Epsilon Xline 将我们先进的能量色散 XRF (EDXRF) 技术与在线功能相结合。这种先进的解决方案可在卷对卷 (R2R) 涂层工艺中实现实时材料监测和过程控制。直接分析可以持续优化材料成分和负载，有助于最大限度地减少不合格生产并最大限度地提高成本效率。适应性强的 Epsilon Xline 可以在各种表面和元素中提供精确和准确的过程控制。
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