸盐、磷酸盐、岩石、土壤、铁矿石、锰矿、水泥等。WROXI 方法基于熔片,但可轻松用作据此验证压片方法的参考方法。

涵盖以下元素和浓度范围:

化合物%化合物%
Na2O0 - 58Mn3O40 - 80
MgO0 - 78Fe2O30 - 81
Al2O30 - 78NiO0 -12
SiO20 - 80CuO0 - 8
P2O50 - 40ZnO0 - 10
SO30 - 59SrO0 - 20
K2O0 - 40ZrO20 - 43
CaO0 - 80BaO0 - 43
TiO20 - 40HfO20 - 10
V2O50 - 10PbO0 - 10
Cr2O30 - 10

如果需要,可以扩展元素和浓度范围,以满足您的特定需求。 除标准外,WROXI 解决方案还包括一套完整的方法,从样品制备到质量保证工作流程,均可与 Malvern Panalytical WD XRF 系统结合使用。

包括:

  • 由 WROXI 校准样品、漂移监测样品和方法设置模板组成的套件
  • 1 kg 的通量
  • 针对优化分析程序和系统校准的设置,可实现最佳处理量和准确结果
  • 针对方法验证和校准维护程序的设置
  • 有关熔片等样品的高效制备建议,包括 WROXI 制备配方;实际熔片制备可作为选项包括在内
  • 用户培训和文档

可选

  • Malvern Panalytical 专家使用用于日常分析的熔融设备制备熔片
  • 统计过程控制 (SPC),可实现将全自动 QA/QC 工作流程用于 WD XRF 系统*
  • 将 WROXI 解决方案集成到标准操作程序,包括一个或多个地点的文档和部署
  • 针对特定材料的 WROXI 标准和应用设置定制
  • 使用 WROXI 方法认证压片校准的内部材料

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX
  • 用于熔片的样品制备设备

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* Zetium 系统已附带 SPC

水泥和相关原材料


适用于对水泥、熟料、生料、石灰石、粘土和石膏进行准确元素分析的一站式解决方案

对于水泥厂的流程控制,需要持续准确测量原材料、生料、熟料和水泥的元素构成。 这些分析提供生产工艺参数的直接结果,例如进料速度、窑炉温度、研磨时间等。优化这些参数可将生产成本降至最低。 此外,准确分析也将保证产品质量和一致性。

X 射线荧光 (XRF) 光谱已成为对水泥和水泥相关材料的元素构成进行量化的既定分析方法。 XRF 提供多种重要优势,例如直观的样品制备、准确且可重现的结果以及高度自动化的分析。 XRF 可将测量时间缩短到几分钟,并且允许工厂操作员执行日常分析。

CEMOXI 专业计划

要实现准确分析,认证标准至关重要。 CEMOXI 标准集根据高纯度化学品制定且可追溯到高纯度化学品,从而提供非常准确的浓度。 CEMOXI 标准集适合水泥生产中遇到的各种材料。 CEMOXI 方法基于熔片,但可轻松用作据此验证压片方法的参考方法。

涵盖以下元素和浓度范围:

化合物%
Na2O0 - 1.0
MgO0 - 6.0
Al2O30 - 10
SiO20 - 24
P2O50 - 0.5
SO30 - 59
K2O0 - 2.0
CaO(0-) 20 - 70
TiO20 - 1.0
Mn2O30 - 0.29
Fe2O30 - 7.0
ZnO0 - 0.25
SrO20 - 0.7

如果需要,可以扩展元素范围和浓度范围,以满足您的特定需求。 除标准外,CEMOXI 解决方案还包括一套完整的方法,从样品制备到质量保证工作流程,均可与 Malvern Panalytical XRF 系统结合使用。

包括:

  • 由 CEMOXI 校准样品、漂移监测样品、方法设置模板组成的套件
  • 1 kg 的通量
  • 针对优化分析程序和系统校准的设置,可实现最佳处理量和准确结果
  • 针对方法验证和校准维护程序的设置
  • 有关熔片等样品的高效制备建议,包括 CEMOXI 制备配方;实际熔片制备可作为选项包括在内
  • 用户培训和文档

可选

  • 使用用于日常分析的熔融设备制备熔片
  • 面向 WD XRF 系统,可实现 QA/QC 工作流程全自动化的统计过程控制*
  • 将 CEMOXI 解决方案集成到标准操作程序,包括一个或多个地点的文档和部署
  • 针对特定材料的 CEMOXI 标准和应用设置定制
  • 使用 CEMOXI 方法认证压片校准的内部材料

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX 或 Epsilon 系列台式系统
  • 用于熔片的样品制备设备

金属:Ni、Fe 和 Co 合金


适用于对特殊钢、高温合金和超级合金进行准确元素分析的一站式解决方案

因为其具备的特性(比如耐久性、硬度、温度稳定性和耐腐蚀性),特殊钢、高温合金和超级合金被用在多种高性能组件中。 高规格钢的生产要求非常严格的公差控制和质量控制。 使用 XRF 对浓度多样的多种合金元素进行分析在金属行业是众所周知的挑战。 尤其需要强调的是,获得高质量数据所需的基体校正和大量参考材料通常不易获得。

对 Ni、Fe 和 Co 基合金进行 XRF 分析的专业计划

从样品制备到质量保证,NiFeCo 专业计划提供了一套适用于使用 XRF 对 NiFeCo 基金属进行元素分析的完整方法,并且涵盖不锈钢、高速钢、工具钢、低碳钢、镍氢钢、镍铬合金、高锰钢和镍合金。

涵盖以下元素和浓度范围:

元素浓度范围 (wt%)元素

浓度范围 (wt%)

Al0.01 – 6Cu0.01 – 30
Si0.01 – 2.4Y0.01 – 0.3
P0.01 – 0.3Zr0.01 – 0.4
S0.01 – 0.1Nb0.01 – 6.3
Ti0.01 - 4Mo0.01 – 21
V0.01 – 3Hf0.01 – 1.3
Cr0.01 – 24Ta0.01 – 7.2
Mn0.01 – 15W0.01 – 15
Fe0.01 – 78Re0.01 – 5.4
Co0.01 – 63Pt0.01 – 0.3
Ni0.01 – 64

除标准外,该计划还包括一套完整的方法,从样品制备到质量保证,均可与 Malvern Panalytical XRF 系统配合使用。

包括

  • 6 种校准设置样品、可追溯至 120 多种 CRM、2 种漂移监测样品和多种方法设置模板
  • 针对优化分析程序和系统校准的设置,可实现最佳处理量和准确结果,以及工厂操作员的简便日常分析
  • 针对校准维护程序的设置
  • 有关工作流程优化的建议
  • 有关样品高效制备的建议
  • 用户培训和文档

可选

  • 面向 WD XRF 系统* 的统计过程控制,可用于设置 QA/QC 工作流程

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX WD XRF 系统
  • 样品制备设备

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* Zetium 系统已附带 SPC

 

金属:Cu 合金

 

“铜基”(Cu 基)是用于描述一系列以 Cu 为主要成分的合金的术语。 为了让材料适合不同的应用(例如,制造货币、钟、多种机械设备和电线),通常会将 Cu 与 Sn、Zn、Ni、Al 和 Pb 等元素混合形成合金。 在生产过程中,需要使用快速元素分析来最大程度减少生产误差并最大化产量。 

对 Cu 合金进行 XRF 分析的专业计划

从样品制备到质量保证,Cu 基专业计划提供了一套完整的方法,适用于使用 XRF 对 Cu 基金属进行快速元素分析,并且涵盖了青铜、铝青铜、磷青铜、铅青铜、黄铜、合金黄铜和铅黄铜的分析。

涵盖以下元素和浓度范围:

元素浓度范围 (wt%)元素浓度范围 (wt%)
Mg< LLD – 0.3Ni0.007 – 33
Al< LLD – 13Cu54.4 – 96
Si< LLD – 0.6Zn0.013 – 43
P0.001 – 1As< LLD – 0.3
S0.0013 – 0.1Sn0.006 – 17
Cr0.0013 – 1Sb0.005 – 0.5
Mn< LLD – 2.3Pb0.005 – 21
Fe0.003 – 5.6Bi< LLD – 2
Co0.012 – 0.3

注意:如果认证浓度低于 LLD 值,则已使用术语 < LLD 来表示浓度范围的下限

除标准外,该计划还包括一套完整的方法,从样品制备到质量保证,均可与 Malvern Panalytical XRF 系统配合使用。

包括

  • 23 种精心选择的标准参考样品、2 种漂移监测样品和多种方法设置模板
  • 针对优化分析程序和系统校准的设置,可实现最佳处理量和准确结果,以及工厂操作员的简便日常分析
  • 针对校准维护程序的设置
  • 有关工作流程优化的建议
  • 有关样品高效制备的建议
  • 用户培训和文档

可选

  • 面向 WD XRF 系统* 的统计过程控制,可用于设置 QA/QC 工作流程

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX WD XRF 系统
  • 样品制备设备

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* Zetium 系统已附带 SPC

 

金属:低合金钢

 

低合金钢广泛用于生产管道、汽车车身、飞行器机身、铁路轨道,以及海上和陆上结构工程板块。 使用高强度低合金钢是因为其耐腐蚀性。 低合金钢的合金元素(C、Mn、Cr、Ni、Mo、V 和 Si 组合)含量通常低于 10%。 准确、快速的元素分析是钢生产期间的一项重要要求。

对低合金钢进行 XRF 分析的专业计划

从样品制备到质量保证,低合金钢 (LAS) 专业计划提供了一套完整的方法,适用于使用 XRF 的元素分析,并且涵盖了高强度低合金钢、高耐热钢(铬钼钢)、低温用钢(镍钢)、耐候钢和高强度钢。 该方法借助对 90 多种标准参考材料的主校准进行开发。

涵盖以下元素和浓度范围:

元素 浓度范围 (wt%)元素 浓度范围 (wt%)
C< LLD - 1.29Cu0.0013 - 0.66
Al< LLD - 0.3As0.0005 - 0.14
Si< LLD - 1.46Zr0.0015 - 0.2
P0.002 - 0.072Nb0.0004 - 0.3
S0.0009 - 0.089Mo0.002 - 1
Ti0.0005 - 0.31Sn0.001 - 0.24
V0.0006 - 0.52Sb0.0005 - 0.072
Cr0.0015 - 5.15Ta0.001 - 0.23
Mn0.0057 - 2W0.012 - 0.3
Co0.0012 - 0.3Pb< LLD - 0.024
Ni0.002 - 4.45

注意:如果认证浓度低于 LLD 值,则已使用术语 < LLD 来表示浓度范围的下限

该专业计划包括一套完整的方法,从样品制备到质量保证,均可与 Malvern Panalytical XRF 系统配合使用。

包括

  • 4 种用于漂移校正和样品制备校正的监测样品,以及多种方法设置模板
  • 针对优化分析程序和系统校准的设置,其使用可追溯至 90 多种 CRM 的 6 种传送样品,可实现最佳处理量和准确结果,以及工厂操作员的简便日常分析
  • 针对校准维护程序的设置
  • 有关工作流程优化的建议
  • 有关样品高效制备的建议
  • 用户培训和文档

注意:传送样品将可用于校准,并且这些样品需退回给 Malvern Panalytical。

可选

  • 面向 WD XRF 系统* 的统计过程控制,可用于设置 QA/QC 工作流程

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX WD XRF 系统
  • 样品制备设备

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* Zetium 系统已附带 SPC

 

润滑油:磨损金属分析

适用于对润滑油磨损金属进行准确分析的一站式解决方案

润滑油中出现磨损金属是组件磨损或污染的重要指标。 对润滑油中痕量元素的准确 XRF 分析和随着时间推移监测其含量有助于优化预防性维护计划。 此类数据可用于尽早检测到成本高昂的潜在故障,从而降低维修成本并提高安全系数。

对润滑油磨损金属进行 XRF 分析的专业计划

磨损金属专业计划涵盖以下元素和浓度范围:

元素ppm元素ppm
Ag0 - 500Mo0 - 500
Al0 - 2000Na0 - 500
Ba0 - 2000Ni0 - 500
Ca0 - 5000P0 - 2000
Cd0 - 500Pb0 - 500
Cr0 - 500Sb0 - 500
Cu0 - 400S0 - 500
Fe0 - 500Sn0 - 500
K0 - 500Ti0 - 500
Mg0 - 3000V0 - 500
Mn0 - 500Zn0 - 2000

除标准外,该计划还包括一套完整的方法,从样品制备到质量保证,均可与 Malvern Panalytical XRF 系统配合使用。

包括:

  • 一套标准所需的校准标准,包括验证样品在内
  • 足够进行校准和验证的 P-1 或 P-2 杯和组装工具以及预先切好的聚酯薄膜箔
  • 针对优化分析程序和系统校准的设置,可实现最佳处理量和准确结果,允许工厂操作员的日常分析
  • 针对方法验证和校准维护程序的设置
  • 有关样品制备最佳做法和工作流程优化的建议
  • 用户培训和文档

可选

  • 用于设置 QA/QC 工作流程的统计过程控制*
  • 将磨损金属方法集成到标准操作程序,包括一个或多个地点的文档和部署

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX WD XRF 系统(配备用于运行液体样品),或者 Epsilon 3 或更高系列的系统
  • SuperQ 或 Epsilon 软件的 Oil-Trace 模块,可针对样品的氧烃比变化进行校正,从而实现最佳精度并允许将单个校准用于多个基体

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* Zetium 系统已附带 SPC

 

润滑油:符合 ASTM D6443 和 D4927 的分析

 

适用于润滑油添加剂分析的一站式解决方案

为了增强针对特定应用的性能,几乎所有商用润滑油都包含化学添加剂。 ASTM D6443 和 ASTM D4927 国际标准测试方法用于确定润滑油、添加剂和添加剂包是否符合规范。 这些方法采用波长色散 X 射线光谱 (WD XRF) 和数学基体校正程序。 XRF 是一种卓越的多元素分析方法,可提供经济实惠且精准的数据及快速数据采集。 单个校准可使用数月,从而避免耗时且成本高昂的重新校准。 尤其适用于液体,同时样品制备简单,而且分析不需要非常熟练的实验室人员。

对符合 ASTM D6443 和 D4927 的润滑油中的添加剂进行 XRF 分析的专业计划

此专业计划提供一套完整的方法来确立标准合规性,并且涵盖从样品制备到质量保证的所有方面。 客户可以选择索取要在计划中涵盖的一种或两种标准的报价。 涵盖以下元素和浓度范围:

D4927 D6443
元素ppm 元素ppm
Ba0 - 0.04Ca0 - 0.4
Mg0 - 0.08Mg0 - 0.2
P0 - 0.25P0 - 0.25
S0 - 2.5S0 - 1.0
Si0 - 0.18Cl0 - 0.2
Cl0 - 0.2Zn0 - 0.25
Ca0 - 0.5Cu0 - 0.4
Mo0 - 0.05
Zn0 - 0.25

包括:

  • 一套适用于 D4927 和/或 D6443 的校准标准,包括验证样品在内
  • 足够进行校准和验证的 P-1 或 P-2 杯和组装工具以及预先切好的聚酯薄膜箔
  • 针对优化应用设置和校准的设置,适用于对上表中所提供浓度范围内的元素范围进行准确分析
  • 针对方法验证和校准维护程序的设置
  • 有关样品制备最佳做法和工作流程优化的建议
  • 用户培训和文档

可选

  • 用于设置 QA/QC 工作流程的统计过程控制*
  • 软件:Oil-Trace,可针对样品的氧烃比变化进行校正,从而实现最佳精度并允许将单个校准用于多个基体

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX (Pro) 顺序光谱仪(配备用于运行液体样品)

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石油和燃料:符合 ISO 20884 和 ASTM 2622 的硫分析

 

适用于准确分析石油产品中硫含量的一站式解决方案

原油通常含有 0.5-5% 的硫。 环境因素要求从原油所提炼石油产品的排放物中只能包含有限数量的硫。 需要根据 ASTM 2622 和 ISO20884 等测试方法准确控制中间产品和最终产品(燃料、润滑油、汽油)的硫含量。 这些方法采用波长色散 X 射线光谱 (WD XRF) 和数学基体校正程序。

XRF 是确定石油产品中硫含量的卓越方法,可提供经济实惠且精准的数据及快速数据采集。 单个校准可使用数月,从而避免耗时且成本高昂的重新校准。 尤其适用于液体,同时样品制备简单,而且分析不需要非常熟练的实验室人员。

对符合 ISO 20884 和 ASTM 2622 的石油产品中的硫含量进行 XRF 分析的专业计划

此专业计划提供一套完整的方法来确立标准合规性,并且涵盖从样品制备到质量保证的所有方面。 客户可以选择索取要在计划中涵盖的一种或两种标准的报价。 客户可以选择 Oil-Trace 包,此包可针对样品的氧烃比变化进行校正,可实现最佳精度并允许将单个校准用于多个基体。 强烈推荐将 Oil-Trace 用于燃料。 涵盖以下元素和浓度范围:

ASTM 2622(润滑油或燃料)
S0 - 100 ppm
 
S0.03 - 1 %
 
S1 - 5 %
 
ISO20884(柴油燃料)
S0 - 500 ppm

包括:

  • 由标准所需的校准标准、验证样品、低和高强度监测样品组成的套件
  • 足够进行校准和验证的 P-1 或 P-2 杯和组装工具以及预先切好的聚酯薄膜箔
  • 针对优化应用设置和校准的设置,适用于对上表中所提供浓度范围内的元素范围进行准确分析
  • 针对方法验证和校准维护程序的设置
  • 有关样品制备最佳做法和工作流程优化的建议
  • 用户培训和文档

可选

  • 用于设置 QA/QC 工作流程的统计过程控制*
  • 软件:Oil-Trace,可针对样品的氧烃比变化进行校正,从而实现最佳精度并允许将单个校准用于多个基体。

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX WD XRF 系统(配备用于运行液体样品)
  • SuperQ 的 Oil-Trace 模块,可针对样品的氧烃比变化进行校正,从而实现最佳精度并允许将单个校准用于多个基体

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* Zetium 系统已附带 SPC

聚合物和塑料:添加剂和填充剂分析

 

适用于对聚合物中添加剂和填充剂进行准确元素分析的一站式解决方案

为了增强或抑制特定属性,生产期间通常会将添加剂和填充剂添加到塑料中。 准确的元素分析可确保在聚合物生产期间严格控制这些昂贵的化学品。

X 射线荧光 (XRF) 光谱是对添加剂和填充剂浓度进行量化的既定分析方法。 作为一种无损技术,XRF 相比其他方法可提供重要优势。 样品制备直观,无需溶解。 测量结果准确且可重现。 不需要耗时且成本高昂的重新标准化,同时结果长期保持一致,从而节省时间和金钱。 自动化分析可将测量时间缩短到几分钟,而且高效样品制备方法支持高处理量。 用户友好的软件允许工厂操作员执行日常分析。

对聚合物和塑料中的添加剂和填充剂进行 XRF 分析的专业计划

从样品制备到质量保证,此专业计划提供一套完整的方法,适用于聚烯烃(所有种类的 PP 和 PE,包括 iPP、HDPE、LDPE、mPE、ULMWPE 等)的元素分析。 此外,它还适用于 Zetium、Axios、MagiX 或 Epsilon 系列系统。

涵盖以下元素和浓度范围:

元素ppm
F0 - 270
Na0 - 190
Mg0 - 560
Al0 - 400
Si0 - 800
P0 - 90
S0 - 100
Ca0 - 200
Ti0 - 110
Zn0 - 200

包括

  • 一系列涵盖上面所列元素和浓度范围的 ADPOL 校准标准
  • 针对优化分析程序和系统校准的设置,可实现最佳处理量和准确结果,以及工厂操作员的简便日常分析
  • 针对校准维护程序的设置
  • 有关工作流程优化的建议
  • 有关样品高效制备的建议,包括热压
  • 用户培训和文档

可选

  • 面向 WD XRF 系统* 的统计过程控制,可用于设置 QA/QC 工作流程

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX WD XRF 系统(配备用于运行液体样品),或者 Epsilon 系列系统
  • 样品制备设备

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* Zetium 系统已附带 SPC

 

聚合物和塑料:有毒元素分析

适用于对聚合物中的有毒重金属元素进行准确元素分析的一站式解决方案

X 射线荧光 (XRF) 光谱是聚合物和塑料行业中强大的流程控制和监管合规性技术。 对其他催化剂浓度的可靠监测有助于准确控制聚合流程,并确保不超过多种受限制元素的最大允许浓度。

XRF 相比其他元素分析技术可提供重要优势。 样品制备直观,无需溶解。 测量无损且结果准确并可重现。 不需要耗时且成本高昂的重新标准化,并且结果数据长期一致,从而节省时间和金钱。 自动化分析可将测量时间缩短到几分钟,而且高效样品制备方法支持高处理量。 用户友好的软件允许工厂操作员执行日常分析。

对聚合物和塑料中的有毒元素进行 XRF 分析的专业计划

从样品制备到质量保证,此专业计划提供一套完整的方法,适用于聚烯烃(所有种类的 PP 和 PE,包括 iPP、HDPE、LDPE、mPE、ULMWPE 等)的元素分析。 此外,它还适用于 Zetium、Axios、MagiX 或 Epsilon 系列系统。 涵盖以下元素和浓度范围:

元素ppm
Cr0 - 22
Ni0 - 11
Cu0 - 25
Zn0 - 5
As0 - 6
Br0 - 160
Cd0 - 30
Ba0 - 600
Hg0 - 5
Pb0 - 22

包括

  • 一系列涵盖上面所列元素和浓度范围的 TOXEL 校准标准
  • 针对优化分析程序和系统校准的设置,可实现最佳处理量和准确结果,以及工厂操作员的简便日常分析
  • 针对校准维护程序的设置
  • 有关工作流程优化的建议
  • 有关样品高效制备的建议,包括热压
  • 用户培训和文档

可选

  • 面向 WD XRF 系统* 的统计过程控制,可用于设置 QA/QC 工作流程

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX WD XRF 系统(配备用于运行液体样品),或者 Epsilon 系列系统
  • 样品制备设备

联系我们的专家

* Zetium 系统已附带 SPC

 

聚合物和塑料:对受 RoHS 指令限制的元素进行分析

适用于对聚合物中受 RoHS 指令限制的元素(Cr、Br、Cd、Hg 和 Pb)进行准确分析的一站式解决方案

塑料和聚合物制造商有义务遵守 RoHS 法规和 ASTM F2617-08 国际标准。 此立法定义多种受限制元素的最大允许浓度。 X 射线荧光 (XRF) 光谱是聚合物行业中证明监管合规性的强大技术。

XRF 相比其他元素分析技术可提供重要优势。 样品制备直观,无需溶解。 测量无损且结果准确并可重现。 不需要耗时且成本高昂的重新标准化,并且结果数据长期一致,从而节省时间和金钱。 自动化分析可将测量时间缩短到几分钟,而且高效样品制备方法支持高处理量。 用户友好的软件允许工厂操作员执行日常分析。

对聚合物和塑料中的 RoHS 元素进行 XRF 分析的专业计划

从样品制备到质量保证,此专业计划提供一套完整的方法,适用于聚烯烃(所有种类的 PP 和 PE,包括 iPP、HDPE、LDPE、mPE、ULMWPE 等)的元素分析。 此外,它还适用于 Zetium、Axios、MagiX 或 Epsilon 系列系统。 涵盖以下元素和浓度范围:

元素ppm
As0 - 145
Br0 - 980
Cl0 - 1075
Cd0 - 250
S0 - 590
Pb0 - 1030
Cr0 - 970
Sb0 - 345
Hg0 - 480
Sn0 - 180
Zn0 - 980

包括

  • 一系列涵盖上面所列元素和浓度范围的 RoHS/WEEE 校准标准
  • 针对优化分析程序和系统校准的设置,可实现最佳处理量和准确结果,以及工厂操作员的简便日常分析
  • 针对校准维护程序的设置
  • 有关工作流程优化的建议
  • 有关样品高效制备的建议,包括热压
  • 用户培训和文档

可选

  • 面向 WD XRF 系统* 的统计过程控制,可用于设置 QA/QC 工作流程

前提条件

  • Malvern Panalytical XRF 光谱仪:Zetium、Axios 或 MagiX WD XRF 系统(配备用于运行液体样品),或者 Epsilon 系列系统
  • 样品制备设备

联系我们的专家

* Zetium 系统已附带 SPC

物相分析

采矿、金属和建筑材料中的矿物分析

适用于进行准确矿物分析的一站式解决方案

对矿石、金属和水泥进行矿物分析是在生产中实现经济高效、绿色环保和稳定质量的关键。 X 射线衍射是直接探测最终产品及其中间产品的矿物属性的强大工具。 X 射线衍射易于使用、可完全自动化,而且结果与用户无关。 此外,它还是一种快速技术,可高度重现准确的结果。

使用 XRD 进行矿物分析的专业计划

此专业计划提供一套完整的方法,适用于采矿、金属和水泥细分市场的客户进行日常矿物分析。 这些方法可根据客户的特定材料定制。 此方法适用于 Aeris、CubiX3、Empyrean 和 X’Pert3 Powder 系统。

包括

  • 针对客户特定材料所定制优化方法的设置,可实现最佳处理量和准确结果,以及工厂操作员的简便日常分析
  • RoboRiet 许可
  • 有关工作流程优化的建议
  • 有关样品高效制备的建议
  • 用户培训和文档

前提条件

  • Malvern Panalytical X 射线衍射仪:Aeris、CubiX3、Empyrean 或 X’pert3 Powder
  • 样品制备设备