X 射线荧光元素分析

请见以下可用的 XRF 校准模块和参考材料：

Omnian

用于对各种材料进行无标元素分析
Omnian

Stratos

用于薄膜的厚度和成份分析
Stratos

NiFeCo

多种 Ni、Fe 和 Co 基合金的元素分析基础参数
NiFeCo

Cu-base

多种 Cu 合金的元素分析基础参数
Cu-base

低合金钢

用于低合金钢的元素分析
低合金钢

Pro-Trace

用于高准确度的痕量分析
Pro-Trace

Oil-Trace

用于多用途石油和燃料分析
Oil-Trace

ADPOL

用于对聚合物中的添加剂和填充剂进行分析
ADPOL

TOXEL

用于对聚合物中的有毒元素进行准确分析
TOXEL

RoHS WEEE

标准液用于 RoHS 限制材料的分析
RoHS WEEE