颗粒粒形分析

	Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列高级颗粒表征自动成像
	更多细节
测量	化学鉴定, 颗粒形状, 颗粒粒度
粒度范围	0.5µm - 1000µm
技术类型	图像分析
	Empyrean 智能X射线衍射仪
	更多细节
测量	Crystal structure determination, 物相鉴定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 织构分析, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
测角仪配置	Vertical goniometer, Θ-Θ
粒度范围	1 - 100 nm
技术类型	X-ray Diffraction (XRD)
	Empyrean Nano 版多功能 X 射线散射平台
	更多细节
测量	分子量, 颗粒形状, 颗粒粒度, 比表面积, 蛋白质团聚, Protein stability, 物相鉴定, Phase quantification, Pore size distribution
测角仪配置	Vertical goniometer, Θ-Θ
粒度范围	1 - 100 nm
技术类型	X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering

	Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列高级颗粒表征自动成像	Empyrean 智能X射线衍射仪	Empyrean Nano 版多功能 X 射线散射平台
	更多细节	更多细节	更多细节
测量	化学鉴定, 颗粒形状, 颗粒粒度	Crystal structure determination, 物相鉴定, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 织构分析, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis	分子量, 颗粒形状, 颗粒粒度, 比表面积, 蛋白质团聚, Protein stability, 物相鉴定, Phase quantification, Pore size distribution
粒度范围	0.5µm - 1000µm	1 - 100 nm	1 - 100 nm
测角仪配置		Vertical goniometer, Θ-Θ	Vertical goniometer, Θ-Θ
技术类型	图像分析	X-ray Diffraction (XRD)	X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering

颗粒形状