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Aeris 台式X射线衍射仪

ASD 光谱仪和光谱辐射计

Axios FAST WDXRF 光谱仪

Axios mAX 波长色散 X 射线荧光光谱仪

Claisse XRF, AA & ICP 样品制备

CNA 在线交叉带分析仪

Empyrean X射线衍射仪

Epsilon X射线荧光光谱仪

Insitec 在线粒度分析仪

Mastersizer 粒度分析仪

MicroCal ITC 等温滴定热量计

MicroCal DSC 差示扫描量热仪

Morphologi 图像分析仪

NanoSight 纳米颗粒追踪分析仪

OMNISEC 多重检测器 GPC|SEC 系统

Parsum 在线粒度分析仪

Spraytec 喷雾粒度分析仪

X'Pert³ 研究型X射线衍射仪

Zetasizer 粒子和分子大小/电位分析仪

Zetium WDXRF 光谱仪

2830 ZT WDXRF圆晶分析仪

自动化解决方案

校准标样

CNA跨带分析系统

耗材

手持光谱仪

图像分析仪

液体色谱

Microcalorimeters

光谱仪和光谱辐射计

颗粒粒度分析仪

样品前处理设备

XRF和XRD应用软件

光谱辐射仪

X射线配件

X 射线衍射仪 (XRD)

X 射线荧光光谱仪 (XRF)

X 射线计量

X 射线散射平台

X 射线光管

熔融技术

图像分析形态定向拉曼光谱 (MDRS)

光散射动态光散射（DLS）多角度光散射（MALS）激光衍射 (LD) 电泳光散射(ELS) 静态光散射 (SLS) 纳米颗粒跟踪分析技术

液相色谱法凝胶渗透色谱法(GPC) 尺寸排阻色谱 (SEC) 超高效液相色谱法（UPLC）

微量热法差示扫描量热法 (DSC) 等温滴定量热法 (ITC)

空间滤波测速技术

光谱法形态定向拉曼光谱 (MDRS) 近红外光谱脉冲快热中子活化分析

X射线分析 X 射线衍射 (XRD) X 射线荧光 (XRF) X 射线成像 X 射线散射

Higher order strucuture

Zeta 电位

三维结构/CT成像

倒易空间分析

元素分析

元素量化

分子尺寸

分子结构

分子量

化学鉴定

地面实况

外延分析

微流变

Label-free analysis

晶体结构测定

残余应力分析

水分含量

污染物检测和分析

物相定性分析

物相定量分析

界面粗糙度

粘度

织构分析

结合亲和力

薄膜测量

蛋白质迁移率

遥感

颗粒形状

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颗粒粒度

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ICH

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ISO

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ASD FieldSpec LabSpec TerraSpec 4 TerraSpec Halo QualitySpec Trek QualitySpec 7000

Claisse Eagon 2 LeNeo LeDoser LeDoser-12 M4 rFusion TheOx Advanced

Malvern Instruments Archimedes Insitec Mastersizer Morphologi OMNISEC Parsum Spraytec Viscotek Zetasizer

MicroCal MicroCal DSC MicroCal ITC

NanoSight NanoSight NS300 NanoSight LM10

PANalytical Aeris Axios FAST CNA Cubix³ Empyrean Epsilon 1 Epsilon 4 Epsilon Xflow X'Pert³ Zetium 2830 ZT
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Aeris

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Higher order strucuture

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Last updated: 4th July 2019

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