Omnian 用于对各种材料进行无标元素分析

在面临样品完全未知,或者在无法轻松获得或完全无法提供校准标准或参考材料的情况下,无标 XRF 分析是重要的解决方案。 当不存在专用的 XRF 方法或认证标准液时,Omnian 可帮助用户实现尽可能好的分析。 Omnian 可用于 Zetium、Axios 或 MagiX 以及 Epsilon 台式系列光谱仪,无论是什么样品类型或基体,均可提供快速可靠的结果。

Omnian 涵盖了从 F 到 U 的所有元素。 使用此模块可以获得各种样品类型的定量分析结果,如粉末压片、熔片、疏松粉末和液体。 除了常规样品的元素分析外,Omnian 还可以方便快捷地执行“其中一个”样品的分析、筛选和失效分析。

为了快速评估,Omnian 使用 WD XRF 系统上的快速扫描模式,在短短 2 分钟内即可生成可靠的结果。 通过结合特定元素峰值测量的省时策略,同时使用只能通过扫描策略生成的准确背景计算,可以实现这一点。 如果需要更高精度的少量和痕量元素分析,则可以使用特定通道增强基于扫描的程序。

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Omnian 模块是软件和设置样品的组合。 设置样品经过精心设计,即使是挑战性的基质也能进行分析。 设置样品由纯原料制成,用于微调 Omnian 软件到光谱仪的细微之处,同时结合光谱元件功能,克服了其他半定量策略的局限性。

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Omnian 模块包含:

• 设置样品和漂移监测样品套件

• 有关设置样品的浓度、使用和处理信息的文档

• 用于安全存储的手提箱

Omnian 模块和设置样品设计为与马尔文帕纳科仪器结合使用,包括 Zetium、Axios 或 MagiX 以及 Epsilon 台式系列。 某些硬件要求适用。该模块可以用于新系统预校准,但也可以部署在运行 SuperQ 软件的现有仪器上。 Omnian 设置样品也可单独提供。