除颗粒粒度外，颗粒粒形同样对许多颗粒材料的性能及工艺处理具有显著的影响。 例如，使用颗粒粒形测量改善产品性能的应用包括：
- 片剂与悬浮液中药物颗粒的生物利用率
- 金属及陶瓷烧结元件中的材料强度
- 墨粉与焊接膏的印刷质量
- 色谱柱的填装行为
- 矿物基涂层中的涂饰质量
- 太阳能板制造用SiC磨料的切割性能
Malvern Panalytical 拥有一系列以图像分析技术为基础的颗粒表征仪器，可对干湿法分散样品的颗粒粒形进行测量，量程自 0.5 微米至几毫米。
颗粒形状
超越颗粒粒度测量。
Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列高级颗粒表征自动成像 |
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| 更多细节 | |
| 测量 | 化学鉴定, 颗粒形状, 颗粒粒度 |
| 粒度范围 | 0.5µm - 1000µm |
| 技术类型 | 图像分析 |
| 分散类型 | 湿法, 干法测量 |
Empyrean智能X射线衍射仪 |
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| 更多细节 | |
| 测量 | Crystal structure determination, 物相鉴定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 织构分析, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis |
| 测角仪配置 | Vertical goniometer, Θ-Θ |
| 粒度范围 | 1 - 100 nm |
| 技术类型 | X-ray Diffraction (XRD) |
Empyrean Nano 版多功能 X 射线散射平台 |
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| 更多细节 | |
| 测量 | 分子 量, 颗粒形状, 颗粒粒度, 比表面积, 蛋白质团聚, Protein stability, 物相鉴定, Phase quantification, Pore size distribution |
| 测角仪配置 | Vertical goniometer, Θ-Θ |
| 粒度范围 | 1 - 100 nm |
| 技术类型 | X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering |
Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列高级颗粒表征自动成像 |
Empyrean智能X射线衍射仪 |
Empyrean Nano 版多功能 X 射线散射平台 |
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| 更多细节 | 更多细节 | 更多细节 | |
| 测量 | 化学鉴定, 颗粒形状, 颗粒粒度 | Crystal structure determination, 物相鉴定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 织构分析, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis | 分子 量, 颗粒形状, 颗粒粒度, 比表面积, 蛋白质团聚, Protein stability, 物相鉴定, Phase quantification, Pore size distribution |
| 粒度范围 | 0.5µm - 1000µm | 1 - 100 nm | 1 - 100 nm |
| 测角仪配置 | Vertical goniometer, Θ-Θ | Vertical goniometer, Θ-Θ | |
| 技术类型 | 图像分析 | X-ray Diffraction (XRD) | X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering |
| 分散类型 | 湿法, 干法测量 | ||
Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列 |
Empyrean Nano 版 |
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高级颗粒表征自动成像 |
多功能 X 射线散射平台 |
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| 更多细节 | 更多细节 | |
| 测量类型 | ||
| 颗粒形状 | ||
| 颗粒粒度 | ||
| 粒度范围 | 0.5µm - 1000µm | 1 - 100 nm |
| 技术类型 | ||
| 图像分析 | ||
| X-ray Scattering | ||
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