概述

坚固耐用的工业解决方案,将激光衍射颗粒测定传感器与全自动双级采样及浓度控制装置进行了整合,可进行连续的在线式浆液测量。 用于监测、控制、优化增稠剂、磨矿回路与浮选装置,同时可用于质量控制的PSI 500,无需校准而且符合矿产开采领域特定的要求,可以:

  • 通过使用可提升系统生产率的单一装置,在三个不同的采样点进行测量。
  • 全面整合的自动化样品备制,为实现可靠分析而降低人工参与。
  • 简单易用的软件及全自动化运行,降低培训要求同时解放人力。
  • 与现有控制平台整合,简化自动化控制协议的开发。
  • 可靠性高达95%以上,几乎无停机,降低维护需求的同时提升投资回报率。
  • 自动管线冲洗及清洁,确定系统较高的效益性。

工作原理

PSI 500将样品稀释硬件与坚固耐用的激光衍射颗粒仪进行了整合。 可对该系统的两个元件进行定制,以满足矿产开采业对于连续监测与多元控制全自动在线解决方案的要求。

为了准确地进行激光衍射分析,光束必须能穿透样品,对于测量而言,这限制了浓度上限。 多次散射,在检测前激光与一个以上的颗粒发生反应同样是一个问题。 因此,对高浓度的物料流进行样品稀释是基本要素。

样品稀释
在此系统中从主管道使用初级采样器提取的 50-170 升/分钟的样品。 二级采样系统每10秒至30秒使采样管线穿过固定切刀,从该初级流中选取0.01至0.03的代表切片。 第二个切刀为离线分析提供校准样品及未稀释的材料。 可对二级采样过程的频率进行控制,得出测量区域中可接受的浓度然后进行稀释,而大部分不予采用的初级流则被回收利用。

稀释器装置将水与二级样品混合,以满足激光衍射传感器的浓度要求。 稀释比率一般为10至100,在罐中的驻留时间通常约1分钟。 稀释样品直接流入光学传感器,紊流可确保样品所有的粒度分布被准确测量。

样品测量
所有 Insitec 系统均采用激光衍射技术快速测量颗粒粒度,使用多重散射校正技术扩大该技术的合适测量浓度。 此类算法可对多次散射产生的浓度影响进行算术纠正,尽量降低样品稀释要求并确保所有测量绝不依赖样品浓度。

在该全自动解决方案中,以每分钟一个的速率对完整的粒度分布进行测量。 无论是人工控制还是自动控制,这些数据均为更好的工艺控制奠定了稳固的基础。

数据显示和使用
Insitec 系统与现有的控制系统整合。 典型情况下,该系统由中央控制室操作,并依据测量的结果制定例行决策。 强大的软件包使整合与数据分析更为简单明了。

Malvern Link II软件具有将Insitec与现有控制系统以及与自动化工艺控制进行整合的功能。 允许分析员从专用电脑或现有的控制模拟系统进行操作。 重要的是,Malvern Link II并非仅限于Insitec整合。 该软件还可轻松地进行其它仪器类型的整合,简化多元控制。

RTSizer软件采用清楚易懂的方式显示测量数据。 结果报告可按照工业及客户标准定制,从而改善信息流。 Insitec数据用于:

  • 改善工艺认知度。
  • 提供即时扰动检测。
  • 支持整体工艺优化。
  • 自动化工艺控制。

由于报告了完整的粒度分布,因此监测与控制可以以任何粒级为基础,例如:3至30微米粒级的细粉末,超过200微米的材料等。 Insitec数据可优化人工控制策略并使工艺控制实现完全自动化,从而提供丰厚的经济效益。

技术指标

系统

测量类型:
颗粒粒度
测量范围::
0.1至2500µm
测量原理::
激光衍射
光学模型:
米氏理论
精确度:
Dv(50)±2%,使用验证标准粒子板

常规

电源功率:
100/240V
外壳防护等级:
IP65
运行平台::
10 bar (g)
软件:
RTSizer (控制测量主机) Malvern Link II (用于系统自动化和数据链接)
仪器与PC最大间距:
500 m (使用光纤可长达2 km)

运行环境

温度:
10°C – 70°C
湿度:
35% - 80%(无冷凝物)