除颗粒粒度外,颗粒粒形同样对许多颗粒材料的性能及工艺处理具有显著的影响。 例如,使用颗粒粒形测量改善产品性能的应用包括:

  • 片剂与悬浮液中药物颗粒的生物利用率
  • 金属及陶瓷烧结元件中的材料强度
  • 墨粉与焊接膏的印刷质量
  • 色谱柱的填装行为
  • 矿物基涂层中的涂饰质量
  • 太阳能板制造用SiC磨料的切割性能

Malvern Panalytical 拥有一系列以图像分析技术为基础的颗粒表征仪器,可对干湿法分散样品的颗粒粒形进行测量,量程自 0.5 微米至几毫米。

Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列

Empyrean Nano 版

Morphologi 静态粒度粒形及化学组分分析仪系列

高级颗粒表征自动成像

Empyrean Nano 版

多功能 X 射线散射平台

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测量类型
颗粒形状
颗粒粒度
粒度范围 0.5µm - 1000µm 1 - 100 nm
技术类型
图像分析
X-ray Scattering