Correlation intercept – 它是什么，它意味着什么？
比较数据
我最近看到关于从Zetasizer导出数据进行进一步分析的讨论。Zetasizer Nano 和 Zetasizer Pro/Ultra 软件包都包含了一系列分析工具。我想知道究竟缺少了什么？
当我们比较数据时，通常会倾向于简化数据以使过程更容易。这就引发了关于数据导出的问题。用户想要将其动态光散射 (DLS) 测量的自相关函数 (ACF) 数据归一化。
根据理论，ACF 应该从接近 1 开始并在零结束。因此，将数据缩放到 1 似乎是合理的，对吧？一些 DLS 仪器会自动执行此操作。然而，通过这样做，我们可能会错过数据质量拼图的重要部分。
截距告诉了我们什么？
例如，下面是对于聚苯乙烯乳胶样品的两个相关数据集，我们已经将数据进行了归一化处理。它们都显示了“良好”的相关函数，但我们可以看到衰减的区别。报告的流体动力学尺寸值不同。它们一定是不同大小，对吧？
实际上，通过重新缩放数据，我们错过了相关截距。这是自相关函数在短滞后时间内的平台值。理论上，相关截距为1，但实际上有许多噪声效应会影响这个值。其中一些来自仪器（激光和检测光学），但也可能来自样品。
如果我们查看两个乳胶样品的原始数据，我们可以看到两个数据集之间的明显区别。一个的截距远低于另一个。
红色数据的低截距是由“多重散射”引起的。这是指多个粒子在光到达探测器前对光的散射。DLS 分析理论假设只考虑单次散射光，所以在这种情况下，测量是不准确的。为解决这个问题，可以降低样品浓度。如果使用具有后散射测量能力的 Zetasizer，可以调整测量位置。靠近池壁进行测量将减小多重散射。我们称这种技术为非侵入性后散射。
截距值受到哪些因素影响？
样品光学噪声的其他例子包括：
- 耀斑 – 来自比色皿的散射 – 通常是因为它脏或者被划伤。
- 荧光 – 样品自身发光，这与散射光一起被检测到。
- 粒子数波动 – 激光束中的粒子数随时间显著变化。这意味着平均散射强度不稳定。
相关截距有助于我们识别这些效应。来自耀斑、荧光或多重散射的额外光都会导致较低的截距。粒子数波动会导致较高的截距，甚至可能远高于1。
仍不确定是否进行了优质测量？
解释 DLS 数据是棘手的，除了截距，还有更多内容需要查看。我们还可以解释相关基线和衰减、计数率以及其他测量设置。我们的软件具有给出数据质量建议的功能。在 Zetasizer Nano 软件中，查找专家建议报告。如果您使用的是新的 Zetasizer Pro 或 Ultra，请查看数据质量指导窗口。
数据质量指导功能通过人工智能来识别测量问题。它会查看相关函数，并基于学习其他无数例子来对数据进行分类。
算法显示了每个记录可用的一种标签。还提供了解决任何测量问题的建议。如果发现多个问题，将提供针对最重要问题的建议。这使得改善样品和测量条件的工作流程更为稳健和指导性明确。
更多信息
如果您想了解更多可能影响 DLS 测量的因素，请查看此网络研讨会：何时粒子不再是粒子？
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