TriStar II Plus比表面积与孔径分析仪

快速、精确的比表面及孔径分析仪

  • 快速分析和真正的并行操作提高了实验室的通量
  • 可靠准确,为决策和报告提供最高置信度
  • 赢得全球信赖:每 3 秒就有一台 TriStar 在进行比表面分析

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概览

TriStar II Plus 是 Micromeritics 的一项技术,是一款全自动 BET 比表面积分析仪,专为快速、高通量且高精度分析而设计。

带有三个分析站,能够有效提高常规质量控制分析的速度和效率;同时还拥有高精度、高分辨率和数据简化能力,以满足大多数研究需求。

TriStar II Plus可兼容多种分析方法和数据简化,用户可优化分析特定的应用。

特点

  • 实现无干扰操作,确保可重复的腔室体积。

  • 独特的歧管设计,可用于高精度的气体控制。

  • 三个分析站可同时运行,但又相互独立。三个BET比表面积的测量可在20分钟内完成;四台Tristar可由一台计算机控制以应付更多样品测试。

  • 标配的 Po 端口可连续进行饱和蒸气压的测量。饱和蒸气压可手动输入、连续测量或在样品中收集。 TriStarII Plus 可方便的控制和微调分析速度和精度。

  • 等温夹套确保样品及 Po 管温度长效恒定。

  • 长效杜瓦瓶设计, 提供高达40h 的连续温度控制。

关键应用

参数指标

绝对压力
范围:0 至 950 mmHg
分辨率:0.05 mmHg 以内
精度:全量程的 0.1% 以内;线性度:< 量程的 ± 0.1%
相对压力
P/P0范围:0 至 1.0 P/P0
分辨率: < 10-4

附件

样品制备装置

建议使用外部置样品制备装置,以确保最佳的分析通量和测量质量。 

所有样品制备系统均设计为包含六个脱气站,以便在样品可用时立即进行制备,从而确保制备过程不会限制分析通量。

选择 TriStar II Plus 的理由?

  • 高通量:TriStar II Plus 提供高效的高通量系统,三个分析站可同时运行,但又相互独立。三个BET比表面积的测量可在20分钟内完成;四台Tristar可由一台计算机控制以应付更多样品测试。
  • 使用标准氮气系统,比表面积测试最低可达 0.01 m2/g 。可选配氪气系统应用于低至 0.001 m2/g 比表面材料测试。
  • 吸附质选择:TriStar II Plus 可使用多种吸附质进行分析,包括氩气、二氧化碳和其他非腐蚀性气体如丁烷、甲烷或其他轻烃气体。
  • 样品类型:自由空间可以测量、计算或手动输入,提供了极大的灵活性,以适应特殊类型的样品以及需要时可快速测量。
  • 等温护套可确保样品等温套及管温度长效恒定。
  • 数据简化分析和控制软件Micromeritics MicroActive 使用户能交互式地计算比表面和孔隙度。通过图形界面,用户可以自己选择数据范围分析,从而直接编辑和解读BET,t-plot,Langmuir和DFT模型结论。
  • 增强的软件功能允许通过气体吸附和压汞法叠加以及高级 NLDFT 获得全面的孔径分布数据。

用于TriStar II Plus的MicroActive软件

直观的 Micromeritics MicroActive 软件使用户能够以交互方式评估等温线数据,并减少获取比表面积和孔隙度结果所需的时间,无需生成报告即可查看结果。 

用户可以很方便地生成或调整计算过程,例如BET比表面图转换。可方便快速的通过计算条选择数据点,计算所得到的数据结果可及时更新,并可在计算窗口内进一步细化使用的数据范围。

气体吸附数据和压汞数据叠加功能

Micromeritics TriStar II Plus 的 MicroActive 软件软件允许用户将压汞法得到的孔径分布与气体吸附等温线得到的孔径分布图叠加。 

这个全新功能使得用户在一个软件中即可分析微孔、介孔和大孔分布。

高级 NLDFT

高级 NLDFT 模型允许用户合并氮气和二氧化碳等温线吸附数据,用于得到含分子尺寸孔径的材料的全范围孔径信息(如碳狭缝孔)。

相对于标准的氮吸附分析,这种方法可以将孔径分析扩展到更小的孔径。这是因为二氧化碳可以在低温下进入更小的微孔,而氮气由于孔尺寸限制和孔连通问题以及扩散缓慢等原因进入不了这些微孔。

手册

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软件

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深受全球科学家的信赖。

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