D12 线内样品分散器
用于粗颗粒及高固体负荷的线内分散装置。
D12 样品分散器在工艺过程中进行材料采样、稀释和分散，同时进行呈现以便使用 Parsum 线内测量探头实现准确的颗粒粒度分布和速度测量。 确保对高固体负荷的工艺内粗颗粒进行坚固耐用的准确测定，例如造粒系统内。
概述
Parsum IPP 70-S为标准仪器选件。 该选件可用于化工、食品及医药行业的终端检测、工艺控制/优化以及实时质量控制，在如磨碎、团聚、制粒、筛分及喷雾干噪等单元操作中使用。
- 轻巧且便于安装，可与新型加工设备或现有加工设备快速整合。
- 动态检测范围宽—粒度为50 - 6000µm的颗粒，高达50m/s的速率检测。
- 在高固体负荷条件下测量结果重复性高，即使是无规律移动的颗粒—是流化床监测的理想产品。
- 通过综合型、客制化软件进行实时测量及反馈。
- 无需采样或校准。
- 多种附件，可应用于研磨类、油脂类、粘性及附着性颗粒。
工作原理
Parsum IPP 70-S探头采用成熟的空间滤波测速测量理论。 无需校准或采样且无颗粒为球型的假设。
空间滤波测速是一种以数字为基础的弦长测定法，通过收集各个颗粒的数据，得出颗粒粒度分布。
穿过激光束坠落的颗粒投射出一片阴影，中断了至线性监测器阵列（由光纤组成）的光线流。 由空间滤波检测器线性相邻纤维元件的连续中断来计算颗粒的速度。
采用第二信号—脉冲信号来确定粒度，即测量颗粒阻挡一个信号光纤的时间长度。
测量大量颗粒可得出令人满意的可靠结果，从而根据用户需要，导出各种粒度参数以及体积分布的参数。
Parsum IPP 70-S可直接安装在管线内或容器内。 虽然无需备制样品，但仍可采用内部压缩空气来分散团块，保持流道与光学器件无附着物，同时可在高固体负荷及高温条件下进行测量。
信息从测量区域通过光纤电缆传递至探头的电子外壳，增加了仪器的稳健性。 然后，数据可传递至控制室或现有的控制系统，进行工艺监测及控制。 由于该仪器在传感区进行集中测量，可采用适合的关联性对流量的变化进行预测。
技术指标
颗粒粒度
| 测量范围： | 50-6000µm |
|---|---|
| 测量原理： | 空间滤波测速仪 |
颗粒速度
| 测量范围： | 0.01 – 50m/s |
|---|---|
| 测量原理： | 空间滤波测速仪 |
常规
| 光源 | 670nm |
|---|---|
| 激光安全： | 1 类 |
运行环境
| 温度范围 | 10°C -100°C |
|---|---|
| 湿度 | 35% - 80%无冷凝 |
| 外壳防护等级 | IP 65 |
附件
D24 线内样品分散器
用于颗粒工艺的线内分散器
D24 样品分散器稀释并分散从工艺中选取的材料，同时将其送至 Parsum 探头测量区域。 使用 Dv50 对 50 µm 至 1.2mm 的颗粒进行可靠的测量，特别适合在流化床中进行直接测量。
近线测量站
用于工艺应用的近线式颗粒测定。
与Parsum IPP70-S或IPP70-SE探头结合使用的近线式测量站，可以对试验室或设备上的工艺样品进行快速有效地颗粒测定。
4 –20 mA接口板（8通道）
自Parsum探头到中央控制系统的有效数据传递。
有效数据传递至中央控制系统，用于自动化或数据显示。 八个通道可供于四个探头使用，与计算机安装距离可达100米。
支持
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| 白金计划 | 黄金计划 | 青铜计划 | |
|---|---|---|---|
| 年度 PM/PV 测试 | 是 | 是 | 否 |
| 电话/邮件支持 | 是 | 是 | 否 |
| 优先响应 | 是 | 是 | 否 |
| 紧急停机上门服务* | 是 | 是 | 否 |
| 包含零件 | 是 | 否 | 否 |
| 技术和软件支持 | 是 | 是 | 是 |
| IQ/OQ（制药）*** | 是 | 是 | 是 |
*包含人工和差旅费用***需另外收费
