概述

Parsum IPP 70-S为标准仪器选件。 该选件可用于化工、食品及医药行业的终端检测、工艺控制/优化以及实时质量控制,在如磨碎、团聚、制粒、筛分及喷雾干噪等单元操作中使用。    

  • 轻巧且便于安装,可与新型加工设备或现有加工设备快速整合。    
  • 动态检测范围宽—粒度为50 - 6000µm的颗粒,高达50m/s的速率检测。    
  • 在高固体负荷条件下测量结果重复性高,即使是无规律移动的颗粒—是流化床监测的理想产品。    
  • 通过综合型、客制化软件进行实时测量及反馈。    
  • 无需采样或校准。    
  • 多种附件,可应用于研磨类、油脂类、粘性及附着性颗粒。

工作原理

Parsum IPP 70-S探头采用成熟的空间滤波测速测量理论。 无需校准或采样且无颗粒为球型的假设。

空间滤波测速是一种以数字为基础的弦长测定法,通过收集各个颗粒的数据,得出颗粒粒度分布。

测量原理

穿过激光束坠落的颗粒投射出一片阴影,中断了至线性监测器阵列(由光纤组成)的光线流。 由空间滤波检测器线性相邻纤维元件的连续中断来计算颗粒的速度。

采用第二信号—脉冲信号来确定粒度,即测量颗粒阻挡一个信号光纤的时间长度。

测量大量颗粒可得出令人满意的可靠结果,从而根据用户需要,导出各种粒度参数以及体积分布的参数。

Parsum IPP 70-S可直接安装在管线内或容器内。 虽然无需备制样品,但仍可采用内部压缩空气来分散团块,保持流道与光学器件无附着物,同时可在高固体负荷及高温条件下进行测量。

信息从测量区域通过光纤电缆传递至探头的电子外壳,增加了仪器的稳健性。 然后,数据可传递至控制室或现有的控制系统,进行工艺监测及控制。 由于该仪器在传感区进行集中测量,可采用适合的关联性对流量的变化进行预测。

技术指标

颗粒粒度

测量范围::
50-6000µm
测量原理::
空间滤波测速仪

颗粒速度

测量范围::
0.01 – 50m/s
测量原理::
空间滤波测速仪

常规

光源:
670nm
激光安全::
1 类

运行环境

温度范围:
10°C -100°C
湿度:
35% - 80%无冷凝
外壳防护等级:
IP 65

附件

Parsum IPP 70-S

D12 线内样品分散器

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用于粗颗粒及高固体负荷的线内分散装置。

D12 样品分散器在工艺过程中进行材料采样、稀释和分散,同时进行呈现以便使用 Parsum 线内测量探头实现准确的颗粒粒度分布和速度测量。 确保对高固体负荷的工艺内粗颗粒进行坚固耐用的准确测定,例如造粒系统内。

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D24 线内样品分散器

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用于颗粒工艺的线内分散器

D24 样品分散器稀释并分散从工艺中选取的材料,同时将其送至 Parsum 探头测量区域。 使用 Dv50 对 50 µm 至 1.2mm 的颗粒进行可靠的测量,特别适合在流化床中进行直接测量。

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近线测量站

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用于工艺应用的近线式颗粒测定。

与Parsum IPP70-S或IPP70-SE探头结合使用的近线式测量站,可以对试验室或设备上的工艺样品进行快速有效地颗粒测定。

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4 –20 mA接口板(8通道)

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自Parsum探头到中央控制系统的有效数据传递。

有效数据传递至中央控制系统,用于自动化或数据显示。 八个通道可供于四个探头使用,与计算机安装距离可达100米。

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支持

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