Empyrean 锐影系列

可满足您分析需求的多用途解决方案

马尔文帕纳科 Empyrean 锐影为研发用于粉末、薄膜、纳米材料、固体物体分析的终极 X 射线平台设立了全新标准。

马尔文帕纳科以此来回应现代材料研究中所面临的挑战，在其中，仪器的寿命要远远长于任何研究项目的期限。

Empyrean 锐影是真正意义上的多用途 X 射线研究平台。与市面上的其他任何系统都不同，Empyrean 锐影针对现在和未来而设计。

联系应用支持

支持的产品

测量: Crystal structure determination
3D structure / imaging
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
Texture analysis
Phase identification
Reciprocal space analysis
Phase quantification
Residual stress

Goniometer configuration: 垂直测角仪，Θ-Θ

Particle size range: 1 - 100 nm

技术类型: X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean

测量: Molecular weight
Particle shape
Particle size
Phase identification
Phase quantification
Pore size distribution
Protein aggregation
Protein stability
Surface area

Goniometer configuration: Vertical goniometer, Θ-Θ

Particle size range: 1 - 100 nm

技术类型: X-ray Diffraction (XRD)
X-ray Scattering

Empyrean Nano 版

测量: 3D structure / imaging
Crystal structure determination
Phase identification
Phase quantification

Goniometer configuration: Vertical goniometer, Θ-Θ

技术类型: X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean 锐影 Alpha 1