概述
Parsum IPP 80 适用于食品和制药应用,可用于批量制粒工艺中的端点检测,以及连续制造工艺的实时监控。 适合在磨碎、团聚、制粒、涂层以及筛分等设备操作中使用。
- 紧凑、轻巧且便于安装,可与新型加工设备或现有加工设备快速整合
- 表征范围为 50 µm 至 6mm 且速度高达 50 m/s 的颗粒
- 高固体负荷的可重复测量,支持实时流化床监控
- 通过综合型、客制化软件进行实时测量及反馈
- 无需样品提取即可执行测量
- 提供多种支持测量研磨类及粘性颗粒的附件
- 符合在 0 区和 20 区内操作的 ATEX 要求
工作原理
Parsum 探头采用空间滤波测速的测量理论。 这是一种以数字为基础的弦长测定法,通过收集各个颗粒的数据,获得颗粒粒度分布和速度分布。
穿过 Parsum 探头测量区的颗粒会阻止激光光源发出的光线。 使用由光纤组成的线性监测器阵列可监测产生的阴影。 通过跟踪颗粒阴影在顺序监测器元素中的移动,可计算颗粒速度。 通过测量颗粒阻止单条光纤的时长,可确定颗粒粒度。
测量大量颗粒可得出令人满意的可靠结果,从而导出各种粒度参数以及体积分布的参数。
Parsum 探头可直接安装在工艺管道内或容器内。 虽然无需备制样品,但仍可采用内部压缩空气来分散团块,保持流道与光学器件无材料,同时可在高固体负荷条件下进行测量。
信息从测量区域通过光纤电缆传递至探头的电子外壳,增加了仪器的稳健性。 探头与计算机之间可使用长达 100m 的直接电缆连接,从而支持在安全区域内操作系统。 通过 4-20mA 信号可将结果报告给 PCL,或者使用 OPC 或 TCP 服务器报告给工厂控制系统。
技术指标
颗粒粒度
测量范围: | 50µm 至 6mm |
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速度测量范围 | 0.01 - 50m/s |
浓度范围 | 高达 30v%* |
与分散剂、添加剂及样品接触的材料 |
316L 不锈钢(DIN1.4435,1.4404) Sapphire 窗口 |
注解 | * 取决于样品和颗粒特性 |
重量与尺寸
尺寸: | 101mm x 85mm x 65mm |
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探头
长度 | 282mm |
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直径 | 25mm |
运行环境
温度(可控) | 高达100 °C |
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温度范围 | 10 °C - 60 °C |
压力 | 高达 15 bar |
湿度 | 35% - 80%无冷凝 |
外壳防护等级 | IP 65 |
防爆装置 | 0/20 区通过 ATEX 认证 |
电源功率 | 100-240 V,50-60 Hz |
常规
光源 | 670 nm |
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激光安全: | 1 类 |
附件
支持
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培训
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白金计划 | 黄金计划 | 青铜计划 | |
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年度 PM/PV 测试 | 是 | 是 | 否 |
电话/邮件支持 | 是 | 是 | 否 |
优先响应 | 是 | 是 | 否 |
紧急停机上门服务* | 是 | 是 | 否 |
包含零件 | 是 | 否 | 否 |
技术和软件支持 | 是 | 是 | 是 |
IQ/OQ(制药)*** | 是 | 是 | 是 |
*包含人工和差旅费用***需另外收费