金属涂层分析的分析解决方案
由于使用了金属或合金层来增强产品的某些功能，因此必须准确且精确地测定涂层厚度。要对金属涂层进行质量控制，就必须采用非破坏性的金属分析以及对物理属性进行详细的特征分析。X 射线荧光 (XRF)、颗粒粒形分析和 X 射线衍射 (XRD) 是非破坏性和非接触性的分析技术，这些技术只需少量或完全无需样品制备，是此应用的理想选择。
典型应用包括：
