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Aeris 台式X射线衍射仪

ASD 光谱仪和光谱辐射计

Axios FAST WDXRF 光谱仪

Axios mAX 波长色散 X 射线荧光光谱仪

Claisse XRF, AA & ICP 样品制备

CNA 在线交叉带分析仪

Empyrean X射线衍射仪

Epsilon X射线荧光光谱仪

Insitec 在线粒度分析仪

Mastersizer 粒度分析仪

MicroCal ITC 等温滴定热量计

MicroCal DSC 差示扫描量热仪

Morphologi 图像分析仪

NanoSight 纳米颗粒追踪分析仪

OMNISEC 多重检测器 GPC|SEC 系统

Parsum 在线粒度分析仪

Spraytec 喷雾粒度分析仪

X'Pert³ 研究型X射线衍射仪

Zetasizer 粒子和分子大小/电位分析仪

Zetium WDXRF 光谱仪

2830 ZT WDXRF圆晶分析仪

自动化解决方案

校准标样

CNA跨带分析系统

耗材

Handheld spectrometers

图像分析仪

液体色谱

Spectrometers and spectroradiometers

颗粒粒度分析仪

样品前处理设备

XRF和XRD应用软件

光谱辐射仪

X射线配件

X 射线衍射仪 (XRD)

X 射线荧光光谱仪 (XRF)

X 射线计量

X 射线散射平台

X 射线光管

熔融技术

图像分析形态定向拉曼光谱 (MDRS)

光散射 Multi Angle Light Scattering (MALS) 动态光散射（DLS）激光衍射 (LD) 电泳光散射(ELS) 静态光散射 (SLS) 纳米颗粒跟踪分析技术

Liquid chromatography 凝胶渗透色谱法(GPC) 尺寸排阻色谱 (SEC) Ultra Performance Liquid Chromatography (UPLC)

微量热法差示扫描量热法 (DSC) 等温滴定量热法 (ITC)

空间滤波测速技术

Spectroscopy [redirect] MDRS 近红外光谱脉冲快热中子活化分析

X-ray analysis X 射线衍射 (XRD) X 射线荧光 (XRF) X 射线成像 X 射线散射

Zeta 电位

三维结构/CT成像

倒易空间分析

元素分析

元素量化

分子尺寸

分子结构

分子量

化学鉴定

地面实况

外延分析

微流变

无标记分析

晶体结构测定

残余应力分析

水分含量

污染物检测和分析

物相定性分析

物相定量分析

界面粗糙度

粘度

织构分析

结合亲和力

薄膜测量

蛋白质迁移率

遥感

颗粒形状

颗粒浓度

颗粒粒度

ASTM

ICH

IP

ISO

USP

ASD FieldSpec LabSpec TerraSpec 4 TerraSpec Halo QualitySpec Trek QualitySpec 7000

Claisse Eagon 2 LeNeo LeDoser LeDoser-12 M4 rFusion TheOx Advanced

Malvern Instruments Archimedes Insitec Mastersizer Morphologi OMNISEC Parsum Spraytec Viscotek Zetasizer

MicroCal MicroCal DSC MicroCal ITC

NanoSight NanoSight NS300 NanoSight LM10

PANalytical Aeris Axios FAST CNA Cubix³ Empyrean Epsilon 1 Epsilon 4 Epsilon Xflow X'Pert³ Zetium 2830 ZT
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Aeris

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Zeta 电位

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Last updated: 4th July 2019

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