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商标

商标状态
AERIS®
AERIS PANALYTICAL®
(ASD Inc) 徽标®
Archimedes 系统®
AXIOS®
Bohlin
CHI-BLUE®
Claisse®
CUBIX®
CUBIX3 (superindex the 3)®
dCore
EAGON®
Eagon 2®
EASY SAXS®
EMPYREAN®
EPSILON®
EPSILON X-FLOW®
EXPERT SAXS®
EASY SAXS®
FieldSpec®
FIPA®
FLUOR’X®
GALIPIX 3D®
Gemini
goLab
HandHeld 2
HIGHSCORE®
Hydrosight
iCore
(i logo)®
Indico Pro
Insitec®
(Insitec logo)®
(Insitec Measurement Systems logo)®
ISys®
LabSizer
LabSpec®
LeNeo®
LeDoser
LeDoser-12
M3 PALS
M4
MADLS®
Malvern®
(Triangular hills logo + Malvern Instruments)®
马尔文®
Malvern 仪器公司®
英国马尔文仪器有限公司®
Malvern link
(Malvern Plus Hills 徽标)®
Mastersizer®
Mastersizer 2000
MC(风格化)®
MDRS®
Microcal®
Morphologi®
(Triangular hills logo)®
Nanosight®
NIBS.
OIL-TRACE®
OMNIAN®
多检测器OMNISEC系统®
PANALYTICAL®
PANALYTICAL徽标(图片)®
PANTOS®
PEAQ-ITC®
PIXCEL®
PIXCEL 1D®
PIXCEL 3D®
QualitySpec®
(r logo)®
(Realogica 徽标)®
Spraytec 喷雾粒度仪
SST®
SST-MAX®
SUPER SHARP TUBE®
STRATOS®
SUPER Q®
SyNIRgi®
TerraSpec®
TheOx® Advanced®
Ultrasizer®
VENUS MINILAB®
ViewSpec
Viscogel®
Viscotek®
X’CELERATOR®
XPERT3 (superindex the 3)®
Zetasizer(粒径电位分析仪)®
ZETIUM X 射线荧光光谱仪®
ZS Helix®

专利

Malvern Panalytical 拥有一系列独特的市场领先产品,受以下专利和专利申请的保护

Mastersizer

专利号专利名称仪器
EP1167946B1 (GB, FR, DE60135521D1)样品处理系统Hydro MV、Hydro LV、Hydro EV
GB2364774B
US6800251B2
用于颗粒表征仪器的样品处理系统Hydro MV、Hydro LV
GB2494735B通过光散射测量粒度分布的仪器MS3000、MS3000E
CN104067105B
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0)
US9869625B2
JP6154812B
通过光散射测量粒度分布的仪器和方法MS3000、MS3000E
US10837889B2
GB2494734B
通过光散射测量粒度分布的仪器和方法MS3000、MS3000E

Zetasizer(粒径电位分析仪)

专利号专利名称仪器
US7217350B2
表面电荷引起的移动性和效应Zetasizer Advance 系列、Nano ZS、Nano Z、Nano ZS90、Nano ZSP、Helix
EP2467701A1
CN102575984B
US9279765B2
JP5669843B2
US10317339B2
US20200096443A1
基于动态光散射的微流变性,以改良的单散射模式检测复杂流体Zetasizer Advance 系列、Nano ZSP、Helix
CN103608671B
CN105891304B
EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268)
JP06023184B2
US9829525B2
US10274528B2
US20200072888A1
表面电荷测量Zeta Plate Cell Accessory
US8702942B2
CN103339500B
EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1)
JP06006231B2
JP06453285B2
US10648945B2
利用扩散屏障的激光多普勒电泳法Zetasizer Advance 系列、Nano ZS、Nano S、Nano ZS90、S90、Nano ZSP
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2
粒子的双模表征Zetasizer Helix
US10197485B2
US10520412B2
US10845287B2
EP3353527A1
JP2018535429A
CN108291861A
粒子表征Zetasizer Advance 系列
US10119910B2粒子表征仪器Zetasizer Advance:Ultra 和 Pro
US8675197B2
JP6059872B2
EP2404157B1
粒子表征Zetasizer Advance 附件
EP3521806A1
US20210063295A1
CN111684261A
WO2019154882A1
多角动态光散射Zetasizer Advance:Ultra

Insitec

专利号专利名称仪器
US7418881B2
EP1592957B1 (GB)
稀释系统和方法Insitec(部分产品)
US7871194B2
EP1869429A2
稀释系统和方法Insitec(部分产品)
EP2640499B1 (GB)在线分散器和粉末混合方法Insitec 干法

Morphologi

专利号专利名称仪器
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2
US8564774B2
光谱方式研究异质性Morphologi G3-ID
GB2522735B
JP6560849B2
粉末分散方法和仪器Morphologi G3-ID、Morphologi G3

Viscosizer

专利号专利名称仪器
US2018067901A1
JP2018511129A
EP3274864A1
CN107430593A
多组分模型参数化Viscosizer TD

Hydro Sight

专利号专利名称仪器
US8456633B2分光光度法过程监测Hydro Sight
CN104704343B
EP2864760A2
US10509976B2
非匀质流体样品的表征Hydro Sight

NanoSight

专利号专利名称仪器
US7751053B2
JP04002577B2
EP1499871B1 (FR, DE60335872.1)
GB2388189B
US7399600B2
用于粒子分析的光学检测NanoSight NS300
NanoSight NS500
NanoSight LM10
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2
JP6505101B2
CN105765364A
仪器校准的改进NanoSight NS300

MicroCal ITC

专利号专利名称仪器
CN101855541B
EP2208057A1
JP05542678B2
US8449175C1
US8827549C1
等温滴定微量热计装置和使用方法MicroCal ITC 系列
CN102232184B
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1)
JP5476394B2
US9103782B2
US9404876B2
US10036715B2
US10254239B2
EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1)
US20200025698A1
EP3647776A1
自动等温滴定微量热计装置与使用方法MicroCal ITC 系列

MicroCal DSC

专利号专利名称仪器
US8635045B2
CN103221808B
EP2646811A1
IN336472
JP5925798B2
量热数据峰值自动查找方法MicroCal DSC 系列

多检测器OMNISEC系统

专利号专利名称仪器
US9759644B2
US10551291B2
平衡毛细管桥式粘度计多检测器OMNISEC系统
US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4)
JP05916734B2
CN103168223B
IN341558
模块化毛细管桥式粘度计多检测器OMNISEC系统

落地式 XRF

专利号专利名称仪器
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
熔片熔炉Zetium
Axios FAST
Epsilon5
US6823043B2材料参数的确定
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7949092B2
执行 X 射线分析的设备和方法
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5*
SEMYOS
US6574305B2
用于检查样品状况的设备和方法Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5*
SEMYOS*
JP4111336B2使用 X 射线测试样品的设备
Epsilon5

US7042978B2材料样品的检测Zetium*
Axios FAST*
Epsilon5
SEMYOS*
JP5782451B2
EP2510397B1 (GB, FR, NL, DE602010021859.7)
在 XUV 波长范围内应用的具有横向图案的多层结构的制造方法,以及据此方法制造的 bf 和 Imag 结构Zetium*
Axios FAST
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US9658352B2
CN104833557B
JP656263B2
JP6804594B2
制备标样的方法Zetium
Axios FAST
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
通过压制方法制备样品片Zetium
Axios FAST
US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
JP6559486B2
CN105258987B
使用熔剂和铂坩埚制备用于 XRF 的样品Zetium
Axios FAST
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
定量 X 射线分析 - 基体厚度校正Zetium*
Axios FAST
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
定量 X 射线分析 - 多光路仪器Zetium*
Axios FAST
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
定量 X 射线分析 - 比率校正Zetium*
Axios FAST
JP3936912B2用于液体 X 射线分析的带浮盖样品容器Zetium
Axios FAST
2830 ZT(晶圆分析仪)
Epsilon5
SEMYOS
US9239305B2样品杯Zetium*
Axios FAST*
Epsilon5
US7978820B2
X 射线衍射和荧光设备Zetium
Axios FAST*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7720192B2
JP5574575B2
CN101311708B
X 射线荧光设备Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7194067B2
X 射线光学系统Zetium
Axios FAST*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
带有金属线阴极的 X 射线源Zetium
Axios FAST
2830 ZT(晶圆分析仪)
Epsilon5
SEMYOS
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
X 射线管阳极装置
Zetium
Axios FAST
2830 ZT(晶圆分析仪)
Epsilon5
SEMYOS
US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2)
EP3480587A1
US10393683B2
JP6767961B2
CN108132267A
用于 X 射线测量的锥形准直器Zetium*
*· 产品中的可选件/非标配件

台式 XRF

专利号专利名称仪器
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
熔片熔炉Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪
Epsilon 4 空气质量版
US6823043B2材料参数的确定
Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
US7949092B2
执行 X 射线分析的设备和方法
Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
US6574305B2
用于检查样品状况的设备和方法Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
US7042978B2材料样品的检测Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
US9658352B2
CN104833557B 
JP6562635B2
JP6804594B2
制备标样的方法Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪
Epsilon 4 空气质量版
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
通过压制方法制备样品片Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪
Epsilon 4 空气质量版
US10107551B2
JP6559486B2
CN105258987B 
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
使用熔剂和铂坩埚制备用于 XRF 的样品Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪
Epsilon 4 空气质量版
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
定量 X 射线分析 - 基体厚度校正Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B 
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)
定量 X 射线分析 - 多光路仪器Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
定量 X 射线分析 - 比率校正Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
JP3936912B2用于液体 X 射线分析的带浮盖样品容器Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪
Epsilon 4 空气质量版
US9239305B2样品杯Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
US9547094B2
CN104849295B
EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2)
JP6526983B2
X 射线分析设备
Epsilon 1 系列
Epsilon 3X 光谱仪
Epsilon 4 空气质量版
US7978820B2
X 射线衍射和荧光设备Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
US7194067B2
X 射线光学系统Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
带有金属线阴极的 X 射线源Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
X 射线管阳极装置
Epsilon 1 系列*
Epsilon 3X 光谱仪*
Epsilon 4 空气质量版*
* 产品中的可选件/非标配件

落地式 XRD

专利号专利名称仪器
US6815684B2
配有固态位置灵敏 X 射线探测器的 X 射线分析设备Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
CubiX³ 系列
US6823043B2材料参数的确定
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
US6574305B2
用于检查样品状况的设备和方法Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
衍射成像Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
US7116754B2衍射仪Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
衍射仪
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
成像探测器Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)成像探测器Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
US9110003B2
CN103383363B
EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2)
JP6198406B2
微衍射
Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
CubiX³ 系列
US6704390B2
配有多层反射镜和出口准直器的 X 射线分析设备Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
US9640292B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
JP6564683B2
X 射线装置
Empyrean
X'Pert³ Powder
CubiX³ 系列
US7756248B2
JP5145263B2
CN101545873B
EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1)
包装应用中的 X 射线检测
Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
X 射线衍射和计算机层析成像Empyrean
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
用于 X 射线散射的 X 射线衍射装置
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)X 射线衍射仪Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
X 射线仪器Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列
US7194067B2
X 射线光学系统Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
X 射线遮线器装置Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
CubiX³ 系列
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
X 射线管阳极装置
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 系列*
EP3553508A2
US20190317030A1
JP2019184609A
CN110389142A
X 射线分析设备和方法Empyrean*
US10359376B2
EP3273229A1
JP6701133B2
CN107643308A
用于 X 射线分析的样品杯Empyrean*
* 产品中的可选件/非标配件

QualitySpec 7000

专利号专利名称仪器
US8164747B2
CA2667650C
EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)
用于光学和光谱测量的仪器、系统和方法QualitySpec 7000

TerraSpec Halo

专利号专利名称仪器
US9207118B2用于扫描单色器和二极管阵列光谱仪的装置、系统和方法TerraSpec Halo

QualitySpec Trek

专利号专利名称仪器
US9207118B2用于扫描单色器和二极管阵列光谱仪的装置、系统和方法QualitySpec Trek

台式 XRD

专利号专利名称仪器
US6815684B2
配有固态位置灵敏 X 射线探测器的 X 射线分析设备Aeris*
US6823043B2材料参数的确定
Aeris*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
衍射成像Aeris*
US7116754B2衍射仪Aeris*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
衍射仪Aeris*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
成像探测器Aeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)成像探测器Aeris*
US6704390B2
配有多层反射镜和出口准直器的 X 射线分析设备Aeris*
US9640292B2
JP6564572B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
X 射线装置Aeris
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
X 射线衍射和计算机层析成像Aeris*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
用于 X 射线散射的 X 射线衍射装置
Aeris*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)X 射线衍射仪Aeris*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
X 射线仪器Aeris*
US7194067B2
X 射线光学系统Aeris*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
X 射线遮线器装置Aeris
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
X 射线管阳极装置
Aeris*

* 产品中的可选件/非标配件